【技术实现步骤摘要】
一种屏幕是否均匀发光检测方法、存储介质和电子设备
本专利技术涉及屏幕亮度检测领域,尤其涉及一种屏幕是否均匀发光检测方法、存储介质和电子设备。
技术介绍
OLED(OrganicLight-EmittingDiode,有机发光二极管)作为电流型发光器由于拥有自发光特性,与LCD相比具有更高的对比度,以及还具有轻薄可弯曲的优点,但是亮度均匀性与残像仍是目前其主要面临到的问题。要解决亮度均匀性的问题,首先要获取到屏幕的发光均匀度情况。一般现有的发光均匀度是通过光学获取的方式。如图1所示,光学获取的方式是指将屏幕背板点亮后通过光学CCD(ChargeCoupledDevice,电荷藕合器件图像传感器)照相的方法将亮度信号获取出来。利用CCD进行发光均匀度检测需要专用设备,成本高,且只能在OLED产品出厂前进行一次检测。但当使用时间一长,OLED将再次面临各像素降解速度不一致产生的画面不均匀的情况,此时要解决亮度均匀性只能将OLED产品返回厂家维修。
技术实现思路
为此,需要提供一种屏幕是否均匀发光检测方案,解决现有的屏幕发光均匀度检测不便的问题。为实现上述目的,专利技术人提供了一种屏幕是否均匀发光检测方法,包括如下步骤:点亮屏幕显示板上的至少一个像素点;通过屏幕的光线传感器获取像素点经过屏幕透光盖板反射的光强数据;根据光强数据计算得到像素点是否均匀发光。进一步地,所述根据光强数据计算得到像素点是否均匀发光包括步骤:判断光强数据与预存的原始光强数据的差异值是否 ...
【技术保护点】
1.一种屏幕是否均匀发光检测方法,其特征在于,包括如下步骤:/n点亮屏幕显示板上的至少一个像素点;/n通过屏幕的光线传感器获取像素点经过屏幕透光盖板反射的光强数据;/n根据光强数据计算得到像素点是否均匀发光。/n
【技术特征摘要】
1.一种屏幕是否均匀发光检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
点亮屏幕显示板上的至少一个像素点;
通过屏幕的光线传感器获取像素点经过屏幕透光盖板反射的光强数据;
根据光强数据计算得到像素点是否均匀发光。
2.根据权利要求1所述的一种屏幕是否均匀发光检测方法,其特征在于,所述根据光强数据计算得到像素点是否均匀发光包括步骤:
判断光强数据与预存的原始光强数据的差异值是否处在合理范围;
如果是处在合理范围,则光强数据对应的像素点是均匀发光;
否则,光强数据对应的像素点不是均匀发光。
3.根据权利要求1所述的一种屏幕是否均匀发光检测方法,其特征在于,所述根据光强数据计算得到像素点是否均匀发光包括步骤:
判断光强数据与其他像素点的光强数据的差异值是否处在合理范围;
如果是处在合理范围,则光强数据对应的像素点是均匀发光;
否则,光强数据对应的像素点不是均匀发光。
4.根据权利要求1所述的一种屏幕是否均匀发光检测方法,其特征在于,所述点亮屏幕显示板上的至少一个像素点包括步骤:
以预设的图形电路屏幕显示板上的像素点。
5.根据权利要求1所述的一种屏幕是否均匀发光检测方法,其特征在于,所述点亮屏幕显示板上的至少一个像素点包括步骤:
点亮屏幕的显示板上的多个像素点,所述多个像素点间隔阵列排列。
6.根据权利要求1所述的一种屏幕是否均匀发光检测方法,其特征在于,所述点亮屏幕显示板上的至少一个像素点包括步骤:
点亮屏幕的显示板上的多个像素点,所述多个像素点聚集排列。
7.根据权利要求6所述的一种屏幕是否均匀发光检测方法,其特征在于,还包括步骤:
当根据光强数据计算得到像素点不是均匀发光时;
依次减少所述多个像素点的数量并点亮,并获取像素点的光强数据,直到获取到不均匀发光的一个像素点。
8.根据权利要求1所述的一种屏幕是否均匀发光检测方法,其特征在于,所述通过屏幕的光线传感器获取像素点经过屏幕透光盖板反射的光强数据包括步骤:
通过被点亮像素点对应位置的多个的光线传感器获取像素点经过屏幕透光盖板反射的光强数据。
9.根据权利要求1所述的一种屏幕是否均匀发光检测方法,其特征在于,在点亮屏幕显示板上的至少一个像素点步骤前还包括步骤:
熄灭显示板上的所有像素点;
通过屏幕的光线传感器获取环境光强数据;
判断环境光强数据是否大于预设值;
如果环境光强数据大于预设值,则不进行点亮屏幕显示板上的至少一个像素点的步骤;
否则环境光强数据小于等于预设值,则进行点亮屏幕显示板上的至少一个像素点的步骤。
10.根据权利要求9所述的一种屏幕是否均匀发光检测方法,其特征在于,在环境光强数据大于预设值时,还包括步骤:
驱动提示单元发送环境光线过强的提示信息。
11.根据权利要求1所述的一种屏幕是否均匀发光检...
【专利技术属性】
技术研发人员:黄建东,
申请(专利权)人:上海耕岩智能科技有限公司,
类型:发明
国别省市:上海;31
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。