激光器芯片用测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开一种激光器芯片用测试装置，包括测试载台、连接块和控制组件，所述测试载台上安装有一载板，此载板上开有若干供芯片嵌入的芯片槽，所述载板上具有若干与芯片连通的导线，此若干个导线在载板一端形成一电连接头，所述连接块上开有供电连接头插入的连接口，此连接块与控制组件电连接；所述载板正下方设置有一冷却盒，此冷却盒上开有进水口和出水口，所述冷却盒内设置有与进水口、出水口贯通的冷却腔，所述进水口和出水口均通过水管与一冷却水循环箱连通，所述载板下表面还设置有一导热板，此导热板用于与冷却盒上表面接触连接。本实用新型专利技术其不仅能够进行高功率激光器和芯片的批量化测试，还能有效控制温度，提高测试精度。

Test device for laser chip

【技术实现步骤摘要】
激光器芯片用测试装置
本技术涉及一种激光器芯片用测试装置，属于芯片加工

技术介绍
芯片老化测试是一种采用电压和高温来加速器件电学故障的电应力测试方法，其中，老化过程基本上模拟运行了芯片整个寿命，因为老化过程中应用的电激励反映了芯片工作的最坏情况。老化测试可以用来作为器件可靠性的检测或作为生产窗口来发现器件的早期故障，一般用于芯片老化测试的装置是通过测试插座与外接电路板共同工作，而由于高功率激光器和芯片，特别是1W以上的激光器和芯片，其发热量较大，温度控制较难，测试精度较差。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种激光器芯片用测试装置，其不仅能够进行高功率激光器和芯片的批量化测试，还能有效控制温度，提高测试精度。为达到上述目的，本技术采用的技术方案是：一种激光器芯片用测试装置，包括测试载台、连接块和控制组件，所述测试载台上安装有一载板，此载板上开有若干供芯片嵌入的芯片槽，所述载板上具有若干与芯片连通的导线，此若干个导线在载板一端形成一电连接头，所述连接块上开有供电连接头插入的连接口，此连接块与控制组件电连接本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种激光器芯片用测试装置，其特征在于：包括测试载台（1）、连接块（3）和控制组件（101），所述测试载台（1）上安装有一载板（2），此载板（2）上开有若干供芯片嵌入的芯片槽（201），所述载板（2）上具有若干与芯片连通的导线（21），此若干个导线（21）在载板（2）一端形成一电连接头（22），所述连接块（3）上开有供电连接头（22）插入的连接口（31），此连接块（3）与控制组件（101）电连接；/n所述载板（2）正下方设置有一冷却盒（4），此冷却盒（4）上开有进水口（401）和出水口（402），所述冷却盒（4）内设置有与进水口（401）、出水口（402）贯通的冷却腔，所述进水口（401）和...

【技术特征摘要】
1.一种激光器芯片用测试装置，其特征在于：包括测试载台（1）、连接块（3）和控制组件（101），所述测试载台（1）上安装有一载板（2），此载板（2）上开有若干供芯片嵌入的芯片槽（201），所述载板（2）上具有若干与芯片连通的导线（21），此若干个导线（21）在载板（2）一端形成一电连接头（22），所述连接块（3）上开有供电连接头（22）插入的连接口（31），此连接块（3）与控制组件（101）电连接；
所述载板（2）正下方设置有一冷却盒（4），此冷却盒（4）上开有进水口（401）和出水口（402），所述冷却盒（4）内设置有与进水口（401）、出水口（402）贯通的冷却腔，所述进水口（401）和出水口（402）均通过水管与一冷却...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗跃浩，徐鹏嵩，赵山，王化发，
申请(专利权)人：苏州联讯仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32