管脚复用的测试修调系统、方法、计算机设备和存储介质技术方案

本申请涉及一种管脚复用的测试修调系统、方法、计算机设备和存储介质，复用管脚外加脉冲信号时，芯片即进入测试修调模式，模式选择模块输入脉冲信号并输出时钟信号给通道选择模块；通道选择模块根据时钟信号输出通道选择信号给测试模块和修调模块，用于确定测试通道和修调通道；在复用管脚悬空的情况下，测试模块根据测试通道获取并输出待测试参数项至复用管脚；根据测试结果，在与修调通道对应的修调位需要修调的情况下，通过复用管脚输入修调指示信号对该修调位进行烧写；实现了一个复用管脚进行模式选择、测试和修调通道选择、测试参数项的输出和熔丝修调烧写的控制，降低了芯片的成本的同时也提高了芯片封装后的测试修调的方便性和准确率。

Pin reuse test and repair system, method, computer equipment and storage medium

【技术实现步骤摘要】
管脚复用的测试修调系统、方法、计算机设备和存储介质
本申请涉及芯片
，特别是涉及一种管脚复用的测试修调系统、方法、计算机设备和存储介质。
技术介绍
高精度输出的芯片，通常需要在晶圆生产出来后对关键的参数进行精确的修调。修调是根据测试到的参数初始值，选择并固化芯片设计时内置的多个选项之一，使待测试参数满足规范的需求。修调通常是在封装前的晶圆测试过程中进行，但该测试和修调需要使用昂贵的测试机台，需要花费较长时间进行测试和参数修调，成本较高；其次修调后的晶圆在封装时，由于晶圆的减薄、划片、键合和封装等过程中，都会对芯片的物理特性产生一定的影响，可能导致修调好的各项参数产生漂移。因此为保证芯片关键参数能够达到高精度要求，选择芯片在封装之后的测试与修调显得尤为重要。为了方便芯片参数测试和修调，通常会在芯片内部设置测试和修调模式，将重要的线路节点和参数通过测试模式通过芯片的管脚引出来进行测试，并在测试基础上进行修调和参数的固化。采用芯片封装之后的测试修调技术，为不增加额外的管脚，必然会涉及管脚复用问题，测试修调模式的前提是不能影响到芯片的正常应用，因此会涉及到芯片正常工作模式和测试修调模式的选择问题；如果在测试修调模式需要完成测试、修调多个参数项，必然需要实现测试和修调通道的选择和待测试参数项的输出以及熔丝修调的烧写控制和逻辑的固化。然而，相关技术中，管脚复用能够实现的工作模式有限而且测试修调需要多路同步测试或者控制信号，导致了生产成本高且测试修调的准确率不高。针对相关技术中，芯片封装后的测试修调的方便性差和准确率不高的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种管脚复用的测试修调系统、方法、计算机设备和存储介质。根据本专利技术的一个方面，提供了一种管脚复用的测试修调系统，所述管脚复用的测试修调系统集成在芯片上，所述系统包括复用管脚、模式选择模块、通道选择模块、测试模块和修调模块，在所述复用管脚输入脉冲信号的情况下，所述模式选择模块输入所述脉冲信号，所述模式选择模块输出时钟信号给所述通道选择模块；所述通道选择模块根据所述时钟信号输出通道选择信号，所述通道选择模块输出所述通道选择信号给所述测试模块和所述修调模块，所述测试模块根据所述通道选择信号确定测试通道，所述修调模块根据所述通道选择信号确定修调通道；在所述复用管脚悬空的情况下，所述测试模块根据所述测试通道获取待测试参数项，输出所述待测试参数项的测试结果至所述复用管脚；根据所述测试结果，在与所述修调通道对应的修调位需要修调的情况下，在所述复用管脚输入修调指示信号。在其中一个实施例中，所述模式选择模块还根据所述复用管脚的输入信号输出工作模式选择信号到所述芯片：在所述复用管脚输入接地信号的情况下，触发所述芯片反激式Flyback工作状态；在所述复用管脚悬空的情况下，触发所述芯片降压式Buck工作状态；在所述复用管脚输入脉冲信号的状态下，触发所述芯片的测试修调状态。在其中一个实施例中，所述模式选择模块还用于根据所述复用管脚的输入信号输出第一测试修调使能信号给所述通道选择模块，输出第二测试修调使能信号给所述修调模块；在所述复用管脚输入脉冲信号的情况下，所述第一测试修调使能信号指示所述通道选择模块根据所述时钟信号输出通道选择信号，所述第二测试修调使能信号指示所述修调模块进入修调模式；在所述复用管脚悬空的情况下，所述第一测试修调使能信号指示所述通道选择模块处于非通道选择模式，所述第二测试修调使能信号指示所述修调模块处于非修调模式。