提供形成包括金属组件的电子零件的方法。该方法包括从矿场获得未校验的矿物样品，经由定量矿物学分析对所述未校验的矿物样品进行分析、并且将所述未校验的矿物样品的在所述定量矿物学分析期间收集的数据与如下数据库中的数据进行比对以确定所述未校验的矿物样品是否源于来自无冲突地理区域的一个或多个矿场：其与对于源于来自无冲突地理区域的一个或多个矿场的经校验的矿物样品所收集的定量矿物学分析对应。如果未校验的矿物样品被确定为源于所述来自无冲突地理区域的一个或多个矿场，那么所述方法包括将未校验的样品转变为金属组件。所述电子零件可为电容器、医疗器件、过滤器、感应器、有源电极、天线、传感器或电池。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】包括源于无冲突矿场的金属组件的电子零件及其形成方法相关申请的交叉引用本申请要求申请日为2017年9月21的序列号62/561,245的美国临时申请的权益，为了所有意图将该美国临时申请通过引用特此并入。专利技术背景冲突资源为在称为“冲突区”的地理区域中发现并且通常为了资助武装冲突和内战而销售的天然资源(即，在没有人类活动的情况下存在的资源)。冲突资源的一种实例为冲突矿物。冲突矿物可包括金属例如金、锡和钨。可在冲突区域中开采并且制造商可能想要监测它们的地理来源的其它金属包括钴和铜。为了使冲突延续而一直开采和销售冲突矿物的一个特定区域为刚果民主共和国(DRC)。多德-弗兰克华尔街改革和消费者保护法(Dodd-FrankWallStreetReformandConsumerProtectionAct)于2010年在美国签署成为法律并要求美国和某些国外公司报告它们在它们产品中使用来自DRC及其周边国家(例如安哥拉、布隆迪、中非共和国、刚果共和国、卢旺达、苏丹、坦桑尼亚、乌干达和赞比亚)的冲突矿物并使其公之于众(曝光)。类似的法律在欧洲已经通过，但其延伸至所有国家而非仅DRC和邻边国家。美国冲突矿产法要求独立的第三方的供应链跟踪性审计并将审计结果报告给公众以及证券和交易委员会。为了符合所述审计和报告要求并确保公司在其产品中未使用冲突矿物，用于识别矿物的地理来源(例如其所源自的一个或多个矿场)以确保其是无冲突矿物的准确可靠的方法在如下工艺中作为第一步骤将是可用的：其涉及制造包括在冲突地理区域中普遍存在的材料的各种产品或识别特定矿物的来源(一般而言，其是否来自冲突地理区域)。因为很多电子零件例如电容器(例如固体电解质、湿电解质和陶瓷电容器)、医疗器件、过滤器、感应器、有源电极、天线、传感器、锂电池、可再充电池等包括金属组件例如引线、镀层、导电性胶粘剂或浆料、引线框架、端子、引脚、接线、钎料、线圈等，其中存在这样的金属一直源于发生冲突的地理区域的风险，所以对于这样的电子零件及其制造方法存在需要：制造商能保证所述电子零件中包含的金属组件的一个或多个源于无冲突矿场。
技术实现思路
按照本专利技术的一个实施方式，公开了包含金属组件的电子零件的形成方法，其包括：从矿场获得未校验(核实)的矿物样品，和经由定量矿物学分析对未校验的矿物样品进行分析并且将所述未校验的矿物样品的在所述定量矿物学分析期间收集的数据与如下数据库中的数据进行比对，以确定所述未校验的矿物样品源于来自所述无冲突地理区域的一个或多个矿场：其对应于对源于来自无冲突地理区域的一个或多个矿场的经校验的矿物样品所收集的定量矿物学分析。进一步地，如果所述未校验的矿物样品被确定为源于来自无冲突地理区域的矿场的一个或多个，那么将所述未校验的矿物样品转变成金属组件。