一种芯片检测、包装的生产系统及其电性测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种芯片检测、包装的生产系统及其电性测试装置，涉及芯片制造技术领域，包括机架、入料组件和检测组件，入料组件包括进料机构和取料台，进料机构设于机架用以使芯片逐一进入取料台，取料台安装于机架用以放置芯片待取；检测组件包括电性检测夹具和转运机构，电性检测夹具设于取料台后的机架上用以接收取料台取出的芯片并进行电性测试；转运机构安装于机架，转运机构包括用以将取料台内的芯片向电性检测夹具内转运的第一吸嘴和用以将电性检测夹具内的芯片转运至不良品收集机构或良品转运机构的第二吸嘴，本实用新型专利技术设计合理，入料组件配合转运机构使用，有效的减少了人工投入，避免检测漏失。

A production system for chip detection and packaging and its electrical testing device

【技术实现步骤摘要】
一种芯片检测、包装的生产系统及其电性测试装置
本技术涉及芯片制造
，具体而言，涉及一种芯片检测、包装的生产系统及其电性测试装置。
技术介绍
SMD(SurfaceMountedDevices的缩写)，即表面贴装器件，主要有矩形片式物料、圆柱形片式物料、复合片式物料、异形片式物料。针对矩形片式的表面贴装器件，需要在生产完成后对成品的各项规格参数进行检测，在检测合格后，通过包装机等包装设备，将产品包装，即完成整个电子产品的生产工作。其中对芯片的电性的检测主要依靠人工进行逐一检测，检测效率低下，且容易导致漏失，品质异常因素难以管控。
技术实现思路
本技术的第一个目的在于提供一种芯片电性测试装置，其采用入料组件和转运机构配合，对芯片进行逐一转运，使得芯片逐一进行检测，有效的减少了人工的投入，避免检测漏失。本技术的第二个目的在于提供一种芯片检测、包装的生产系统，其采用上述的芯片电性测试装置，有效的保证了产品品质的优良性和稳定性。本技术的实施例是这样实现的：一种芯片电性测试装置,包括机架，所述机架安装于本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片电性测试装置,其特征在于：包括/n机架(21)，所述机架(21)安装于工作平台；/n入料组件(22)，所述入料组件(22)包括进料机构(221)和取料台(222)，所述进料机构(221)设于所述机架(21)用以使芯片逐一进入所述取料台(222)，取料台(222)安装于机架(21)用以放置芯片待取；/n检测组件(23)，所述检测组件(23)包括第一检测机构，所述第一检测机构包括电性检测夹具(231)和转运机构(232)，所述电性检测夹具(231)设于取料台(222)后的机架(21)上用以接收取料台(222)取出的芯片并进行电性测试；所述转运机构(232)安装于所述机架(21)，转运机...

【技术特征摘要】
1.一种芯片电性测试装置,其特征在于：包括
机架(21)，所述机架(21)安装于工作平台；
入料组件(22)，所述入料组件(22)包括进料机构(221)和取料台(222)，所述进料机构(221)设于所述机架(21)用以使芯片逐一进入所述取料台(222)，取料台(222)安装于机架(21)用以放置芯片待取；
检测组件(23)，所述检测组件(23)包括第一检测机构，所述第一检测机构包括电性检测夹具(231)和转运机构(232)，所述电性检测夹具(231)设于取料台(222)后的机架(21)上用以接收取料台(222)取出的芯片并进行电性测试；所述转运机构(232)安装于所述机架(21)，转运机构(232)包括用以将取料台(222)内的芯片向电性检测夹具(231)内转运的第一吸嘴(2321)和用以将电性检测夹具(231)内的芯片转运至不良品收集机构(25)或良品转运机构(24)的第二吸嘴(2322)。


2.根据权利要求1所述的芯片电性测试装置，其特征在于：所述进料机构(221)包括推出台(2211)；所述推出台(2211)设有X轴料道(2211a)和Y轴料道(2211b)，所述X轴料道(2211a)一端连通所述Y轴料道(2211b)一端，
所述X轴料道(2211a)另一端连通用以运送芯片的入料输送带(2212)用以接收芯片，所述入料输送带(2212)垂直于X轴料道(2211a)，X轴料道(2211a)内设有可沿X轴料道(2211a)延伸方向滑动的用以将芯片推入Y轴料道(2211b)的第一推料片(2211c)，所述第一推料片(2211c)连接于第一推料气缸(2211d)，所述第一推料气缸(2211d)固定于所述机架(21)；
所述Y轴料道(2211b)另一端连通所述取料台(222)，Y轴料道(2211b)内设有可沿Y轴料道(2211b)延伸方向滑动的用以将芯片推入取料台(222)的第二推料片(2211e)，所述第二推料片(2211e)连接于第二推料气缸(2211f)，所述第二推料气缸(2211f)固定于所述机架(21)。


3.根据权利要求1所述的芯片电性测试装置，其特征在于：所述电性检测夹具(231)与取料台(222)处于同一直线上；所述转运机构(232)包括固定板(2323)、拨块(2324)和竖杆(2325)，所述固定板(2323)设有用以作为所述竖杆(2325)移动预设轨道的∏形滑槽(2323a)，竖杆(2325)上端设有与所述∏形滑槽(2323a)配合的滑块(2325a)，所述第一吸嘴(2321)和第二吸嘴(2322)分别设于竖杆(2325)的下端，所述拨块(2324)可往复转动的连接于固定板(2323)用以拨动滑块(2325a)在滑槽内滑动、来实现芯片的转运。


4.根据权利要求3所述的芯片电性测试装置，其特征在于：所述转运机构(232)还包括用以保持竖杆(2325)竖直的保持块(2326)，所述保持块(2326)可沿水平方向滑动的连接于...

【专利技术属性】
技术研发人员：豆宏春，刘军，王强，
申请(专利权)人：绵阳高新区鸿强科技有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51