一种GPU内存压力测试方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种GPU内存压力测试方法及装置，产生并发测试进程总数numT；先运行一个压力测试进程，待测试完成后，再并行运行两个压力测试进程，以此类推，直至并行运行numT个压力测试进程；每个压力测试进程以一预设加压数值进行测试。本发明专利技术通过task多进程并发任务，实现对GPU任意加压值之间的的高低频加压测试，用以对GPU进行高低频次的访问时GPU的稳定性的判断。

A test method and device of GPU memory pressure

【技术实现步骤摘要】
一种GPU内存压力测试方法及装置
本专利技术涉及GPU测试领域，具体涉及一种GPU内存压力测试方法及装置。
技术介绍
伴随互联网技术和人工智能的发展，GPU的应用也越来越广泛。GPU卡的高速计算能力在发展过程中凸显出越来越重要的作用。因此，对GPU产品在使用中的性能、稳定性状态的要求也越来越高，这势必要求GPU卡的研发和测试过程中要越来越严谨。现有的GPU压力测试一般将GPU加压至某一状态后，进行持续长时间的加压测试，例如，将GPU加压至90％，一直在此状态下加压12h-48h,以此来判断GPU的稳定性状态。但是在GPU的实际使用中，不可能一直持续对GPU进行访问与释放，但现有测试无法判断对GPU进行高低频次的访问时GPU的稳定性。
技术实现思路
为解决上述问题，本专利技术提供一种GPU内存压力测试方法及装置，实现对GPU高低频次访问、释放的压力测试，验证高低频次访问GPU时的稳定性。本专利技术的技术方案是：一种GPU内存压力测试方法，包括以下步骤：S1，产生并发测试进程总数numT；S2，先本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种GPU内存压力测试方法，其特征在于，包括以下步骤：/nS1，产生并发测试进程总数numT；/nS2，先运行一个压力测试进程，待测试完成后，再并行运行两个压力测试进程，以此类推，直至并行运行numT个压力测试进程；每个压力测试进程以一预设加压数值进行测试。/n

【技术特征摘要】
1.一种GPU内存压力测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1，产生并发测试进程总数numT；
S2，先运行一个压力测试进程，待测试完成后，再并行运行两个压力测试进程，以此类推，直至并行运行numT个压力测试进程；每个压力测试进程以一预设加压数值进行测试。


2.根据权利要求1所述的GPU内存压力测试方法，其特征在于，步骤S1具体为：
S11，以一定加压数值进行基础压力测试；
S12，获取系统后台进行压力测试的malloc进程总数num；
S13，根据所获取malloc进程总数num产生并发进程总数numT。


3.根据权利要求2所述的GPU内存压力测试方法，其特征在于，所述步骤S11具体为：
S11-1，产生一个随机数n；
S11-2，将随机数n传递给压力测试工具；
S11-3，压力测试工具GPU内存加压到n％进行基础压力测试。


4.根据权利要求2或3所述的GPU内存压力测试方法，其特征在于，步骤S13所产生并发进程总数numT为60减去malloc进程总数num。


5.根据权利要求2或3所述的GPU内存压力测试方法，其特征在于，步骤S2中并行运行numT个压力测试进程完成后，返回步骤S1，重复步骤S1和S2。


6.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭淑珍，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32