软件风险的评价方法、装置、存储介质及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种软件风险的评价方法、装置、存储介质及电子设备，其中评价方法包括：统计测试软件各个日期的缺陷数量；获取软件测试活动期间的工作日清单；遍历工作日清单的日期列表，并基于缺陷数量进行累加，从而获取各个日期的累积缺陷数量；绘制横坐标轴为单位1长度的坐标系，并在坐标系中绘制累积缺陷数量与日期的缺陷时间累积图；在缺陷时间累计图的坐标系中画多条辅助线，并计算缺陷时间累积曲线和坐标轴围成的面积值；以及根据面积值与参考评判域进行比较来评价软件风险。借此，本发明专利技术的软件风险的评价方法、装置、存储介质及电子设备，可实现软件风险的量化评价。

Software risk assessment methods, devices, storage media and electronic equipment

【技术实现步骤摘要】
软件风险的评价方法、装置、存储介质及电子设备
本专利技术是关于软件测试
，特别是关于一种软件风险的评价方法、装置、存储介质及电子设备。
技术介绍
现有项目投产前主要通过缺陷个数、缺陷密度、未解决缺陷情况进行软件风险评估，因采用的数据为项目投产前的瞬时静态数据，未考虑整体测试活动中缺陷发现过程情况，且不同规模项目之间缺少统一可比较的量化指标。公开于该
技术介绍
部分的信息仅仅旨在增加对本专利技术的总体背景的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域一般技术人员所公知的现有技术。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种软件风险的评价方法、装置、存储介质及电子设备，其可实现软件风险的量化评价。为实现上述目的，本专利技术提供了一种软件风险的评价方法，基于标准化缺陷时间累积图，软件风险的评价方法包括：统计测试软件各个日期的缺陷数量；获取软件测试活动期间的工作日清单；遍历工作日清单的日期列表，并基于缺陷数量进行累加，从而获取各个日期的累积缺陷数量；绘制横坐标轴为单位1长度的坐标系，并在坐标系中绘制本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种软件风险的评价方法，其特征在于，包括：/n统计测试软件各个日期的缺陷数量；/n获取软件测试活动期间的工作日清单；/n遍历所述工作日清单的日期列表，并基于所述缺陷数量进行累加，从而获取各个日期的累积缺陷数量；/n绘制横坐标轴为单位1长度的坐标系，并在所述在坐标系中绘制累积缺陷数量与日期的缺陷时间累积图；/n在所述缺陷时间累计图的坐标系中画多条辅助线，并计算缺陷时间累积曲线和坐标轴围成的面积值；以及/n根据所述面积值与参考评判域进行比较来评价软件风险。/n

【技术特征摘要】
1.一种软件风险的评价方法，其特征在于，包括：
统计测试软件各个日期的缺陷数量；
获取软件测试活动期间的工作日清单；
遍历所述工作日清单的日期列表，并基于所述缺陷数量进行累加，从而获取各个日期的累积缺陷数量；
绘制横坐标轴为单位1长度的坐标系，并在所述在坐标系中绘制累积缺陷数量与日期的缺陷时间累积图；
在所述缺陷时间累计图的坐标系中画多条辅助线，并计算缺陷时间累积曲线和坐标轴围成的面积值；以及
根据所述面积值与参考评判域进行比较来评价软件风险。


2.如权利要求1所述的软件风险的评价方法，其特征在于，获取软件测试活动期间的所述工作日清单包括：根据软件测试活动的开始时间和结束时间获取所述工作日清单，且所述工作日清单包括节假日。


3.如权利要求1所述的软件风险的评价方法，其特征在于，所述参考评判域包括：安全域、低风险域、中风险域及高风险域。


4.如权利要求1所述的软件风险的评价方法，其特征在于，多条所述辅助线的数量为三条。


5.如权利要求4所述的软件风险的评价方法，其特征在于，一条所述辅助线为与所述缺陷时间累积图的坐标轴45°夹角直线，且另外两条所述辅助线为圆曲线。


6.如权利要求5所述的软件风险的评价方法，其特征在于，所述两条辅助线分别位于所述一...

【专利技术属性】
技术研发人员：韩志成，郭金京，闫鑫，
申请(专利权)人：中信银行股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11