光纤陀螺多组件测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种光纤陀螺多组件测试系统，包括至少一个2×2耦合器、Y波导、探测器、主控电路，耦合器的输入一端连接光源，耦合器的输入二端连接探测器，耦合器的输出一端连接Y波导的一端，耦合器的输出二端为尾纤C，Y波导的另一端为尾纤A和尾纤B。本发明专利技术测试系统实现了对不同组件测试时，不同光路损耗下，探测器信号在最佳附近；解决不同种类的待测组件所需光路和电路不一致的问题，通过对光路和电路进行设计，实现了对多种光纤陀螺组件的测试目的。

Multi component test system of fog

【技术实现步骤摘要】
光纤陀螺多组件测试系统
本专利技术属于光纤环组件模块的温度性能测试
，尤其涉及一种光纤陀螺多组件测试系统。
技术介绍
现有技术中，对光纤环组件等模块进行温度性能测试时，主要是将陀螺测试和光纤环测试(适应各种尺寸的光纤环)相结合，而不能对多种组件进行测试，不同种类的待测组件所需光路和电路不一致，并且测量精度有待于提高。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是，提供一种光纤陀螺多组件测试系统，针对不同类型的光纤陀螺组件测试需求，根据实际情况与待测组件熔接、连接，并调整适当光功率，实现光纤陀螺组件的测量。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种光纤陀螺多组件测试系统，包括至少一个2×2耦合器、Y波导、探测器、主控电路，耦合器的输入一端连接光源，耦合器的输入二端连接探测器，耦合器的输出一端连接Y波导的一端，耦合器的输出二端为尾纤C，Y波导的另一端为尾纤A和尾纤B。按上述技术方案，主控电路包含可调驱动电流及温控电路、探测器信号检测电路、闭环反馈信号电路、信号处理、控制及输出电路。按上述技术方案，光纤环尾纤与Y波导尾纤A和B相熔接，调整光源可调驱动电流，闭环反馈信号加载到系统内部Y波导上，光纤环放置于温箱中。按上述技术方案，待测组件包括Y波导与光纤环，该Y波导尾纤与系统耦合器尾纤C相熔接，调整光源可调驱动电流，闭环反馈信号加载到组件的Y波导电极上，待测组件中的Y波导与光纤环尾纤两两连接。按上述技术方案，待测组件包括光纤环、Y波导、待测耦合器，待测耦合器的一端与待测Y波导的一端连接，待测Y波导的另外2端与光纤环尾纤两两连接，待测耦合器的另外2端分别与系统耦合器尾纤C第二探测器的尾纤D相熔接，调整光源可调驱动电流，闭环反馈信号加载到待测组件Y波导电极，待测组件放置于温箱中。按上述技术方案，光源为SLD或ASE光源。本专利技术方案解决的技术问题是：首先解决光源功率光功率匹配问题：通过高精度DAC芯片输出可控电压来调整光源驱动电流，实现光源光功率可调。通过调整光源驱动电流，得到合适的光功率，实现对不同组件测试时，不同光路损耗下，探测器信号在最佳附近；其次解决不同待测组件光路、电路兼容问题：解决了不同种类的待测组件所需光路和电路不一致的问题，通过对光路和电路进行设计，实现了对多种光纤陀螺组件的测试目的。本专利技术产生的有益效果是：1)具备光源温控及驱动电流可调功能，系统可根据待测件实际损耗情况，调整合适光功率，使系统测试多种待测组件；2)具备多种待测组件温度测试功能，待测件可以为：“光纤环”、“光纤环+Y波导”组件和“光纤环+Y波导+耦合器”组件；3)具备两路信号检测电路，可根据待测件不同，选用其中之一检测电路进行待测件测试；4)实现两路、三路甚至更多的测量通道的组合系统。附图说明下面将结合附图及实施例对本专利技术作进一步说明，附图中：图1是本专利技术实施例光纤陀螺多组件测试系统示意图；图2是本专利技术实施例中光纤环组件测试连接示意图；图3是本专利技术实施例中光纤环+Y波导组件测试连接示意图；图4是本专利技术实施例中光纤环+Y波导+耦合器组件测试连接示意图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。如图1所示，本专利技术实施例中，提供一种光纤陀螺多组件测试系统，光源为SLD或ASE光源，包括一个2×2耦合器、Y波导、探测器、、主控电路以及上位机。主控电路包含可调驱动电流及温控电路、探测器信号检测电路、闭环反馈信号电路、信号处理、控制及输出。将Y波导尾纤A和B，耦合器尾纤C、探测器尾纤D引出至系统外时：1)当待测件为光纤环时，将光纤环尾纤与Y波导尾纤A和B相熔接，调整合适的光源驱动电流，闭环反馈信号加载到系统内部Y波导上。光纤环放置于试验平台或环境中，本测试系统即实现了对光纤环的测试，见附图2。2)当待测件为“光纤环+YY波导”组件时，将待测组件的Y波导尾纤与系统耦合器尾纤C相熔接，调整适当光源驱动电流，同时将闭环反馈信号加载到组件的Y波导电极上，待测组件放置于试验平台或环境中，本测试系统即实现了对“光纤环+Y波导”组件的测试，见附图3。3)当待测件为“光纤环+Y波导+耦合器”组件时，将待测组件耦合器之一尾纤与系统耦合器尾纤C熔接，将待测组件耦合器另一尾纤与探测器尾纤D相熔接，调整适当光源驱动电流，闭环反馈信号加载到待测组件Y波导(外部波导)电极后，待测组件放置于试验平台或环境中，本测试系统即实现了对“光纤环+Y波导+耦合器”组件的测试，见附图4。应当理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，而所有这些改进和变换都应属于本专利技术所附权利要求的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光纤陀螺多组件测试系统，其特征在于，包括至少一个2×2耦合器、Y波导、探测器、主控电路，耦合器的输入一端连接光源，耦合器的输入二端连接探测器，耦合器的输出一端连接Y波导的一端，耦合器的输出二端为尾纤C，Y波导的另一端为尾纤A和尾纤B。/n

【技术特征摘要】
1.一种光纤陀螺多组件测试系统，其特征在于，包括至少一个2×2耦合器、Y波导、探测器、主控电路，耦合器的输入一端连接光源，耦合器的输入二端连接探测器，耦合器的输出一端连接Y波导的一端，耦合器的输出二端为尾纤C，Y波导的另一端为尾纤A和尾纤B。


2.根据权利要求1所述的光纤陀螺多组件测试系统，其特征在于，主控电路包含可调驱动电流及温控电路、探测器信号检测电路、闭环反馈信号电路、信号处理、控制及输出电路。


3.根据权利要求1或2所述的光纤陀螺多组件测试系统，其特征在于，光纤环尾纤与Y波导尾纤A和B相熔接，调整光源可调驱动电流，闭环反馈信号加载到系统内部Y波导上，光纤环放置于温箱中。


4.根据权利要求1或2所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐知芳，卜兴华，袁曚，方阳，袁磊，廉正刚，皮亚斌，
申请(专利权)人：武汉长盈通光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42