在其中一个实施例中，所述修调模块输入芯片使能信号，在所述芯片使能信号和所述第二测试修调使能信号均指示所述修调模块处于修调模式的情况下，所述修调模块根据所述测试结果对所述修调位进行修调；所述修调模块输出修调后的逻辑信号。在其中一个实施例中，所述测试模块还输入芯片的所述待测试参数项以及所述待测试参数项预设的测试通道，根据所述测试通道，输出与所述测试通道对应的所述待测试参数项的测试结果。根据本专利技术的另一个方面，还提供一种管脚复用的测试修调方法，所述方法包括：在复用管脚输入脉冲信号的情况下，模式选择模块从所述复用管脚接受所述脉冲信号，输出时钟信号，并将所述时钟信号发送给通道选择模块；所述通道选择模块根据所述脉冲信号选通测试通道和修调通道；在所述复用管脚悬空的情况下，测试模块获取所述测试通道的测试结果并将所述测试结果反馈至所述复用管脚；根据所述测试结果，在所述修调通道对应的修调位需要修调的情况下，从所述复用管脚输入修调指示信号，触发修调模块将所述修调位熔丝烧写。在其中一个实施例中，所述方法还包括：所述模式选择模块根据所述复用管脚的输入信号输出第一测试修调使能信号给所述通道选择模块，输出第二测试修调使能信号给所述修调模块；在所述复用管脚输入脉冲信号的情况下，所述第一测试修调使能信号指示所述通道选择模块根据所述时钟信号输出通道选择信号，所述第二测试修调使能信号指示所述修调模块进入修调模式；在所述复用管脚悬空的情况下，所述第一测试修调使能信号指示所述通道选择模块处于非通道选择模式，所述第二测试修调使能信号指示所述修调模块处于非修调模式。在其中一个实施例中，所述方法还包括：根据所述复用管脚的输入信号，所述模式选择模块触发芯片的不同工作模式，在所述复用管脚输入接地信号的情况下，触发所述芯片反激式Flyback工作状态；在所述复用管脚悬空的情况下，触发所述芯片降压式Buck工作状态；在所述复用管脚输入脉冲信号的状态下，触发所述芯片的测试修调状态,其中，所述测试修调系统集成于所述芯片。在其中一个实施例中，所述方法还包括：在完成测试修调之后，通过所述复用管脚输入一个脉冲信号，所述通道选择模块选通最高位，所述修调模块输入高电平信号，烧写所述最高位熔丝使得熔丝烧写阵列固化，所述修调模块输出所述固化后的逻辑信号。在其中一个实施例中，所述在所述复用管脚悬空的情况下，测试模块获取所述测试通道的测试结果并将所述测试结果反馈至所述复用管脚包括：所述测试模块接收芯片的待测试的参数项以及所述参数项预设的测试通道；接收所述测试通道，根据所述测试通道获取与所述测试通道对应的所述参数项的测试结果，将所述测试结果反馈至所述复用管脚，其中，所述测试修调系统集成于所述芯片。根据本专利技术的另一个方面，还提供一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述管脚复用的测试修调方法。根据本专利技术的另一个方面，还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述管脚复用的测试修调方法。上述管脚复用的测试修调系统、方法、计算机设备和存储介质，复用管脚外加脉冲信号时，芯片即进入测试修调模式，模式选择模块输入脉冲信号，模式选择模块输出时钟信号给通道选择模块；通道选择模块根据时钟信号输出通道选择信号给测试模块和修调模块，测试模块根据通道选择信号确定测试通道，修调模块根据通道选本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种管脚复用的测试修调系统，其特征在于，所述管脚复用的测试修调系统集成在芯片上，所述系统包括复用管脚、模式选择模块、通道选择模块、测试模块和修调模块，/n在所述复用管脚输入脉冲信号的情况下，所述模式选择模块输入所述脉冲信号，所述模式选择模块输出时钟信号给所述通道选择模块；/n所述通道选择模块根据所述时钟信号输出通道选择信号，所述通道选择模块输出所述通道选择信号给所述测试模块和所述修调模块，所述测试模块根据所述通道选择信号确定测试通道，所述修调模块根据所述通道选择信号确定修调通道；/n在所述复用管脚悬空的情况下，所述测试模块根据所述测试通道获取待测试参数项，输出所述待测试参数项的测试结果至所述复用管脚；/n根据所述测试结果，在与所述修调通道对应的修调位需要修调的情况下，在所述复用管脚输入修调指示信号。/n

