软件风险的评价方法、装置、存储介质及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种软件风险的评价方法、装置、存储介质及电子设备，其中评价方法包括：统计测试软件各个日期的缺陷数量；获取软件测试活动期间的工作日清单；遍历工作日清单的日期列表，并基于缺陷数量进行累加，从而获取各个日期的累积缺陷数量；绘制横坐标轴为单位1长度的坐标系，并在坐标系中绘制累积缺陷数量与日期的缺陷时间累积图；在缺陷时间累计图的坐标系中画多条辅助线，并计算缺陷时间累积曲线和坐标轴围成的面积值；以及根据面积值与参考评判域进行比较来评价软件风险。借此，本发明专利技术的软件风险的评价方法、装置、存储介质及电子设备，可实现软件风险的量化评价。

Software risk assessment methods, devices, storage media and electronic equipment

【技术实现步骤摘要】
软件风险的评价方法、装置、存储介质及电子设备
本专利技术是关于软件测试
，特别是关于一种软件风险的评价方法、装置、存储介质及电子设备。
技术介绍
现有项目投产前主要通过缺陷个数、缺陷密度、未解决缺陷情况进行软件风险评估，因采用的数据为项目投产前的瞬时静态数据，未考虑整体测试活动中缺陷发现过程情况，且不同规模项目之间缺少统一可比较的量化指标。公开于该
技术介绍
部分的信息仅仅旨在增加对本专利技术的总体背景的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域一般技术人员所公知的现有技术。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种软件风险的评价方法、装置、存储介质及电子设备，其可实现软件风险的量化评价。为实现上述目的，本专利技术提供了一种软件风险的评价方法，基于标准化缺陷时间累积图，软件风险的评价方法包括：统计测试软件各个日期的缺陷数量；获取软件测试活动期间的工作日清单；遍历工作日清单的日期列表，并基于缺陷数量进行累加，从而获取各个日期的累积缺陷数量；绘制横坐标轴为单位1长度的坐标系，并在坐标系中绘制累积缺陷数量与日期的缺陷时间累积图；在缺陷时间累计图的坐标系中画多条辅助线，并计算缺陷时间累积曲线和坐标轴围成的面积值；以及根据面积值与参考评判域进行比较来评价软件风险。在本专利技术的一实施方式中，获取软件测试活动期间的工作日清单包括：根据软件测试活动的开始时间和结束时间获取工作日清单，且工作日清单包括节假日。在本专利技术的一实施方式中，参考评判域包括：安全域、低风险域、中风险域及高风险域。在本专利技术的一实施方式中，多条辅助线的数量为三条。在本专利技术的一实施方式中，一条辅助线为与缺陷时间累积图的坐标轴45°夹角直线，且另外两条辅助线为圆曲线。在本专利技术的一实施方式中，两条辅助线分别位于一条辅助线的两侧。在本专利技术的一实施方式中，缺陷时间累积图的横坐标的值域与纵坐标的值域均为1单位的标准长度。与现有技术相比，根据本专利技术的软件风险的评价方法、装置、存储介质及电子设备，通过缺陷累积曲线与三条辅助线进行形态和面积数值的对比，可实现软件风险的量化评价。计算出的面积值既可以单独对一个项目进行风险评价，也可横向应用于不同规模项目之间进行风险比较。附图说明图1是根据本专利技术一实施方式的软件风险的评价方法的流程示意图；图2是根据本专利技术一实施方式的软件风险的评价方法的缺陷时间累积图；图3是根据本专利技术一实施方式的软件风险的评价装置的结构示意图；图4是根据本专利技术一实施方式的用于执行软件风险的评价方法的电子设备的结构示意图。具体实施方式下面结合附图，对本专利技术的具体实施方式进行详细描述，但应当理解本专利技术的保护范围并不受具体实施方式的限制。在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。除非另有其它明确表示，否则在整个说明书和权利要求书中，术语“包括”或其变换如“包含”或“包括有”等等将被理解为包括所陈述的元件或组成部分，而并未排除其它元件或其它组成部分。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本专利技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。图1是根据本专利技术一实施方式的软件风险的评价方法、装置、存储介质及电子设备的流程示意图，如图1所示，根据本专利技术优选实施方式的一种软件风险的评价方法、装置、存储介质及电子设备，包括步骤1-步骤7，具体如下：步骤1，根据项目的缺陷明细数据，统计测试软件各个日期的缺陷数量。统计各个日期缺陷数量时，暂不考虑该日是否是节假日。统计缺陷个数时可结合缺陷状态进行筛选，若部分缺陷经分析后并非软件自身问题，属于测试人员误提，则相关缺陷不纳入统计；步骤2，根据测试活动的开始时间和结束时间，获取期间的工作日清单。因缺陷发现数量在节假日与工作日相差较大，特别是测试活动横跨五一、十一等长假期间，需将节假日去除，以免影响缺陷时间累积图的曲线的形态，影响后续分析的客观性。若测试活动在部分节假日加班工作，可按照实际情况进行调整；工作日清单还可以根据实际情况进行筛选，若一周工作六天，则该工作日清单也包括节假日-周六；一般情况下，工作日清单不包括节假日。步骤3，遍历步骤1中的日期列表，基于步骤2中缺陷发现数量进行累加，获取各日的累积缺陷数量。若有部分缺陷发现日期早于步骤1最早日期，也应纳入统计范畴。若有部分缺陷发现日期晚于步骤1中的最晚日期，即部分缺陷在测试活动结束后被发现，则将相关数据纳入最后一日的累积缺陷数量；如图2所示，步骤4，以步骤1中的日期为横坐标值，根据步骤3中相应日期的累积缺陷数量为纵坐标值，画出缺陷时间累积图。为实现标准化，横坐标的值域为步骤1中有序日期，纵坐标的值域为0至项目的总缺陷个数，且横坐标值域和纵坐标值域在图中都为1单位的标准长度。在图中，缺陷时间累积曲线越陡立，代表该段时间发现的缺陷数量相对越多，曲线越平缓，代表该段时间发现的缺陷数量相对越少。一般来讲，若两个项目拥有相同数量的缺陷，那么早期缺陷越多、后期缺陷越少的项目具有更小的风险。相反，项目在临近测试活动结束前仍发现较多缺陷，则存在潜在缺陷的可能性更大；步骤5，在坐标系中画出三条辅助线，如图2所示，一条为与坐标轴45度夹角直线，两条1/4圆曲线，并计算缺陷时间累积曲线和坐标轴围成的面积值(曲线下方面积)。缺陷时间累积图中的三条辅助线，左上圆曲线为较多缺陷在前期被发现，较少缺陷在后期被发现，缺陷发现速度逐渐降低直至最后收敛，软件风险较低，此条曲线面积为0.785；直线为缺陷匀速发现，此类情况软件风险中等，此条曲线面积为0.5；右下圆线为较少缺陷在前期被发现，较多缺陷在后期被发现，缺陷发现速度未能收敛反倒逐渐提高，软件风险较大，此条曲线面积为0.215。其中，步骤5中的三条辅助线，其作用是为了对画出的缺陷时间累积曲线进行观察对比，并结合面积数值进行整体风险分档。在实际操作中可结合历史项目的缺陷数据和投产后问题数据，选择其他形态曲线进行替代。步骤6，根据所述面积值与参考评判域进行比较，进行直观的软件风险量化，从而判断软件风险进行评价。在一种实现方式中，参考评判域包括：安全域(0.785，1)、低风险域(0.5，0.785)、中风险域(0.215，0.5)及高风险域(0，0.215)。以上详细介绍了软件风险的评价方法的流程，该方法也可以通过相本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种软件风险的评价方法，其特征在于，包括：/n统计测试软件各个日期的缺陷数量；/n获取软件测试活动期间的工作日清单；/n遍历所述工作日清单的日期列表，并基于所述缺陷数量进行累加，从而获取各个日期的累积缺陷数量；/n绘制横坐标轴为单位1长度的坐标系，并在所述在坐标系中绘制累积缺陷数量与日期的缺陷时间累积图；/n在所述缺陷时间累计图的坐标系中画多条辅助线，并计算缺陷时间累积曲线和坐标轴围成的面积值；以及/n根据所述面积值与参考评判域进行比较来评价软件风险。/n

