一种芯片内部基准电压标定方法及装置制造方法及图纸

技术编号:24451825 阅读:33 留言:0更新日期:2020-06-10 14:28
本申请公开了一种芯片内部基准电压标定方法及装置,该方法包括:通过AD参考源接口获取烧录装置提供的参考电压的模拟量;获取预烧录在芯片中的电压信息,电压信息包括参考电压的电压值;获取AD转换器的最大输出数字量,最大输出数字量由AD转换器的位数决定;基于参考电压的模拟量,对芯片内部的基准电压进行模数转换得到基准电压对应的数字量;根据参考电压的电压值、最大输出数字量和基准电压对应的数字量计算基准电压的电压值;存储基准电压的电压值。实施本申请实施例能够实现芯片内部基准电压的标定,减小了因芯片工艺差异性所带来的AD转换器的测量误差,减少了实施成本。

A calibration method and device for internal reference voltage of chip

【技术实现步骤摘要】
一种芯片内部基准电压标定方法及装置
本申请涉及电压测量领域,尤其涉及一种芯片内部基准电压标定方法及装置。
技术介绍
芯片内部集成了多个通道的AD转换器和一个带隙基准电压源(以下简称“基准电压”),此基准电压可应用于多方面,例如:用于外部电压检测,用作内部AD转换器的参考源等。当基准电压作为AD转换器的参考源时,尽管基准电压的标准值都统一标示为典型值,但因芯片的工艺差异性,并不能保证每片芯片内部的基准电压的实际值与典型值相等,而实际用于测量外部待检测电压时AD转换器依然以典型值进行模数转换计算,必然导致测量获得的电压值与待检测电压的实际值存在一定的误差。目前,为了解决芯片自身工艺差异带来的基准电压差异问题,常采取在芯片外部外置一个独立的精度更高的基准源代替芯片内部的基准电压作为AD转换器的参考源,但这种方法不仅成本高,且该基准源易受到温度漂移等因素的影响,难以在测量待检测电压的过程中保持稳定的值,因此,也会造成一定的测量误差。
技术实现思路
本申请实施例公开了一种芯片内部基准电压标定方法及装置,能够实现芯片内部基准电压的准确检测,减少芯片内置的AD转换器因芯片工艺差异性导致的测量误差。第一方面,本申请实施例提供了一种芯片,所述芯片包括处理器、存储器、模数(AD)转换器、模数(AD)参考源接口和通信接口,其中,所述AD参考源接口,用于获取烧录装置提供的参考电压的模拟量;所述通信接口,用于获取预烧录在所述芯片中的电压信息,所述电压信息包括所述参考电压的电压值;所述处理器,用于获取所述AD转换器的最大输出数字量,所述最大输出数字量由所述AD转换器的位数决定;所述AD转换器,用于基于所述参考电压的模拟量,对所述芯片内部的基准电压进行模数转换得到所述基准电压对应的数字量;所述处理器,还用于根据所述参考电压的电压值、所述最大输出数字量和所述基准电压对应的数字量计算所述基准电压的电压值;所述存储器,用于存储所述基准电压的电压值。可以看到,利用烧录装置提供的高精度的参考电压作为AD转换器的参考电压,并对芯片内部的基准电压进行标定测量获得芯片内部基准电压的实际值,从而实现了芯片内部基准电压的标定,减小了因芯片工艺差异性所带来的AD转换器的测量误差,减少了实施成本。基于第一方面,在可能的实施例中,所述AD转换器具体用于:确定所述参考电压的模拟量和所述基准电压的模拟量之间的关联程度;根据所述最大输出数字量和所述关联程度,获得所述基准电压对应的数字量;所述最大输出数字量作为所述参考电压对应的数字量。基于第一方面,在可能的实施例中,所述处理器具体用于:计算所述基准电压对应的数字量与所述最大输出数字量的比值;根据所述比值和所述参考电压的电压值,获得所述基准电压的电压值。第二方面,本申请实施例提供了一种烧录装置,所述烧录装置包括处理器、存储器、参考电源、第一接口和第二接口,其中,所述参考电源,用于提供参考电压的模拟量;所述第一接口,用于实现将所述参考电压的模拟量输入至芯片;所述存储器,用于存储电压信息,所述电压信息包括所述参考电压的电压值;所述处理器,用于获取所述电压信息;所述第二接口,用于实现向所述芯片烧录所述电压信息。基于第二方面,在可能的实施例中,所述存储器还用于存储标定程序,所述处理器还用于获取所述标定程序,所述第二接口还用于,实现向所述芯片烧录所述标定程序,所述标定程序用于所述芯片对所述芯片的基准电压的标定。可以看到,烧录装置不仅给芯片的AD参考源接口提供参考电压的模拟量,还将参考电压的电压值,或者,参考电压的电压值和标定程序烧录入芯片中,以助于芯片对芯片内部的基准电压进行标定,减小了实施成本。第三方面,本申请实施例提供了一种芯片内部基准电压标定方法,应用于具有模数(AD)参考源接口的芯片中,所述方法包括:通过AD参考源接口获取烧录装置提供的参考电压的模拟量;获取预烧录在芯片中的电压信息,所述电压信息包括所述参考电压的电压值;获取所述AD转换器的最大输出数字量,所述最大输出数字量由所述AD转换器的位数决定;基于所述参考电压的模拟量,对所述芯片内部的基准电压进行模数转换得到所述基准电压对应的数字量;根据所述参考电压的电压值、所述最大输出数字量和所述基准电压对应的数字量计算所述基准电压的电压值;存储所述基准电压的电压值。基于第三方面,在可能的实施例中,所述基于参考电压的模拟量,对所述芯片内部的基准电压进行模数转换得到基准电压对应的数字量,包括:确定所述参考电压的模拟量和所述基准电压的模拟量之间的关联程度;根据所述最大输出数字量和所述关联程度,获得所述基准电压对应的数字量;所述最大输出数字量作为所述参考电压对应的数字量。基于第三方面,在可能的实施例中,所述根据所述参考电压的电压值、所述最大输出数字量和所述基准电压对应的数字量计算所述基准电压的电压值,包括:计算所述基准电压对应的数字量与所述最大输出数字量的比值;根据所述比值和所述参考电压的电压值,获得所述基准电压的电压值。第四方面,本申请实施例提供了一种芯片内部基准电压标定方法,应用于烧录装置中,所述方法包括:通过所述烧录装置的第一接口向芯片提供参考电压的模拟量;通过所述烧录装置的第二接口向所述芯片烧录电压信息,所述电压信息包括所述参考电压的电压值。基于第四方面,在可能的实施例中,所述方法还包括:通过所述烧录装置的第二接口向所述芯片烧录标定程序,所述标定程序用于所述芯片对所述芯片的基准电压的标定。第五方面,本申请实施例提供了一种芯片,所述芯片包括:电压输入单元,用于指示AD参考源接口获取烧录装置提供的参考电压的模拟量;信息获取单元,用于获取预烧录在芯片中的电压信息,所述电压信息包括所述参考电压的电压值;所述信息获取单元,还用于获取所述AD转换器的最大输出数字量,所述最大输出数字量由所述AD转换器的位数决定;模数转换单元,用于基于所述参考电压的模拟量,对所述芯片内部的基准电压进行模数转换得到所述基准电压对应的数字量;信息处理单元,用于根据所述参考电压的电压值、所述最大输出数字量和所述基准电压对应的数字量计算所述基准电压的电压值;信息存储单元,用于存储所述基准电压的电压值。基于第五方面,在可能的实施例中,所述模数转换单元具体用于:确定所述参考电压的模拟量和所述基准电压的模拟量之间的关联程度;根据所述最大输出数字量和所述关联程度,获得所述基准电压对应的数字量;所述最大输出数字量作为所述参考电压对应的数字量。基于第五方面,在可能的实施例中,所述信息处理单元具体用于:计算所述基准电压对应的数字量与所述最大输出数字量的比值;根据所述比值和所述参考电压的电压值,获得所述基准电压的电压值。第六方面,本申请实施例提供了一种烧录装置,所述烧录装置包括:电压提供单元,用于指示所述烧录装置的第一接口向芯片提供参考电压的模拟量;信息烧录单元,用于指示所述烧录装置的第二接口向所述芯片烧录电压信息,所述电压信息包括所述参考电压的电压值。基于第六方面,在可能的实施例中,所述信息烧录单元还用于:通过本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片,其特征在于,所述芯片包括处理器、存储器、模数(AD)转换器、模数(AD)参考源接口和通信接口,其中,/n所述AD参考源接口,用于获取烧录装置提供的参考电压的模拟量;/n所述通信接口,用于获取预烧录在所述芯片中的电压信息,所述电压信息包括所述参考电压的电压值;/n所述处理器,用于获取所述AD转换器的最大输出数字量,所述最大输出数字量由所述AD转换器的位数决定;/n所述AD转换器,用于基于所述参考电压的模拟量,对所述芯片内部的基准电压进行模数转换得到所述基准电压对应的数字量;/n所述处理器,还用于根据所述参考电压的电压值、所述最大输出数字量和所述基准电压对应的数字量计算所述基准电压的电压值;/n所述存储器,用于存储所述基准电压的电压值。/n