【技术特征摘要】
1.一种管脚复用的测试修调系统，其特征在于，所述管脚复用的测试修调系统集成在芯片上，所述系统包括复用管脚、模式选择模块、通道选择模块、测试模块和修调模块，
在所述复用管脚输入脉冲信号的情况下，所述模式选择模块输入所述脉冲信号，所述模式选择模块输出时钟信号给所述通道选择模块；
所述通道选择模块根据所述时钟信号输出通道选择信号，所述通道选择模块输出所述通道选择信号给所述测试模块和所述修调模块，所述测试模块根据所述通道选择信号确定测试通道，所述修调模块根据所述通道选择信号确定修调通道；
在所述复用管脚悬空的情况下，所述测试模块根据所述测试通道获取待测试参数项，输出所述待测试参数项的测试结果至所述复用管脚；
根据所述测试结果，在与所述修调通道对应的修调位需要修调的情况下，在所述复用管脚输入修调指示信号。


2.根据权利要求1所述的管脚复用的测试修调系统，其特征在于，所述模式选择模块还根据所述复用管脚的输入信号输出工作模式选择信号到所述芯片：
在所述复用管脚输入接地信号的情况下，触发所述芯片反激式Flyback工作状态；
在所述复用管脚悬空的情况下，触发所述芯片降压式Buck工作状态；
在所述复用管脚输入脉冲信号的状态下，触发所述芯片的测试修调状态。


3.根据权利要求1所述的管脚复用的测试修调系统，其特征在于，所述模式选择模块还用于根据所述复用管脚的输入信号输出第一测试修调使能信号给所述通道选择模块，输出第二测试修调使能信号给所述修调模块；
在所述复用管脚输入脉冲信号的情况下，所述第一测试修调使能信号指示所述通道选择模块根据所述时钟信号输出通道选择信号，所述第二测试修调使能信号指示所述修调模块进入修调模式；
在所述复用管脚悬空的情况下，所述第一测试修调使能信号指示所述通道选择模块处于非通道选择模式，所述第二测试修调使能信号指示所述修调模块处于非修调模式。


4.根据权利要求3所述的管脚复用的测试修调系统，其特征在于，所述修调模块输入芯片使能信号，在所述芯片使能信号和所述第二测试修调使能信号均指示所述修调模块处于修调模式的情况下，所述修调模块根据所述测试结果对所述修调位进行修调；所述修调模块输出修调后的逻辑信号。


5.根据权利要求1所述的管脚复用的测试修调系统，其特征在于，所述测试模块还输入芯片的所述待测试参数项以及所述待测试参数项预设的测试通道，根据所述测试通道，输出与所述测试通道对应的所述待测试参数项的测试结果。


6.一种管脚复用的测试修调方法，其特征在于，所述方法包括：
在复用管脚输入脉冲信号的情况下，模式选择模块从所述复用管脚接受所述脉冲信号，输出时钟信号，并将所述时钟信号发送给通道选择模块；
所述通道选择模块根据所述时钟信号选通测试通道和修调通道；
在所述复用管脚悬空的情况下，测试模块获取所述测试通道...

【专利技术属性】
技术研发人员：江旭明，汪恒毅，朱海刚，
申请(专利权)人：浙江大华技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33