粒度分析仪、系统及进样控制方法技术方案

本发明专利技术公开了一种粒度分析仪及系统及进样控制方法，粒度分析仪包括：主机、进样器及进样控制器。主机用于测量样品粒径及样品的遮光比。进样器与主机的测试窗口连接，用于向主机中运送样品。进样控制器分别与主机及所述进样器电性连接，用于接收主机反馈回来的样品的遮光比，并根据遮光比控制进样器的工作强度。根据上述技术方案的粒度分析仪，以测得的样品的采样遮光比作为反馈值反馈给进样控制器，并根据采样遮光比与设定遮光比之间的差值来对进样器的工作强度进行实时调整，使进样器的进样更加稳定，且可以响应外部环境的变化。

Particle size analyzer, system and injection control method

【技术实现步骤摘要】
粒度分析仪、系统及进样控制方法
本专利技术涉及粒度分析设备领域，特别涉及一种粒度分析仪及粒度分析系统，还涉及一种进样控制方法。
技术介绍
粒度分析仪用于测量粒度的粒径分布，多数采用激光衍射的方法实现测量，样品的遮光比对数据的准确性有很大的影响，需要控制进样量在一个合适的值，以获得较好的测量效果。现有的干法进样器往往采用振动的方式进样，进样器的控制采用开环控制，进样过程不稳定，导致测量结果会产生波动。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提出一种粒度分析仪，采用粒度分析仪采集到的样品遮光比作为反馈行程闭环控制，可以使进样器稳定进样。本专利技术还提出一种包括该粒度分析仪的粒度分析系统及一种进样控制方法。第一方面，根据本专利技术的实施例的粒度分析仪，包括：主机：用于测量样品粒径及样品的遮光比；进样器，与所述主机的测试窗口连接，用于向所述主机中运送样品；进样控制器，分别与所述主机及所述进样器电性连接，用于接收所述主机反馈回来的样品的遮光比，并根据所述遮光比控制所述进样器的工作强度。根据本专利技术实施例的粒度分析仪，至少具有如下有益效果：主机、进样器和进样控制器形成闭合控制回路，根据样品遮光比的反馈值反馈给进样控制器，进样控制器再根据反馈的样品遮光比与预先设定的设定遮光比值比较的差值控制进样器的工作强度，进样器的工作强度又会影响落入测试窗口的样品量进而影响样品的遮光比。重复上述过程，最终会使样品遮光比逐渐与设定遮光比相等，使进样器可以稳定地为主机提供样品，使测量结果没有波动。根据本专利技术的一些实施例，所述进样器包括：下料槽，用于盛放样品，与所述主机的测试窗口连接；震动器，与所述下料槽连接，用于驱动所述下料槽振动，使下料槽内的样品落入到所述测试窗口中。根据本专利技术的一些实施例，所述进样器还包括陀螺仪，所述陀螺仪设置于所述下料槽上，所述陀螺仪与所述进样控制器电性连接，用于检测下料槽的震动强度。根据本专利技术的一些实施例，所述震动器为压电陶瓷。第二方面，根据本专利技术实施例的粒度分析系统，包括：根据本专利技术第一方面的实施例的粒度分析仪；终端，与所述粒度分析仪电性连接，用于显示及设置所述粒度分析仪的参数及信息。根据本专利技术实施例的粒度分析系统，至少具有如下有益效果：具有本专利技术第一方面实施例的粒度分析仪，可以通过终端设定合适的遮光比，并获得较为准确的样品的粒径分析结果。根据本专利技术的一些实施例，还包括：吸尘装置，分别与所述主机与所述进样器电性连接，用于清洁所述主机的测试窗口及所述进样器的下料槽；吸尘装置控制盒，与所述吸尘装置电性连接，用于控制所述吸尘装置。根据本专利技术的一些实施例，还包括：空气压缩机，所述空气压缩机的出口与所述主机的测试窗口或者所述下料槽连接，所述空气压缩机的出口处还设有过滤阀。第三方面，根据本专利技术的实施例的进样控制方法，包括：包括：S100：主机对样品以一定采样频率采样一段时间T，并获得这段时间T内的采样遮光比；S200：进样控制器将采样遮光比与预先设定的设定遮光比比较获得差值；S300：进样控制器根据差值调整进样器的工作强度；重复步骤S100至S300，直到差值为0。根据本专利技术实施例的进样控制方法，至少具有如下有益效果：以粒度分析仪测得的样品的采样遮光比作为反馈值反馈给进样控制器，并根据采样遮光比与设定遮光比之间的差值来对进样器的工作强度进行实时调整，使进样器的进样更加稳定，且可以响应外部环境的变化。根据本专利技术的一些实施例，所述步骤S100中的采样遮光比为所述时间T内采集的所有遮光比采样值的平均值。本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。附图说明本专利技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：图1为本专利技术实施例的粒度分析仪的示意图；图2为本专利技术实施例的粒度分析系统的示意图图3为本专利技术实施例的进样控制方法的控制流程图。附图标记：主机100，测试窗口110，进样器200，下料槽210，震动器220，陀螺仪230，进样控制器300，指示灯310，终端400，打印机410，吸尘装置500，吸尘装置控制盒510，空气压缩机600，过滤阀610。具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。本专利技术的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属