【技术特征摘要】
1.一种芯片,其特征在于,所述芯片包括处理器、存储器、模数(AD)转换器、模数(AD)参考源接口和通信接口,其中,
所述AD参考源接口,用于获取烧录装置提供的参考电压的模拟量;
所述通信接口,用于获取预烧录在所述芯片中的电压信息,所述电压信息包括所述参考电压的电压值;
所述处理器,用于获取所述AD转换器的最大输出数字量,所述最大输出数字量由所述AD转换器的位数决定;
所述AD转换器,用于基于所述参考电压的模拟量,对所述芯片内部的基准电压进行模数转换得到所述基准电压对应的数字量;
所述处理器,还用于根据所述参考电压的电压值、所述最大输出数字量和所述基准电压对应的数字量计算所述基准电压的电压值;
所述存储器,用于存储所述基准电压的电压值。


2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述AD转换器具体用于:
确定所述参考电压的模拟量和所述基准电压的模拟量之间的关联程度;
根据所述最大输出数字量和所述关联程度,获得所述基准电压对应的数字量;所述最大输出数字量作为所述参考电压对应的数字量。


3.根据要求1或2所述的装置,其特征在于,所述处理器具体用于:
计算所述基准电压对应的数字量与所述最大输出数字量的比值;
根据所述比值和所述参考电压的电压值,获得所述基准电压的电压值。


4.一种烧录装置,其特征在于,所述烧录装置包括处理器、存储器、参考电源、第一接口和第二接口,其中,
所述参考电源,用于提供参考电压的模拟量;
所述第一接口,用于实现将所述参考电压的模拟量输入至芯片;
所述存储器,用于存储电压信息,所述电压信息包括所述参考电压的电压值;
所述处理器,用于获取所述电压信息;
所述第二接口,用于实现向所述芯片烧录所述电压信息。


5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述存储器还用于存储标定程序,所述处理器还用于获取所述标定程序,所述第二接口还用于,实现向所述芯片烧录所述标定程序...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘均林琪钧
申请(专利权)人:深圳市元征科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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