一种基于三通道标志点的变形测量方法技术

本发明专利技术公开了一种基于三通道标志点的变形测量方法，该包括以下步骤：步骤1，在待测物体表面设置三通道标志点，并采集待测物体表面变形前后的图像；步骤2，对图像中的三通道标志点进行位置检测和中心定位；步骤3，对变形前后图像中的同一标志点进行匹配，获得物体的全场位移。本发明专利技术提供的基于三通道标志点的变形测量方法，所需标志点数量较少，对待测物体不会造成不可逆污损，适合于透明材质、馆藏文物等的测量；利用各个标志点独特的周围标志点的环绕信息和颜色信息构成特征向量，匹配正确率、测量精度高，计算速度快。

A deformation measurement method based on three channel mark points

【技术实现步骤摘要】
一种基于三通道标志点的变形测量方法
本专利技术属于物体变形测量
，具体涉及一种基于三通道标志点的变形测量方法。
技术介绍
物体变形是自然界、工程技术、文物保护和日常生活中普遍存在的物理现象，在一些
，如工程技术、文物保护等领域，需要对物体变形进行精确测量。目前多采用数字图像相关的方法进行测量，数字图像相关技术(DIC)最初由美国南卡罗来纳州大学的Peters和日本的Yamaguchi于上世纪80年代初分别独立提出，是一种全场形貌、位移和变形测量的基于图像的非接触式光学方法。DIC技术首先使用数字成像设备(光学成像，电子成像及扫描探针成像设备等)获取被测对象在不同状态下的数字图像，然后使用基于相关性的匹配和数值微分方法进行图像分析，以定量计算被测对象的全场位移和全场应变。具体地，首先需要在待测体的表面喷涂大量散斑，形成散斑图案，然后用光源照射散斑，形成散斑图案，通过图像捕获装置采集变形前后的散斑图像，并进行相关计算处理，得到物体的精确变形场。该方法在材料力学、断裂力学、生物力学、现场实时测量、微尺度变形场测量、电子封装及动态位本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于三通道标志点的变形测量方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：/n步骤1，在待测物体表面设置三通道标志点，并采集待测物体表面变形前后的图像；/n步骤2，对图像中的三通道标志点进行位置检测和中心定位；/n步骤3，对变形前后图像中的同一标志点进行匹配，获得物体的全场位移。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于三通道标志点的变形测量方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：
步骤1，在待测物体表面设置三通道标志点，并采集待测物体表面变形前后的图像；
步骤2，对图像中的三通道标志点进行位置检测和中心定位；
步骤3，对变形前后图像中的同一标志点进行匹配，获得物体的全场位移。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤2包括以下子步骤：
步骤2-1，对标志点进行初步位置检测；
步骤2-2，对标志点进行整像素级别的中心定位；
步骤2-3，对步骤2-2中的标志点进行亚像素级别的中心定位。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤3包括以下子步骤：
步骤3-1，在待测物体变形前图像中获得每个标志点的特征信息；
步骤3-2，在待测物体变形后图像中获得每个标志点的特征信息；
步骤3-3，将待测物体变形前后图像中每个标志点的特征信息进行比对，获得匹配的同一标志点。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，步骤3-1中，所述特征信息为特征向量，包括位置和颜色信息。


5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，步骤3-1包括以下步骤：
步骤3-1-1，在变...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵健，马雪怡，马超臣，任晴，
申请(专利权)人：北京林业大学，
类型：发明
国别省市：北京;11