检测装置制造方法及图纸

一种检测装置，具备：多个检测电极；检测电路，与检测电极连接并检测与检测电极的电容的变化相应的检测信号；以及连接电路，使检测电极和检测电路连接或断开，检测装置具有检测电极的多个选择形式，所述选择形式使多个检测电极中的第一选择对象的检测电极为与检测电路连接的连接状态，并使不包含于第一选择对象的检测电极的第二选择对象的检测电极为不与检测电路连接的断开状态，多个选择形式不包含使第一选择对象的检测电极为断开状态，并使第二选择对象的检测电极为连接状态的选择形式。

Detection device

【技术实现步骤摘要】
检测装置相关申请的交叉引用2018年11月30日所申请的原申请、即日本专利申请号2018-226099的全部内容被引用于本申请。本申请享受该原申请的优先权的利益。
本专利技术涉及一种检测装置。
技术介绍
在能够基于电容的变化来检测外部接近物体的检测装置中，作为通过切换多个检测电极中用于检测的检测电极和不用于检测的检测电极的组合的多种形式来提高精度的方法，已知有日本特开2017-188106号公报中记载的方法。日本特开2017-188106号公报中记载的方法的前提在于，在一次检测中，通过多个检测电极中用于检测的检测电极和不用于检测的检测电极的位置关系彼此相反的两个组合的形式来整合信号。在这种方法中，与检测精度相应的各种的负担增大，例如，因组合的形式数量的增加而导致一次的检测时间的延长，用于检测的数据量扩大，所要求的数据处理能力升高等。因此，需要一种能够同时降低负担以及提高精度的检测装置。本专利技术是鉴于上述的课题而完成的，其目的在于，提供一种能够同时降低负担以及提高精度的检测装置。
技术实现思路
根据本专利技术的一个方面的检测装置，其具备：多个检测电极；检测电路，与所述检测电极连接并检测与所述检测电极的电容的变化相应的检测信号；以及连接电路，使所述检测电极和所述检测电路连接或断开，其中，所述检测装置具有所述检测电极的多个选择形式，所述选择形式使所述多个检测电极中的第一选择对象的检测电极为与所述检测电路连接的连接状态，并使不包含于所述第一选择对象的第二选择对象的检测电极为不与所述检测电路连接的断开状态，多个所述选择形式不包含使所述第一选择对象的检测电极为所述断开状态，并使所述第二选择对象的检测电极为所述连接状态的选择形式。附图说明图1为表示实施方式1中的检测装置的构成例的框图；图2为表示检测装置的构成例的示意图；图3为表示检测装置所具备的传感器部的构成例的示意图；图4为示意性表示经由手指从驱动电极向检测电极传递驱动信号的情形的图；图5为表示用于对传感器部及检测电路的检测操作进行说明的等效电路的一例的说明图；图6为表示检测操作的驱动信号及检测信号的波形的一例的图；图7为表示检测装置的基板的构成例的剖视图；图8为表示检测装置的构成例的平面图；图9为表示利用码选择驱动的检测电极的选择形式的图；图10为表示实施方式1中的检测装置的一个操作例的时序波形图；图11A的(A)、(B)、(C)、(D)为表示针对多个检测电极块的利用正码选择驱动的检测电极的选择形式的图；图11B的(E)、(F)、(G)为表示针对多个检测电极块的利用正码选择驱动的检测电极的选择形式的图；图12为表示与实施方式1的变形例1相对应的驱动波形的图；图13为表示实施方式2中的检测装置的驱动波形的图；图14A的(A)、(B)、(C)、(D)为表示针对多个检测电极块的利用负码选择驱动的检测电极的选择形式的图；图14B的(E)、(F)、(G)、(H)为表示针对多个检测电极块的利用负码选择驱动的检测电极的选择形式的图；图15为表示与实施方式2的变形例1相对应的驱动波形的图；图16为表示与实施方式2的变形例2相对应的驱动波形的图；图17A为用于对实施方式4中第一选择电路以第一选择形式选择了检测电极的状态下第二选择电路的选择形式的例子进行说明的说明图；图17B为用于对实施方式4中第一选择电路以第一选择形式选择了检测电极的状态下第二选择电路的选择形式的例子进行说明的说明图；图18A为用于对实施方式4中第一选择电路以第二选择形式选择了检测电极的状态下第二选择电路的选择形式的例子进行说明的说明图；图18B为用于对实施方式4中第一选择电路以第二选择形式下选择了检测电极的状态下第二选择电路的选择形式的例子进行说明的说明图；图19A为用于对实施方式4中第一选择电路以第三选择形式选择了检测电极的状态下第二选择电路的选择形式的例子进行说明的说明图；图19B为用于对实施方式4中第一选择电路以第三选择形式选择了检测电极的状态下第二选择电路的选择形式的例子进行说明的说明图；图20A为用于对实施方式4中第一选择电路以第四选择形式选择了检测电极的状态下第二选择电路的选择形式的例子进行说明的说明图；图20B为用于对实施方式4中第一选择电路以第四选择形式选择了检测电极的状态下第二选择电路的选择形式的例子进行说明的说明图；图21为表示实施方式5中的检测装置的构成例的图；图22为表示实施方式6中的检测装置的构成例的图；图23为表示实施方式7中的检测装置的平面图；图24为实施方式7中的检测装置的剖视图。具体实施方式参考附图，对用于实施本专利技术的方式(实施方式)进行详细说明。本专利技术不受下面的实施方式中所记载的内容限定。另外，下面所记载的构件中包含本领域技术人员容易想到的构件、以及实质上相同的构件。而且，下面所记载的构件可以适当组合。需要指出，公开仅为一例，本领域技术人员能够容易想到且不脱离专利技术的主旨的适当的变更当然也包含在本专利技术的范围内。另外，为了更清楚地说明，与实际的方案相比，附图中有时示意性地表示各部分的宽度、厚度、形状等，但这些仅为一例，并不限定本专利技术的解释。另外，在本说明书及每个图中，与就已经提到过的图所叙述的部件相同的部件具有相同的码，有时会适当地省略详细说明。(实施方式1)图1为表示实施方式1中的检测装置的构成例的框图。图2为表示检测装置的构成例的示意图。图3为表示检测装置所具备的传感器部的构成例的示意图。本实施方式的检测装置100是检测微细的凹凸和检测电极之间的电容的检测装置，例如，指纹检测装置。如图1所示，检测装置100具备传感器部1、检测控制电路11、第一选择电路14、第二选择电路15、以及检测电路40。如图2及图3所示，传感器部1具备绝缘性的基材101、设于基材101的一个面101a侧的多个检测电极Rx、多个开关元件SW1、与开关元件SW1连接的扫描线GCL、与开关元件SW1连接的数据线SGL、以及检测电极Tx(驱动电极)。开关元件SW1为例如薄膜晶体管。扫描线GCL为用于向开关元件SW1提供扫描信号的接线。例如，当开关元件SW1为晶体管时，扫描线GCL与晶体管的栅极连接。数据线SGL为根据来自扫描线GCL的扫描信号与检测电极Rx电连接的接线。换而言之，数据线SGL为从检测电极Rx被输入检测信号Sv的接线。例如，当开关元件SW1为晶体管时，数据线SGL与晶体管的源极连接。基材101为例如玻璃制造。如图2所示，传感器部1进一步在检测电极Rx和开关元件SW1之间具有屏蔽层24。换而言之，在基材101的一个面101a和屏蔽层24之间分别设有开关元件SW1、扫描线GCL及数据线SGL。第一选择电路14及第二选择电路15分别设于基材101的一个面101a侧。数据线SGL与第二选择电路15连接。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测装置，其特征在于，具备：/n多个检测电极；/n检测电路，与所述检测电极连接并检测与所述检测电极的电容的变化相应的检测信号；以及/n连接电路，使所述检测电极和所述检测电路连接或断开，其中，/n所述检测装置具有所述检测电极的多个选择形式，所述选择形式使所述多个检测电极中的第一选择对象的检测电极为与所述检测电路连接的连接状态，并使不包含于所述第一选择对象的第二选择对象的检测电极为不与所述检测电路连接的断开状态，/n多个所述选择形式不包含使所述第一选择对象的检测电极为所述断开状态，并使所述第二选择对象的检测电极为所述连接状态的选择形式。/n