按照本专利技术的另一个实施方式，公开了包含金属组件的电子零件，其中金属组件包括金属，其中通过如下识别所述金属源于来自无冲突地理区域的一个或多个矿场：经由定量矿物学分析对获得所述金属的未校验的矿物样品进行分析，并且将所述未校验的矿物样品的在所述定量矿物学分析期间收集的数据与如下数据库中的数据进行比对，以确定所述未校验的矿物样品源于来自所述无冲突地理区域的一个或多个矿场：其对应于对源于来自无冲突地理区域的一个或多个矿场的经校验的矿物样品所收集的定量矿物学分析。下面更详细地描述本专利技术的其它特征和方面。附图说明本专利技术的包括其最佳模式在内的对于本领域技术人员而言完整且能够实施的披露在说明书的剩余部分(其包括对附图的参照)中更具体地阐述，在图中：图1为说明用于确定矿物样品的地理来源的方法的框图；图2为在确定矿物样品的地理来源中使用的系统的框图；图3为按照本专利技术可形成的固体电解质电容器的一个实施方式的示意性图示；和图4为按照本专利技术可形成的湿电解质电容器的示意性部件分解图；和图5为按照本专利技术可形成的陶瓷电容器的一个实施方式的示意性图示；本说明书和图中的符号的重复使用旨在代表本专利技术的相同或相似的特征或元素。具体实施方式本领域普通技术人员应理解，本讨论仅为示例性实施方式的描述，并且不希望限制本专利技术的更宽方面。总的来说，本专利技术涉及包括金属组件(例如引线、镀层、导电性浆料或胶粘剂、引线框架、端子、引脚、接线、钎料、线圈等)的电子零件(例如电容器(例如固体电解质电容器或湿电解质电容器)、医疗器件、过滤器、感应器、有源电极、天线、传感器等)及其形成方法，其中金属组件包含源于无冲突矿场的金属。所述方法包括，从矿场获得未校验的矿物样品(例如尚未被熔融成纯金属的矿石精矿)，和经由定量矿物学分析对未校验的矿物样品进行分析并且将所述未校验的矿物样品的在所述定量矿物学分析期间收集的数据与如下数据库中的数据进行比对，以确定所述未校验的矿物样品源于来自所述无冲突地理区域的一个或多个矿场：其对应于对源于来自无冲突地理区域的一个或多个矿场的经校验的矿物样品所收集的定量矿物学分析。对未校验的矿物样品进行分析可包括，对所述样品进行自动矿物学测试、识别晶粒用于附加的测试、和对经识别的晶粒执行电子微探针分析和激光烧蚀电感耦合等离子体质谱分析。如果未校验的矿物样品被确定为源于来自无冲突地理区域的一个或多个矿场，那么所述方法包括将从该未校验的矿物样品获得的金属转变成电子零件的金属组件，其中所述金属可包括金、钴、铜、锡、钨、锂、或其组合。应理解，本文中描述的矿物确定方法基于如下事实：地质单元(geologicalunit)、地理区域、和甚至在地理区域内的具体矿场因它们独特的地质特征而彼此区分。例如，在钽矿物的组成方面的区域性和地方(局部，local)差异反映形成条件、地质环境(例如主岩)和主伟晶岩的侵位(安置就位，emplacement)年代。这些因素影响具体矿物的存在以及它们的基本且详细的特征、主要和次要元素的富集、及其它矿物学和地球化学特点的存在与否。具体而言，在使用从矿物样品获得的金属来形成电子零件的组件之前，本专利技术人已经开发出用于确定从供应商接收的所声称的无冲突金属(例如，经由矿物确定方法已经独立地验证并声称遵守无冲突的金属)实际上是否源于无冲突矿场的方法学。还应理解，该方法学可用于出于风险缓解意图而比较样品以确定从供应商接收的样品是否源于位于已获电子零件制造商批准的地理区域中的矿场，其中如果收到异常样品(无法与数据库中经批准或经校验的样品的任意者匹配的样品)，则这样的信息可用于探究性意图。所述方法的一般描述在图1中示出。