一种电波多探头自动测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种电波多探头自动测试装置，包括屏蔽壳体，及安装于屏蔽壳体内的移动平台、若干检测仪表、用于固定被测产品的夹具，所述屏蔽壳体内的顶架上设有若干测试探头、相对设有X导轨、与X导轨配合的X滑块、与X滑块连接的X滑板以及驱动X滑块滑动的X驱动机构，所述X滑板上设有Y导轨、与Y导轨配合的Y滑块、与Y滑块连接的Y滑板，所述测试探头与对应的Y滑板连接，且所述测试探头排布成两列，所述顶架上还设有与Y导轨平行的直导轨、与直导轨配合的导轨滑块以及支板驱动机构，该导轨滑块上设有支撑板及拨块、驱动拨块伸缩的拨块驱动单元，所述支撑板通过支板驱动机构带动而移动，所述Y滑板上设有与该拨块相卡的卡槽。

An automatic test device of multi probe of electric wave

The utility model discloses an automatic test device of electric wave multi probe, which comprises a shielding shell, a moving platform installed in the shielding shell, a number of detection instruments, and a clamp for fixing the tested product. The top frame of the shielding shell is provided with a number of test probes, a relative x Guide rail, an X slide matching with the X guide rail, an X slide plate connected with the X slide plate, and a driving x slide plate The moving x drive mechanism is provided with y guide rail, y slide rail matched with y guide rail and Y slide plate connected with y slide rail. The test probe is connected with the corresponding y slide plate, and the test probe is arranged in two rows. The top frame is also provided with a straight guide rail parallel to y guide rail, a guide rail slide rail matched with the straight guide rail and a support plate drive mechanism. The guide rail slide block is provided with a support plate and a support plate The support plate is driven by the support plate driving mechanism, and the Y sliding plate is provided with a card slot which is clamped with the block.