技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本专利技术中的具体含义。参照图1及图2，根据本专利技术第一方面的实施例的粒度分析仪包括：主机100、进样器200及进样控制器300。主机100用于对样品的粒径分布及遮光比进行测量，其功能和及结构为本领域内技术人员应该理解或者可以获得的公知常识，如欧美克公司生产的TopSizer激光粒度分析仪，所以在此不对其具体结构进行详细描述。进样器200用于将样品以一定频率送入到主机100内，使样品颗粒可以散开便于测量，主要分为湿法和干法两种进样方式，由于干法进样方式相对于湿法进样方式进样相对不稳定且难以控制，所以本专利技术的实施例的技术方案对于采用干法进样方法进样的粒度分析仪有较大的改善效果。进样器200的下料槽210与主机100的测试窗口110连接，样品可以从下料槽210中落入到测试窗口110内。进样控制器300用于根据主机100反馈回来的数据去控制进样器200，分别与主机100和进样器200电性连接。根据上述技术方案的粒度分析仪，具有闭环控制回路，可以实施闭环的进样控制方法。采集样品的遮光比作为反馈量传递给进样控制器300，进样进样器300计算样品遮光比与设定遮光比的差值再根据差值控制进样器200的进样量，进样量又会影响样品的样品遮光比，形成闭环回路，经过多个采样周期的控制后采样遮光比逐渐与设定遮光比相等，实现对主机的稳定进样。可以响应外部环境变化，保持进样的稳定以保证测量结果的稳定。在一些实施例中，参照图1所示，进样器200采用震动器220作为进样器200下料槽210的动力源，震动器220可以根据施加在其两端的电压的频率及电压大小以不同的频率震动，带动与其连接的下料槽210震动，将下料槽210中的样品震入到主机100的测试窗口110中。震动器220与进样控制器300电性连接，进样控制器300根据主机100反馈回来的差值，改变其输出到震动器220两端的控制电压，实现对进样器200的闭环控制。在一些实施例中，下料槽210上还安装有陀螺仪230，陀螺仪230可以检测下料槽210的震动强度，陀螺仪230与进样控制器300电性连接，通过本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种粒度分析仪，其特征在于，包括：/n主机，用于测量样品粒径及样品的遮光比；/n进样器，与所述主机的测试窗口连接，用于向所述主机中运送样品；/n进样控制器，分别与所述主机及所述进样器电性连接，用于接收所述主机反馈回来的样品的遮光比，并根据所述遮光比控制所述进样器的工作强度。/n

【技术特征摘要】
1.一种粒度分析仪，其特征在于，包括：
主机，用于测量样品粒径及样品的遮光比；
进样器，与所述主机的测试窗口连接，用于向所述主机中运送样品；
进样控制器，分别与所述主机及所述进样器电性连接，用于接收所述主机反馈回来的样品的遮光比，并根据所述遮光比控制所述进样器的工作强度。


2.根据权利要求1所述的粒度分析仪，其特征在于，所述进样器包括：
下料槽，用于盛放样品，与所述主机的测试窗口连接；
震动器，与所述下料槽连接，用于驱动所述下料槽振动，使下料槽内的样品落入到所述测试窗口中。


3.根据权利要求2所述的粒度分析仪，其特征在于，所述进样器还包括陀螺仪，所述陀螺仪设置于所述下料槽上，所述陀螺仪与所述进样控制器电性连接，用于检测下料槽的震动强度。


4.根据权利要求2所述的粒度分析仪，其特征在于，所述震动器为压电陶瓷。


5.一种粒度分析系统，其特征在于，包括：
根据权利要求1至4任一项所述的粒度分析仪；
终端，与所述粒度分析仪电性连接，用于...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄永良，
申请(专利权)人：珠海欧美克仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44