【技术特征摘要】
20181130 JP 2018-2260991.一种检测装置，其特征在于，具备：
多个检测电极；
检测电路，与所述检测电极连接并检测与所述检测电极的电容的变化相应的检测信号；以及
连接电路，使所述检测电极和所述检测电路连接或断开，其中，
所述检测装置具有所述检测电极的多个选择形式，所述选择形式使所述多个检测电极中的第一选择对象的检测电极为与所述检测电路连接的连接状态，并使不包含于所述第一选择对象的第二选择对象的检测电极为不与所述检测电路连接的断开状态，
多个所述选择形式不包含使所述第一选择对象的检测电极为所述断开状态，并使所述第二选择对象的检测电极为所述连接状态的选择形式。


2.根据权利要求1所述的检测装置，其中，
所述连接电路具有第一模式和与所述第一模式不同的第二模式，
在所述第一模式下，所述连接电路仅实施第一选择形式和第二选择形式中的任意一方，所述第一选择形式使所述第一选择对象为所述连接状态并使所述第二选择对象为所述断开状态，所述第二选择形式使所述第一选择形式的所述第一选择对象为所述断开状态，并使所述第一选择形式的所述第二选择对象为所述连接状态，
在所述第二模式下，所述连接电路实施所述第一选择形式和所述第二选择形式双方。


3.根据权利要求1或2所述的检测装置，其中，...

【专利技术属性】
技术研发人员：上原利范，
申请(专利权)人：株式会社日本显示器，
类型：发明
国别省市：日本;JP