一种射频同轴电缆快速测试端面探头制造技术

本发明专利技术属于电缆测试技术领域，涉及一种射频同轴电缆快速测试端面探头，包括与测试电缆电连接的基座，所述基座分为基座内导体、同轴包裹于所述基座内导体外的基座介质层和同轴包裹于所述基座介质层外的基座外导体，所述基座内导体的前端与一个锥台形的探头内导体导通，所述基座外导体的前端与一个环状结构的探头外导体导通，所述探头内导体与所述探头外导体处于同轴状态、长度相同且以空气作为介质。本射频同轴电缆快速测试端面探头能够快速地测量射频同轴电缆的各项性能，零件可重复使用，节省了安装适配连接器后再进行测试的连接器报废成本和安装连接器的时间成本。

A fast test end probe for RF coaxial cable

【技术实现步骤摘要】
一种射频同轴电缆快速测试端面探头
本专利技术涉及电缆测试
，特别涉及一种射频同轴电缆快速测试端面探头。
技术介绍
当需要对射频同轴电缆进行电气性能测量时，如：回波损耗、插入损耗、电压驻波比、传播速率、特性阻抗、电容、相位等，需要对射频同轴电缆进行相应的加工后才能测试。现有的射频同轴电缆，在测量比如特性阻抗、传播速率、电容、相位等参数时，需要在电缆的端部装接一个相适配的射频同轴连接器，然后才能与仪器的测量端口连接进行测试。射频同轴连接器的配接很麻烦，配接射频同轴连接器需要花费很长的时间，效率很低，技术要求较高，而且测试完射频同轴连接器就得报废，测试成本很高。因此，有必要提供一种新的测试装置来解决上述问题。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种射频同轴电缆快速测试端面探头，能够方便、省时、省成本地进行射频同轴电缆的测试。本专利技术通过如下技术方案实现上述目的：一种射频同轴电缆快速测试端面探头，包括与测试电缆电连接的基座，所述基座分为基座内导体、同轴包裹于所述基座内导体外的基座介质层和同轴包裹于所述基座介质层外的基座外导体，所述基座内导体的前端与一个锥台形的探头内导体导通，所述基座外导体的前端与一个环状结构的探头外导体导通，所述探头内导体与所述探头外导体处于同轴状态、长度相同且以空气作为介质。具体的，所述基座从测试电缆一端往另一端锥形扩大。具体的，所述基座的工作特性阻抗与探头内导体和探头外导体组成的同轴结构的特性阻抗相同。具体的，所述基座内导体的外端设有用来安装内磁铁的凹坑，所述内磁铁吸住探头内导体。进一步的，所述基座外导体的外端设有一个环形凹槽，所述环形凹槽内设有用来吸住探头外导体的外磁铁。具体的，所述探头内导体前端的中心设有内导体刺针。进一步的，所述探头外导体前端的环面上设有若干外导体刺针。采用上述技术方案有益效果是：本射频同轴电缆快速测试端面探头能够比较便捷地测量射频同轴电缆的各项性能，零件可重复使用，节省了安装适配连接器后再进行测试的连接器报废成本和安装连接器的时间成本。附图说明图1为实施例1快速测试端面探头的拆卸图；图2为图1中的A-A剖视图；图3为图1中B位置的局部放大图；图4为图1中C位置的局部放大图；图5为实施例1快速测试端面探头在测试状态下的原理图；图6为实施例2快速测试端面探头的局部剖视图；图7为实施例3快速测试端面探头的局部剖视图。图中数字表示：1-基座，11-基座内导体，111-凹坑，12-基座介质层，13-基座外导体，131-环形凹槽，14-内磁铁，15-外磁铁；2-测试电缆；3a-探头内导体(大)，3b-探头内导体(中)，3c-探头内导体(小)，31-内导体刺针；4a-探头外导体(大)，4b-探头外导体(中)，4c-探头外导体(小)，41-外导体刺针；51-电缆内导体，52-电缆介质层，53-电缆外导体。具体实施方式下面结合具体实施例对本专利技术作进一步详细说明。实施例1：直径大于测试电缆的射频同轴电缆如图1和图5所示，本专利技术为一种射频同轴电缆快速测试端面探头，包括与测试电缆2电连接的基座1，基座1分为基座内导体11、同轴包裹于基座内导体11外的基座介质层12和同轴包裹于基座介质层12外的基座外导体13，基座内导体11的前端与一个锥台形的探头内导体3a导通，基座外导体13的前端与一个环形结构的探头外导体4a导通，探头内导体3a与探头外导体4a处于同轴状态、长度相同且以空气作为介质。