一种基于双线结构光扫描的高反射率表面三维测量方法技术

本发明专利技术公开了一种基于双线结构光扫描的高反射率表面三维测量方法，包括以下步骤，步骤一、对相机内、外参以及两个激光平面进行标定；步骤二、识别捕获图像中的左右激光光带，进行受扰区域抠除，然后进行条纹中心提取；步骤三、根据两组条纹中心以及相对应的标定参数计算物体在同一世界坐标系下的两组三维信息，两组点云进行融合，从而恢复物体三维形貌，通过构建双线结构光扫描系统，解决了激光光带质量受高强度镜面反射光干扰问题，利用图像处理算法对条纹膨胀区域进行去除，通过准确的条纹中心提取与双线结构光系统获得的两组点云数据融合，得到完整物体三维形貌，解决了镜面反射光影响激光条纹质量引起的三维信息计算错误，提高了测量精度。

A 3D measurement method of high reflectivity surface based on double line structured light scanning

【技术实现步骤摘要】
一种基于双线结构光扫描的高反射率表面三维测量方法
本专利技术涉及光电检测
，具体涉及一种基于双线结构光扫描的高反射率表面三维测量方法。
技术介绍
基于光学三角法的线结构光扫描技术以其稳定性强、成本经济、测量速度快、精度高等优点被广泛应用于产品质量检测。对普通朗伯表面物体三维激光扫描技术已经相当成熟，逐渐朝着高速度、高精度的方向发展。但是，线结构光扫描技术的原理在于根据空间三角关系，利用捕获条纹形变信息求取表面对应高度信息。由于条纹形变信息来自于物体表面受激光照射后的漫反射光成像，所以条纹的成像质量直接制约了形变信息的准确性。由于普通朗伯表面与反射表面光学性质、成像原理不同，需要加以区分。对于大量用于航空航天、仪器制造、机械加工、器件打磨等领域的金属表面、塑料模块、光学元件、瓷器等反射物体，由于镜面反射成分强烈，来自光泽表面的镜面反射光会使漫反射条纹强度饱和，出现多个峰值。不服从高斯分布的激光条纹会导致提取中心偏移真实条纹轮廓，计算得到的三维信息出现区域性错误。线结构光扫描系统中激光平面能量分布严格服从高斯曲线。对于普通亚光本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于双线结构光扫描的高反射率表面三维测量方法，其特征在于：包括以下步骤：/n步骤一、对相机内、外参以及两个激光平面进行标定；/n步骤二、识别捕获图像中的左右激光光带，进行受扰区域抠除，然后进行条纹中心提取；/n步骤三、根据两组激光光带中心以及相对应的标定参数计算物体在同一世界坐标系下的两组三维信息，两组点云进行融合，从而恢复物体三维形貌。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于双线结构光扫描的高反射率表面三维测量方法，其特征在于：包括以下步骤：
步骤一、对相机内、外参以及两个激光平面进行标定；
步骤二、识别捕获图像中的左右激光光带，进行受扰区域抠除，然后进行条纹中心提取；
步骤三、根据两组激光光带中心以及相对应的标定参数计算物体在同一世界坐标系下的两组三维信息，两组点云进行融合，从而恢复物体三维形貌...

【专利技术属性】
技术研发人员：钟可君，伏燕军，王朝旭，倪武，专宇浩，
申请(专利权)人：南昌航空大学，
类型：发明
国别省市：江西;36