转向图1，由无冲突金属形成电子零件的金属组件的方法100包括首先从矿场获得未校验的样品(即，尚未被校验为无冲突的样品)，其中所述样品可已经独立地由另一方验证或描述为无冲突(步骤101)。所述样品在矿场处作为重矿物的经淘洗的精矿直接被自收集，以对所述样品的来源有把握并在实施任意进一步加工之前收集所述样品以保存完整的重矿物共生。接着，在步骤102中，将所述样品的截面形成为具有约25毫米(mm)直径的经抛光的环氧截面，其然后被涂覆有具有约10纳米(nm本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.形成电子零件的方法，该电子零件包括金属组件，所述方法包括：/n从矿场获得未校验的矿物样品；/n经由定量矿物学分析对未校验的矿物样品进行分析，并且将所述未校验的矿物样品的在所述定量矿物学分析期间收集的数据与如下数据库中的数据进行比对以确定所述未校验的矿物样品是否源于来自无冲突地理区域的一个或多个矿场：其与对源于来自无冲突地理区域的一个或多个矿场的经校验的矿物样品所收集的定量矿物学分析对应；和/n如果所述未校验的矿物样品被确定为源于来自所述无冲突地理区域的一个或多个矿场，则将所述未校验的矿物样品转变为所述金属组件。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170921 US 62/561,2451.形成电子零件的方法，该电子零件包括金属组件，所述方法包括：
从矿场获得未校验的矿物样品；
经由定量矿物学分析对未校验的矿物样品进行分析，并且将所述未校验的矿物样品的在所述定量矿物学分析期间收集的数据与如下数据库中的数据进行比对以确定所述未校验的矿物样品是否源于来自无冲突地理区域的一个或多个矿场：其与对源于来自无冲突地理区域的一个或多个矿场的经校验的矿物样品所收集的定量矿物学分析对应；和
如果所述未校验的矿物样品被确定为源于来自所述无冲突地理区域的一个或多个矿场，则将所述未校验的矿物样品转变为所述金属组件。
2.如权利要求1所述的方法，其进一步包括如果无法确定所述矿物样品源于来自所述无冲突地理区域的一个或多个矿场，则拒收所述未校验的矿物样品。
3.如权利要求1所述的方法，其中所述无冲突地理区域不包括刚果民主共和国、安哥拉、布隆迪、中非共和国、刚果共和国、卢旺达、苏丹、坦桑尼亚、乌干达和赞比亚。
4.如权利要求1所述的方法，其中经由定量矿物学分析对所述未校验的矿物样品进行分析包括，将所述未校验的矿物样品抛光以使所述未校验的矿物样品中存在的晶粒的内部露出。
5.如权利要求4所述的方法，其进一步包括对所述未校验的矿物样品进行自动矿物学测试。
6.如权利要求5所述的方法，其进一步包括基于在自动矿物学测试期间获得的数据，识别晶粒用于附加的测试。
7.如权利要求6所述的方法，其进一步包括对经识别的晶粒执行电子微探针分析(EMPA)。
8.如权利要求7所述的方法，其进一步包括对经识别的晶粒执行激光烧蚀电感耦合等离子体质谱分析(LA-ICP-MS)。
9.如权利要求8所述的方法，其中如果对于所述未校验的矿物样品在自动矿物学测试、EMPA和LA-ICP-MS期间收集的数据基本上匹配于对于源于来自所述无冲突地理区域的一个或多个矿场的经校验的矿物样品之一在自动矿物学测试、EMPA和LA-ICP-MS期间收集的数据，则所述未校验...
【专利技术属性】
技术研发人员：WA米尔曼，J卢恩，
申请(专利权)人：阿维科斯公司，
类型：发明
国别省市：美国;US
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