实际测量中，会将待测的射频同轴电缆沿着垂直于轴线的方向切断，这样电缆内导体51和电缆外导体52平齐，而基座1只要靠探头外导体4a接触电缆外导体52，探头内导体3a接触电缆内导体51，构成导电回路，即可开始对特性阻抗、传播速率、电容、相位等参数测试，这个过程只需要两个步骤，不需要再用配接射频同轴连接器，而且测完以后基座1、探头内导体3a与探头外导体4a都可以重复使用，节省了安装适配连接器后再进行测试的连接器报废成本和安装连接器的时间成本。如图1和图5所示，基座1从测试电缆一端往另一端锥形扩大。这样的结构目的在于基座和探头的特性阻抗处处相同，大大降低了因发生阻抗失配而导致的测试误差。如图1、图2和图5所示，基座内导体11的外端设有用来安装内磁铁14的凹坑111，内磁铁14吸住探头内导体3a。基座外导体13的外端设有一个环形凹槽131，环形凹槽131内设有一个用来吸住探头外导体4a的外磁铁15。探头内导体3a和探头外导体4a都是种可替换的结构，而在测试进行时，内磁铁14和外磁铁15能够吸住探头内导体3a和探头外导体4a，避免掉落，同时方便更换其他尺寸的测试探头，保证测试时的电连接。如图3至图5所示，探头内导体3a前端的中心设有内导体刺针31，探头外导体4a前端的环面上设有若干外导体刺针41。测试时，内导体刺针31能够刺入电缆内导体51，外导体刺针41也能够刺入电缆外导体53，这样就能够确保面对面接触时的导通性，避免接触不良而导致阻抗测不准问题。实施例2：直径等于测试电缆的射频同轴电缆如图3所示，与实施例1的不同之处在于：在测量大直径射频同轴电缆时，探头内导体3a是外粗内细形的锥台结构，探头外导体4a是外张式的喇叭结构；测量中等直径射频同轴电缆时，探头内导体3b呈内粗外细形的锥台结构，探头外导体4b是内缩式的喇叭结构。这样可以匹配不同型号尺寸的射频同轴电缆的内外导体结构。只需要替换测试探头而不用更换测试基座即可。实施例3：直径小于测试电缆的射频同轴电缆如图4所示，与实施例2的不同之处在于：为了适应小直径的射频同轴电缆，探头内导体3b和探头外导体4b的外部结构进一步缩小。基座1的工作阻抗与探头内导体3a/3b/3c和探头外导体4a/4b/4c组成的同轴结构的特性阻抗相等。这样不管成套替换那种探头内导体3a/3b/3c和探头外导体4a/4b/4c，特性阻抗是恒定的，这样测量不需要进行多余的调试，保证结果的准确性。以上所述的仅是本专利技术的一些实施方式。对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本专利技术创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本专利技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种射频同轴电缆快速测试端面探头，其特征在于：包括与测试电缆电连接的基座，所述基座分为基座内导体、同轴包裹于所述基座内导体外的基座介质层和同轴包裹于所述基座介质层外的基座外导体，所述基座内导体的前端与一个锥台形的探头内导体导通，所述基座外导体的前端与一个环状结构的探头外导体导通，所述探头内导体与所述探头外导体处于同轴状态、长度相同且以空气作为介质。/n

【技术特征摘要】
1.一种射频同轴电缆快速测试端面探头，其特征在于：包括与测试电缆电连接的基座，所述基座分为基座内导体、同轴包裹于所述基座内导体外的基座介质层和同轴包裹于所述基座介质层外的基座外导体，所述基座内导体的前端与一个锥台形的探头内导体导通，所述基座外导体的前端与一个环状结构的探头外导体导通，所述探头内导体与所述探头外导体处于同轴状态、长度相同且以空气作为介质。


2.根据权利要求1所述的射频同轴电缆快速测试端面探头，其特征在于：所述基座从测试电缆一端往另一端锥形扩大。


3.根据权利要求1所述的射频同轴电缆快速测试端面探头，其特征在于：所述基座的工作特性阻抗与探头内导体和探头外导体组成的同...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐元阳，朱云川，
申请(专利权)人：昆山安胜达微波科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32