一种LED灯用电阻检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种LED灯用电阻检测装置，包括电阻测试仪、检测笔、固定盖、固定筒、开孔、导电柱、限位片、导电夹片、导电环、测试针、稳定块和防滑环。本实用新型专利技术设置的固定盖和固定筒通过螺纹连接，便于安装和拆卸，在需要检测LED灯电阻时，可以将固定筒安装上，通过测试针进行测试，在不需要检测LED灯电阻时，将固定筒拆下即可进行常规检测，从而方便使用者在使用过程，根据所测电阻进行安装和拆卸；通过测试针替代检测笔进行检测LED灯电阻，可以测量体积较小的电阻，有效的防止因电阻过小而导致无法测量或者测量不便的问题，可以在检测时，使使用者更加的灵活测试，该装置结构简单，使用方便，适合推广使用。

A resistance detection device for LED lamp

【技术实现步骤摘要】
一种LED灯用电阻检测装置
本技术涉及一种电阻检测装置，具体是一种LED灯用电阻检测装置，属于电阻检测设备

技术介绍
LED灯是一块电致发光的半导体材料芯片，用银胶或白胶固化到支架上，然后用银线或金线连接芯片和电路板，四周用环氧树脂密封，起到保护内部芯线的作用，最后安装外壳，所以LED灯的抗震性能好，LED灯内部通常安装有若干个电阻，用以控制电流。通常情况下，检测电阻的仪器一般为电阻测试仪，LED灯内部的电阻较小，传统的电阻测试仪检测笔的检测端直径较大，在测试时不容易接触电阻的两个接线端，检测时非常不方便；并且，一般电阻测试仪的检测笔都是一体化机构设计，不便安装其它辅助检测装置。因此，针对上述问题提出一种LED灯用电阻检测装置。
技术实现思路
本技术的目的就在于为了解决上述问题而提供一种LED灯用电阻检测装置。本技术通过以下技术方案来实现上述目的，一种LED灯用电阻检测装置，包括外层保护机构和内层传导机构；所述外层保护机构包括电阻测试仪、检测笔、固定盖、固定筒和开孔，所述电阻测试仪的检测端插接有两个相同的检测笔，所述检测笔的外壁活动套接有固定盖，所述固定盖的底端螺纹连接有固定筒，所述固定筒的底部开设有开孔；所述内层传导机构包括导电柱、限位片、导电夹片、导电环和测试针，所述开孔的内壁顶端套接有导电柱，所述导电柱的外壁顶端置于开孔的外部并套接有限位片，所述限位片的内部均匀固接有若干相同的导电夹片，若干所述导电夹片的一侧均搭接在检测笔的检测端，若干所述导电夹片的底端均固接在同一个导电环的外壁，所述导电环置于开孔的内部，所述导电环套接在测试针的外壁表面，所述测试针的顶端固接在导电柱的底部，所述测试针的外壁表面套接有稳定块，所述稳定块套接在开孔的内壁底端，所述测试针的底端置于开孔的外部。优选的，所述固定筒外壁底端套接有防滑环。优选的，所述开孔与固定筒在竖直方向上的中轴线位于同一条直线上。优选的，所述导电夹片的形状为“L”型结构。优选的，所述检测笔的检测端底端搭接在导电柱的顶部。优选的，所述在竖直方向上的高度等于固定筒在竖直方向上高度的三分之一。本技术的有益效果是：1、通过测试针替代检测笔进行检测LED灯电阻，可以测量体积较小的电阻，有效的防止因电阻过小而导致无法测量或者测量不便的问题，可以在检测时，使使用者更加的灵活测试，该装置结构简单，使用方便，适合推广使用；2、本技术设置的固定盖和固定筒通过螺纹连接，便于安装和拆卸，在需要检测LED灯电阻时，可以将固定筒安装上，通过测试针进行测试，在不需要检测LED灯电阻时，将固定筒拆下即可进行常规检测，从而方便使用者在使用过程，根据所测电阻进行安装和拆卸。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。图1为本技术正视剖面结构示意图；图2为本技术图1中A处放大结构示意图；图3为本技术正视结构示意图。图中：1、电阻测试仪，2、检测笔，3、固定盖，4、固定筒，5、开孔，6、导电柱，7、限位片，8、导电夹片，9、导电环，10、测试针，11、稳定块，12、防滑环。具体实施方式为使得本技术的技术目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而非全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本技术的技术方案。在本技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。请参阅图1-3所示，一种LED灯用电阻检测装置，包括外层保护机构和内层传导机构；所述外层保护机构包括电阻测试仪1、检测笔2、固定盖3、固定筒4和开孔5，所述电阻测试仪1的检测端插接有两个相同的检测笔2，所述检测笔2的外壁活动套接有固定盖3，所述固定盖3的底端螺纹连接有固定筒4，便于安装和拆卸，所述固定筒4的底部开设有开孔5，便于安装其它零部件；所述内层传导机构包括导电柱6、限位片7、导电夹片8、导电环9和测试针10，所述开孔5的内壁顶端套接有导电柱6，便于导电，所述导电柱6的外壁顶端置于开孔5的外部并套接有限位片7，便于固定导电夹片8，所述限位片7的内部均匀固接有若干相同的导电夹片8，便于导电，若干所述导电夹片8的一侧均搭接在检测笔2的检测端，若干所述导电夹片8的底端均固接在同一个导电环9的外壁，便于导电，所述导电环9置于开孔5的内部，所述导电环9套接在测试针10的外壁表面，便于检测，所述测试针10的顶端固接在导电柱6的底部，所述测试针10的外壁表面套接有稳定块11，便于稳定测试针10，所述稳定块11套接在开孔5的内壁底端，所述测试针10的底端置于开孔5的外部，便于检测。所述固定筒4外壁底端套接有防滑环12，便于手持；所述开孔5与固定筒4在竖直方向上的中轴线位于同一条直线上，便于合理利用空间；所述导电夹片8的形状为“L”型结构，便于夹持；所述检测笔2的检测端底端搭接在导电柱6的顶部，便于导电；所述13在竖直方向上的高度等于固定筒4在竖直方向上高度的三分之一，便于合理利用空间。本技术在使用时，在不需要对LED灯内部的电阻进行测量时，转动固定筒4，将固定筒4从固定盖3上拆下露出检测笔2的检测端，即可检测其它电阻，当需要检测LED灯内部的电阻时，直接将固定筒4螺纹安装在固定盖3的底部，并使检测笔2的检测端与若干导电夹片8以及导电柱6的顶端相搭接，在检测LED灯内部电阻时，首先进行校零，之后手持两个防滑环12将两个测试针10搭接在电阻的两端即可，由于测试针10直径较小，适用于LED灯内部体积较小的电阻。对于本领域技术人员而言，显然本技术不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本技术的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本技术。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本技术的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的得同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本技术内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。以上所述，以上实施例仅用以说明本技术的技术方本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种LED灯用电阻检测装置，其特征在于：包括外层保护机构和内层传导机构；/n所述外层保护机构包括电阻测试仪(1)、检测笔(2)、固定盖(3)、固定筒(4)和开孔(5)，所述电阻测试仪(1)的检测端插接有两个相同的检测笔(2)，所述检测笔(2)的外壁活动套接有固定盖(3)，所述固定盖(3)的底端螺纹连接有固定筒(4)，所述固定筒(4)的底部开设有开孔(5)；/n所述内层传导机构包括导电柱(6)、限位片(7)、导电夹片(8)、导电环(9)和测试针(10)，所述开孔(5)的内壁顶端套接有导电柱(6)，所述导电柱(6)的外壁顶端置于开孔(5)的外部并套接有限位片(7)，所述限位片(7)的内部均匀固接有若干相同的导电夹片(8)，若干所述导电夹片(8)的一侧均搭接在检测笔(2)的检测端，若干所述导电夹片(8)的底端均固接在同一个导电环(9)的外壁，所述导电环(9)置于开孔(5)的内部，所述导电环(9)套接在测试针(10)的外壁表面，所述测试针(10)的顶端固接在导电柱(6)的底部，所述测试针(10)的外壁表面套接有稳定块(11)，所述稳定块(11)套接在开孔(5)的内壁底端，所述测试针(10)的底端置于开孔(5)的外部。/n...

