数据处理方法及装置制造方法及图纸

技术编号:24497374 阅读:32 留言:0更新日期:2020-06-13 03:34
本公开涉及一种数据处理方法及装置。该装置包括:主控芯片,在确定装置的多个处理芯片的温度值处于第一温度区间内、且工作在初始频率下时,将多个处理芯片的工作频率提高到第一预设频率;控制多个处理芯片分别进行处理功能测试,并在确定多个处理芯片在第一预设频率下的处理状态正确时,将工作频率提高到下一个预设频率;在多个处理芯片在第M个预设频率下的处理状态错误、且在第M‑1个预设频率下的处理状态正确时,将第M‑1个预设频率确定为目标工作频率。本公开实施例所提供方法及装置,可以快速地确定多个处理芯片在第一温度区间内的目标工作频率,并使得多个处理芯片能在第一温度区间内按照目标工作频率正确、稳定的运行。

Data processing method and device

【技术实现步骤摘要】
数据处理方法及装置
本公开涉及电子
,尤其涉及一种数据处理方法及装置。
技术介绍
随着电子技术及计算机技术的不断发展,单个处理芯片的运算能力已经无法满足日益增长的运算需求。在相关技术中,可以将多个处理芯片级联在一起,以满足运算需求。但由于将多个处理芯片级联在一起,如何控制多个处理芯片能够正确、稳定、高效的运行成为亟待解决的问题。
技术实现思路
根据本公开的一方面,提供了一种数据处理装置,所述装置包括:级联的多个处理芯片,每个处理芯片包括多个处理单元;主控芯片,连接到所述多个处理芯片,所述主控芯片被配置为:在所述多个处理芯片的温度值处于预设的第一温度区间内、且工作在初始频率下时,将所述多个处理芯片的工作频率提高到第一预设频率,所述第一预设频率是多个预设频率中的第一个;控制所述多个处理芯片分别进行处理功能测试,确定多个处理芯片在所述第一预设频率下的处理状态;在所述多个处理芯片在所述第一预设频率下的处理状态正确时,将所述多个处理芯片的工作频率提高到下一个预设频率;<br>在所述多个处理本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种数据处理装置,其特征在于,所述装置包括:/n级联的多个处理芯片,每个处理芯片包括多个处理单元;/n主控芯片,连接到所述多个处理芯片,所述主控芯片被配置为:/n在所述多个处理芯片的温度值处于预设的第一温度区间内、且工作在初始频率下时,将所述多个处理芯片的工作频率提高到第一预设频率,所述第一预设频率是多个预设频率中的第一个;/n控制所述多个处理芯片分别进行处理功能测试,确定多个处理芯片在所述第一预设频率下的处理状态;/n在所述多个处理芯片在所述第一预设频率下的处理状态正确时,将所述多个处理芯片的工作频率提高到下一个预设频率;/n在所述多个处理芯片在第M个预设频率下的处理状态错误、且在第M-...

【技术特征摘要】
1.一种数据处理装置,其特征在于,所述装置包括:
级联的多个处理芯片,每个处理芯片包括多个处理单元;
主控芯片,连接到所述多个处理芯片,所述主控芯片被配置为:
在所述多个处理芯片的温度值处于预设的第一温度区间内、且工作在初始频率下时,将所述多个处理芯片的工作频率提高到第一预设频率,所述第一预设频率是多个预设频率中的第一个;
控制所述多个处理芯片分别进行处理功能测试,确定多个处理芯片在所述第一预设频率下的处理状态;
在所述多个处理芯片在所述第一预设频率下的处理状态正确时,将所述多个处理芯片的工作频率提高到下一个预设频率;
在所述多个处理芯片在第M个预设频率下的处理状态错误、且在第M-1个预设频率下的处理状态正确时,将第M-1个预设频率确定为所述多个处理芯片的目标工作频率,
其中,M为大于1的整数。


2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述主控芯片控制所述多个处理芯片分别进行处理功能测试,确定多个处理芯片在所述第一预设频率下的处理状态,包括:
向所述多个处理芯片发送测试指令,所述测试指令用于指示所述多个处理芯片进行处理功能测试;
获取各个处理芯片响应于所述测试指令所返回的功能报告;
根据多个处理芯片的功能报告,确定所述多个处理芯片在所述第一预设频率下的处理状态。


3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,每个处理芯片还包括数据检查单元,所述多个处理芯片中的任意一个处理芯片被配置为:
在接收到所述测试指令时,向所述多个处理单元发送测试数据,以使所述多个处理单元对所述测试数据进行运算;
获取所述多个处理单元的运算结果;
通过所述数据检查单元对所述多个处理单元的运算结果进行检查,得到所述功能报告;
向所述主控芯片发送所述功能报告。


4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述主控芯片控制所述多个处理芯片分别进行处理功能测试,确定多个处理芯片在所述第一预设频率下的处理状态,包括:
向所述多个处理芯片发送测试数据,以使各个处理芯片的多个处理单元对所述测试数据进行运算;
获取各个处理芯片对所述测试数据进行运算所得到的运算结果;
对所述多个处理芯片的运算结果进行分析,确定所述多个处理芯片在所述第一预设频率下的处理状态。


5.根据权利要求1所述的装置,其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员:李振中葛维唐平胡均浩石玲宁
申请(专利权)人:锐迪科重庆微电子科技有限公司
类型:发明
国别省市:重庆;50

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