测头及测针组件制造技术

本发明专利技术提供了一种测头及测针组件，属于测量技术领域。测头包括第一定位件、第二定位件和第三定位件，第一定位件和第三定位件分别固定在测头的上层和下层，第三定位件的中心设有内孔，第二定位件穿设于内孔中；第一定位件的下表面设有2N个凸出件，第二定位件的上表面设有N个凸出件，第三定位件的上表面设有2N个凸出件；其中，N≥3，第三定位件与第二定位件上的凸出件之间通过第一定位件的凸出件连接。本发明专利技术提出的测头及测针组件，测头在6个维度移动均可以触发信号，测头在竖直方向上可以向里也可以向外。凸出件两两之间点接触，实现全闭环通路，极小的偏移量都会使得信号断开，从而触发信号。

Probe and probe assembly

【技术实现步骤摘要】
测头及测针组件
本专利技术涉及测量
，尤其涉及一种测头及测针组件。
技术介绍
现代机械加工中的一个重要要求是加工工件的精度，利用测头测针来提高机械加工的精度是常用的手段。测头测针主要是由测球、测杆、测柄三部分组成，测头是测量机触测被测零件的发讯开关，用来拾取信号；测针安装在测头上作为触发式传感器的执行元件。常用的测头，按结构原理可分为机械式、光学式和电气式等；而按测量方法又可分为接触式和非接触式两类。测头作为信息采集的核心部件十分重要，是工件测量尺寸的第一反馈环节。现有技术中，测头仅仅能够进行5个维度的测量，而对于Z轴(纵向)向下的方向，无法触发信号。例如，在一些复杂工件例如内沟槽、底平面或负角度等需测量时，需要纵向向外延伸测头，而Z轴(纵向)向下测头的方向无法采集数据。另一方面，现有技术中，测头测量完毕后采取弹簧结构复位，时间长有磨损和疲劳问题，会严重降低复位精度，使用寿命短。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种测头及测针组件，用以解决现有技术中的问题。为解决上述问题，本专利技术提供了：一种测头，包括第一定位件、第二定位件和第三定位件，所述第一定位件和所述第三定位件分别固定在所述测头的上层和下层，所述第三定位件的中心设有内孔，所述第二定位件穿设于所述内孔中；所述第一定位件的下表面设有2N个凸出件，所述第二定位件的上表面设有N个凸出件，所述第三定位件的上表面设有2N个凸出件；其中，N≥3，所述第三定位件与所述第二定位件上的所述凸出件之间通过所述第一定位件的所述凸出件连接。作为对上述的测头的进一步可选的方案，所述第一定位件、第二定位件和第三定位件的材质或工艺处理后均为绝缘体，所述凸出件为导体；所述凸出件为定位棒或定位球。作为对上述的测头的进一步可选的方案，所述第一定位件的下表面设有2N个互不接触的定位棒，所述第二定位件的上表面设有N个互不接触的定位球，所述第三定位件的上表面设有2N个互不接触的定位球。作为对上述的测头的进一步可选的方案，所述定位棒沿径向延伸，包括内端和外端；所述内端用于与所述第二定位件的定位球相接触，所述外端用于与所述第三定位件的定位球相接触。作为对上述的测头的进一步可选的方案，所述第一定位件、所述第二定位件和所述第三定位件分别设有容纳所述凸出件的凹槽。作为对上述的测头的进一步可选的方案，所述第一定位件和所述第三定位件上的所述凸出件两个为一组，每两组所述凸出件之间的夹角为360/N度；所述第二定位件上的每两个所述凸出件之间的夹角为360/N度。作为对上述的测头的进一步可选的方案，所述第一定位件位于所述第二定位件和所述第三定位件的正上方。作为对上述的测头的进一步可选的方案，所述测头还包括位于所述第一定位件上方的第一磁铁；所述第一定位件中心设有第一通孔，所述第一通孔内固定装配有第二磁铁；所述第一磁铁和所述第二磁铁相互排斥；所述第二定位件中心设置第三磁铁，所述第三磁铁和所述第二磁铁相互吸引。作为对上述的测头的进一步可选的方案，还包括将所述电路板与所述凸出件导通的信号柱，所述信号柱与所述第三定位件上的所述凸出件点接触。一种测针组件，所述测针组件包括测针和上述的测头，所述测针固定连接在所述测头轴心线正下方。本专利技术的有益效果是：本专利技术提出一种测头及测针组件，测头在6个维度移动均可以触发信号，测头在竖直方向上可以向里也可以向外。通过凸出件的组合两两之间点接触，实现全闭环通路，极小的偏移量都会使得信号断开，从而触发信号。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1示出了测头及测针组件的整体结构示意图；图2示出了定位棒定位球电信号连接的结构示意图；图3示出了测头及测针组件的结构爆炸图；图4示出了第三磁铁及第二定位件的结构示意图；图5示出了定位球固定座的结构示意图。主要元件符号说明：1-外壳；2-电路板；3-第一磁铁；4-固定框架；5-信号柱；6-第二磁铁；7-第一定位件；8-定位棒；9-定位球；10-第二定位件；11-第三定位件；12-密封圈；13-测针固定件；14-测针；15-第三磁铁。具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本专利技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。实施例一如图1和图3所示，为测头及测针14组件的整体结构示意图和爆炸图，测针14组件包括测头和测针14，测针14固定连接在测头轴心线正下方。在测头内部有一个有源电路，当测针14组件静止时是闭合的通路。当使用该测针14组件进行测量时，测针14上的触头在任意方向与工件(任何固体材料)表面接触，使测针14产生微小的摆动或向测头内外移动，当测针14偏离一个很小的角度本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测头，其特征在于，包括第一定位件、第二定位件和第三定位件，所述第一定位件和所述第三定位件分别固定在所述测头的上层和下层，所述第三定位件的中心设有内孔，所述第二定位件穿设于所述内孔中；/n所述第一定位件的下表面设有2N个凸出件，所述第二定位件的上表面设有N个凸出件，所述第三定位件的上表面设有2N个凸出件；其中，N≥3，所述第三定位件与所述第二定位件上的所述凸出件之间通过所述第一定位件的所述凸出件连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种测头，其特征在于，包括第一定位件、第二定位件和第三定位件，所述第一定位件和所述第三定位件分别固定在所述测头的上层和下层，所述第三定位件的中心设有内孔，所述第二定位件穿设于所述内孔中；
所述第一定位件的下表面设有2N个凸出件，所述第二定位件的上表面设有N个凸出件，所述第三定位件的上表面设有2N个凸出件；其中，N≥3，所述第三定位件与所述第二定位件上的所述凸出件之间通过所述第一定位件的所述凸出件连接。


2.根据权利要求1所述的测头，其特征在于，所述第一定位件、第二定位件和第三定位件的材质或工艺处理后均为绝缘体，所述凸出件为导体；所述凸出件为定位棒或定位球。


3.根据权利要求2所述的测头，其特征在于，所述第一定位件的下表面设有互不接触的2N个定位棒，所述第二定位件的上表面设有互不接触的N个定位球，所述第三定位件的上表面设有互不接触的2N个定位球。


4.根据权利要求3所述的测头，其特征在于，所述定位棒沿径向延伸，包括内端和外端；所述内端用于与所述第二定位件的定位球相接触，所述外端用于与所述第三定位件的定位球相接触。


5.根据权利要求1所述的测头，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：孟庆周，
申请(专利权)人：深圳市塔雷斯测量设备有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44