【技术特征摘要】
1.一种LED灯用电阻检测装置，其特征在于：包括外层保护机构和内层传导机构；
所述外层保护机构包括电阻测试仪(1)、检测笔(2)、固定盖(3)、固定筒(4)和开孔(5)，所述电阻测试仪(1)的检测端插接有两个相同的检测笔(2)，所述检测笔(2)的外壁活动套接有固定盖(3)，所述固定盖(3)的底端螺纹连接有固定筒(4)，所述固定筒(4)的底部开设有开孔(5)；
所述内层传导机构包括导电柱(6)、限位片(7)、导电夹片(8)、导电环(9)和测试针(10)，所述开孔(5)的内壁顶端套接有导电柱(6)，所述导电柱(6)的外壁顶端置于开孔(5)的外部并套接有限位片(7)，所述限位片(7)的内部均匀固接有若干相同的导电夹片(8)，若干所述导电夹片(8)的一侧均搭接在检测笔(2)的检测端，若干所述导电夹片(8)的底端均固接在同一个导电环(9)的外壁，所述导电环(9)置于开孔(5)的内部，所述导电环(9)套接在测试针(10)的外壁表面，所述测试针(10)的顶端固接在导电...

【专利技术属性】
技术研发人员：李世明，刘华举，庞晓峰，
申请(专利权)人：合镁电子科技苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32