【技术特征摘要】
1.一种软件风险的评价方法，其特征在于，包括：
统计测试软件各个日期的缺陷数量；
获取软件测试活动期间的工作日清单；
遍历所述工作日清单的日期列表，并基于所述缺陷数量进行累加，从而获取各个日期的累积缺陷数量；
绘制横坐标轴为单位1长度的坐标系，并在所述在坐标系中绘制累积缺陷数量与日期的缺陷时间累积图；
在所述缺陷时间累计图的坐标系中画多条辅助线，并计算缺陷时间累积曲线和坐标轴围成的面积值；以及
根据所述面积值与参考评判域进行比较来评价软件风险。


2.如权利要求1所述的软件风险的评价方法，其特征在于，获取软件测试活动期间的所述工作日清单包括：根据软件测试活动的开始时间和结束时间获取所述工作日清单，且所述工作日清单包括节假日。


3.如权利要求1所述的软件风险的评价方法，其特征在于，所述参考评判域包括：安全域、低风险域、中风险域及高风险域。


4.如权利要求1所述的软件风险的评价方法，其特征在于，多条所述辅助线的数量为三条。


5.如权利要求4所述的软件风险的评价方法，其特征在于，一条所述辅助线为与所述缺陷时间累积图的坐标轴45°夹角直线，且另外两条所述辅助线为圆曲线。


6.如权利要求5所述的软件风险的评价方法，其特征在于，所述两条辅助线分别位于所述一...

【专利技术属性】
技术研发人员：韩志成，郭金京，闫鑫，
申请(专利权)人：中信银行股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11