接触式测量头的张力测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种接触式测量头的张力测量装置，接触式测量头包括有一杆状的测头以及与测头连接的弹性部件或压敏部件，测头推压弹性部件或压敏部件至一筒状的壳体，其包括：张力测定部，包括有与测头远离弹性部件或压敏部件的一端抵接的测定端子，用于测量接触式测量头的张力；固定部固定壳体；丝杆，丝杆与接触式测量头的轴向垂直，并一端固定到固定部；丝杆调节座，丝杆条件座包括有一与丝杆螺旋连接的螺件，螺件可活动的固定到一底板。通过丝杆的滑动调节接触式测量头与张力测定部件的相对位置，即使是在测头磨损或者需要重新校验的各种情况下，都可以方便的测量出接触式测量头的不同张力读数，以获得更为精确的张力数据。

Tension measuring device of contact measuring head

【技术实现步骤摘要】
接触式测量头的张力测量装置
本专利技术涉及一种接触式测量头的张力测量装置。
技术介绍
目前，机床或测量机中部件的位置或尺寸可以通常使用光学测量(非接触测量)和机械式测量两种方式。利用激光进行的光学测量，可以采用探测方法对工件的边缘进行定位，当钻头安装到钻床的夹头上或刀具通过夹头式刀夹安装到铣床的主轴上时，激光器的光束照射到工作台上。激光器的光点将显示出主轴中心线相对于工件、夹钳或夹具之间的实际位置。这一可见的基准点可以让操作员在特定的位置点、工件中心点以及孔的圆心或划线中心点上确定主轴的位置。这也可以使他们能够校正台钳、设定铣削加工头的倾角以及中心分度器和旋转工作台。虽然光学测量的方式减少了一些工件的调试装卡时间，但是其光学配件的价格极为昂贵，需要进行高精度的抛光等处理。更重要的是，光学测量易受环境光线和杂散光的影响，噪声信号的处理很困难。另一方面光学测量对边线凹孔等处理及不连续的形状处理较难。有鉴于此，在处理非连续或者精度要求更高的测量对象时，现有技术通常使用接触式的探测装置进行测量。例如，专利文献(公开号CN本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种接触式测量头的张力测量装置，所述接触式测量头包括有一杆状的测头以及与所述测头连接的弹性部件或压敏部件，所述测头推压所述弹性部件或压敏部件至一筒状的壳体，其特征在于，其包括：/n张力测定部，所述张力测定部包括有与所述测头远离所述弹性部件或所述压敏部件的一端抵接的测定端子，用于测量所述接触式测量头的张力；/n固定部，用于固定所述壳体；/n丝杆，所述丝杆与所述接触式测量头的轴向垂直，并一端固定到所述固定部；/n丝杆调节座，所述丝杆条件座包括有一与丝杆螺旋连接的螺件，所述螺件可活动的固定到一底板。/n

【技术特征摘要】
1.一种接触式测量头的张力测量装置，所述接触式测量头包括有一杆状的测头以及与所述测头连接的弹性部件或压敏部件，所述测头推压所述弹性部件或压敏部件至一筒状的壳体，其特征在于，其包括：
张力测定部，所述张力测定部包括有与所述测头远离所述弹性部件或所述压敏部件的一端抵接的测定端子，用于测量所述接触式测量头的张力；
固定部，用于固定所述壳体；
丝杆，所述丝杆与所述接触式测量头的轴向垂直，并一端固定到所述固定部；
丝杆调节座，所述丝杆条件座包括有一与丝杆螺旋连接的螺件，所述螺件可活动的固定到一底板。


2.如权利要求1所述的接触式测量头的张力测量装置，其特征在于，
所述测定端子固定到垂直于所述底板的垂直杆；
所述垂直杆一端固定到所述底板。


3.如权利要求2所述的接触式测量头的张力测量装置，其特征在于，
所述螺件为圆柱形，所述螺件的轴心线上设置有与所述丝杆螺旋连接的螺孔；
所述丝杆调节座还包括有部分固定于所述底板，用于调节所述螺件水平位置的位置调节机构。


4.如权利要求3所述的接触式测量头的张力测量装置，其特征在于，
所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：翟剑锋，
申请(专利权)人：上海东培企业有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31