一种用于教学的光学综合测量平台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于教学的光学综合测量平台，包括底座与内盘结构、光源结构以及显像结构；所述底座与内盘结构包括底座转轴机构、内转盘机构和载物台机构，所述底座转轴机构包括底座及调平旋钮(1)和中间转轴(12)，所述内转盘机构包括第二转臂内盘(13)，所述载物台机构包括可拆卸载物台(8)；所述光源结构包括可拆卸式光源(2)和第一转臂(3)；所述显像结构包括可拆卸式探头或像屏(4)和第二转臂(5)。本实用新型专利技术的平台，其采用可拆卸式激光器来模拟“X光”，光源结构发射可见光，穿过安放在底座与内盘结构上的待测样品，最后将可见光投射到显像结构，通过分析显像结构上的图像形状，从而分析出待测样品的内部结构。

An optical comprehensive measurement platform for teaching

【技术实现步骤摘要】
一种用于教学的光学综合测量平台
本技术的实施例属于实验教学仪器领域，更具体地，涉及一种用于教学的光学综合测量平台。
技术介绍
1912年德国物理学家劳厄提出一个重要的科学预见：晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即当一束X射线通过晶体时将发生衍射，衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强，在其他方向上减弱。分析在照相底片上得到的衍射花样，便可确定晶体结构，这一预见随即为实验所验证。X射线衍射是近代物理的一个重要的实验，是探究微观结构的一种途径。但是由于X射线衍射仪仪器昂贵，且射线对身体有危害，在常规物理实验教学中我们通常很难实现。
技术实现思路
针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本技术提供一种用于教学的光学综合测量平台，其采用可拆卸式激光器来模拟“X光”，光源结构发射可见光，穿过安放在底座与内盘结构上的待测样品，最后将可见光投射到显像结构，通过分析显像结构上的图像形状，从而分析出待测样品的内部结构，通过激光在立体晶格上的衍射实现了X射线衍射实验的模拟,让高精尖的科研仪器走进基础物理实验教学，将看不见的微观结构变成看得见本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于教学的光学综合测量平台，其特征在于，包括底座与内盘结构、设于该底座与内盘结构一侧的光源结构，以及设于该底座与内盘结构另一侧的显像结构；/n所述底座与内盘结构包括底座转轴机构、内转盘机构和载物台机构，其中，所述底座转轴机构包括底座及调平旋钮(1)和设于该底座及调平旋钮(1)上的中间转轴(12)，所述内转盘机构包括第二转臂内盘(13)，该第二转臂内盘(13)套设于所述中间转轴(12)上，所述载物台机构包括设于所述中间转轴(12)顶部的可拆卸载物台(8)；/n所述光源结构包括可拆卸式光源(2)和第一转臂(3)，所述可拆卸式光源(2)通过第一转臂(3)与所述底座及调平旋钮(1)连接；/n所...

【技术特征摘要】
1.一种用于教学的光学综合测量平台，其特征在于，包括底座与内盘结构、设于该底座与内盘结构一侧的光源结构，以及设于该底座与内盘结构另一侧的显像结构；
所述底座与内盘结构包括底座转轴机构、内转盘机构和载物台机构，其中，所述底座转轴机构包括底座及调平旋钮(1)和设于该底座及调平旋钮(1)上的中间转轴(12)，所述内转盘机构包括第二转臂内盘(13)，该第二转臂内盘(13)套设于所述中间转轴(12)上，所述载物台机构包括设于所述中间转轴(12)顶部的可拆卸载物台(8)；
所述光源结构包括可拆卸式光源(2)和第一转臂(3)，所述可拆卸式光源(2)通过第一转臂(3)与所述底座及调平旋钮(1)连接；
所述显像结构包括可拆卸式探头或像屏(4)和第二转臂(5)，所述可拆卸式探头或像屏(4)通过所述第二转臂(5)与所述第二转臂内盘(13)固定连接。


2.根据权利要求1所述的一种用于教学的光学综合测量平台，其特征在于，所述中间转轴(12)为三级阶梯轴，自下而上分别为一级阶梯轴、二级阶梯轴和三级阶梯轴，一级阶梯轴直径最大，三级阶梯轴直径最小；一级阶梯轴最下端与底座及调平旋钮(1)上端面上圆形凹槽固定连接，所述二级阶梯轴安装有一块半圆形挡板。


3.根据权利要求1所述的一种用于教学的光学综合测量平台，其特征在于，所述内转盘机构包括刻度值(6)和内盘读数装置(7)，所述刻度值(6)呈环状设于所述内盘读数装置(7)外圆环部分。


4.根据权利要求1或3所述的一种用于教学的光学综合测量平台，其特征在于，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：熊永红，丁浩，朱鸿亮，陶薇，
申请(专利权)人：武汉市精诺鸿科技有限公司，
类型：新型
国别省市：湖北;42