【技术实现步骤摘要】
一种电波多探头自动测试装置
本技术涉及一种电波测试装置，特别是一种测试5G通信产品的多探头自动测试装置。
技术介绍
5G是第五代移动电话行动通信标准，也称第五代移动通信技术，外语缩写：5G。5G具有高速度、广泛覆盖、纵深覆盖、低功耗、低时延、万物互联、安全性好的优点，是新一代的通信标准。因而现在很多用于5G通信的产品被设计出来，但是产品生产后需要检测以保证产品的合格率，特别是针对5G基站天线。测试包括射频探头、很多检测仪表及一个移动平台，被测试产品放置于移动平台上，产品通过移动平台在不同的位置接收射频探头发送的信号，然后信号反馈数据给检测仪表，检测仪表显示这些数据给测试者，从而得知该产品的天线功能正常与否，但是不同的被测试产品上接收射频探头发送的信号的接收点的位置及数量均不同，因而为了便于适应对多种规格的被测试产品进行自动测试，我们设计了一种测试5G通信产品的多探头自动测试装置。
技术实现思路
为了克服现有技术的不足，本技术提供一种电波多探头自动测试装置。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种电波多探头自动测试装置，包括屏蔽壳体，及安装于屏蔽壳体内的移动平台、若干检测仪表、用于固定被测产品的夹具，屏蔽壳体一侧设有入口且相对另一侧设有出口，其特征在于:所述屏蔽壳体内的顶架上设有Y导向机构、带动Y导向机构向X方向移动的X移动机构、若干测试探头，所述测试探头安装于Y导向机构上，且所述顶架上还设有直导轨、与直导轨配合的导轨滑块以及支板驱动机构，该导轨滑块上设有支撑板，支撑板上设有拨块、驱动拨块伸缩的拨块驱动单元，所述支撑板通过支板驱动机构带动而移动，所述Y导向机构上设有与该拨块相卡的卡槽。所述X移动机构包括相对设有的X导轨、与X导轨配合的X滑块、与X滑块连接的X滑板以及驱动X滑块滑动的X驱动机构。所述X驱动机构包括X丝杆、X驱动电机及两X支座，所述X丝杆通过轴承设置于X支座上，X丝杆上设有与其配合的X螺母，所述X滑板与X螺母连接，所述X驱动电机带动X丝杆转动。所述Y导向机构包括设置于X滑板上的Y导轨、与Y导轨配合的Y滑块、与Y滑块连接的Y滑板，所述测试探头与对应的Y滑板连接，且所述测试探头排布成两列，所述直导轨与Y导轨平行，所述卡槽位于Y滑板上。所述屏蔽壳体内设有电刷组件，被测产品能够通过电刷组件与外接电源连通。所述屏蔽壳体内设有用于校正探头位置的校正机构，该校正机构包括校正探头、设置于屏蔽壳体底部的底导轨及与底导轨配合的底滑块，所述底滑块上设有底滑板，该底滑板上设有旋转电机及与旋转电机连接的支架，所述校正探头安装于支架上，所述底滑块通过底驱动机构带动而移动。所述底驱动机构包括底驱动电机及相对设置的底支座，两底支座上设有支座轴及安装于支座轴上的底带轮，所述底驱动电机与其中一底带轮连接，且两底带轮上设有带轮皮带，所述底滑板与带轮皮带连接。所述驱动单元为气缸。所述测试探头排布成数量相等的两列。所述支板驱动机构包括支板驱动电机及相对设置的支板支座，两支板支座上设有支板轴及安装于支板轴上的支板带轮，所述支板驱动电机与其中一支板带轮连接，且两支板带轮上设有支板皮带，所述支撑板与支板皮带连接。本技术的有益效果是：本结构的测试探头能够通过X导轨实现X方向的自动移动，且通过拨块的带动而实现Y方向的自动移动，从而我们在对不同规格的被测试产品进行测试时，测试探头都能够自动实现X和Y方向的自动移动，从而与测试产品上的相应点正对，从而具有较好的测试效果，不仅兼容性好，而且完全自动操作，从而缩短了测试的调试时间、提高了测试效率。附图说明下面结合附图和实施例对本技术进一步说明。图1是本技术的立体视图；图2是本技术的内部结构视图；图3是顶架部分的立体视图；图4是屏蔽壳体底部的立体视图；图5是屏蔽壳体底部另一角度的立体视图。具体实施方式参照图1至图5，本技术公开了一种电波多探头自动测试装置，包括方形的屏蔽壳体1，及安装于屏蔽壳体1内的移动平台、若干检测仪表、用于固定被测产品的夹具，屏蔽壳体1一侧设有入口且相对另一侧设有出口，所述屏蔽壳体1内的顶架2上设有若干测试探头3、相对设有X导轨4、与X导轨4配合的X滑块5、与X滑块5连接的X滑板以及驱动X滑块5滑动的X驱动机构，所述X驱动机构具体包括X丝杆6、X驱动电机7及两X支座8，所述X丝杆6通过轴承设置于X支座8上，X丝杆6上设有与其配合的X螺母9，所述X滑板与X螺母9连接，所述X驱动电机7带动X丝杆6转动。所述X滑板上设有Y导轨10、与Y导轨10配合的Y滑块11、与Y滑块11连接的Y滑板12，所述测试探头3与对应的Y滑板12连接，Y滑板12呈Z字形，上端与Y滑块11连接，测试探头3安装与下端的底面，这样测试探头3不会被Y滑板12或是其余部件阻挡，避免影响测试结果，且所述测试探头3排布成数量相等的两列，本申请中一共是八个测试探头3，所述顶架2上还设有与Y导轨10平行的直导轨13、与直导轨13配合的导轨滑块14以及支板驱动机构，该导轨滑块14上设有支撑板15及拨块16、驱动拨块16伸缩的拨块驱动单元17，所述支撑板15通过支板驱动机构带动而移动，所述Y滑板12上设有与该拨块16相卡的卡槽18，所述驱动单元为气缸。而支板驱动机构具体包括支板驱动电机19及相对设置的支板支座20，两支板支座20上设有支板轴及安装于支板轴上的支板带轮，所述支板驱动电机19与其中一支板带轮连接，且两支板带轮上设有支板皮带21，所述支撑板15与支板皮带21连接。上述结构的工作原理简述：本机构的测试探头3是分成两列的，每一列的测试探头3在X方向上是整体一起移动的，因为根据产品的特点不需要单个测试探头3分别在X方向移动，而且单个测试探头3分别在X方向移动需要增加对应的驱动和传动机构，成本也大大增加，而本申请的测试探头3在Y的移动是通过拨块16的带动而移动，而拨块16的伸缩是通过气缸推动来实现，而拨块16及气缸的移动是通过支板驱动机构带动而实现，这样的结构也尽量避免在每一测试探头3上设置驱动结构，从而造成成本增加及结构复杂，在一列的一侧只需一套驱动结构就能够实现该列的每一测试探头3的准确移动。如图所示，所述屏蔽壳体1内设有电刷组件22，被测产品23能够通过电刷组件22与外接电源连通，因为本被被测试产品在测试前还经过了老化测试，老化测试中产品的温度是比较高的，如果在从而老化测试到信号测试的过程中断电的话，造成被测试产品温度减低，而电子元件在不同的温度下工作效果是有差异的，因而会导致测试不准，因而需要被测试产品在移动输送的过程中也一直处于工作状态保持温度，而电刷组件22是外购的常规元件，因而具体的结构以及安装不详述。如图所示，所述屏蔽壳体1内设有用于校正探头位置的校正机构，该校正机构包括校正探头24、设置于屏蔽壳体1底部的底导轨25及与底导轨25配合的底滑块，所述底滑块上设有底滑板26，该底滑板26上设有旋转电机本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电波多探头自动测试装置，包括屏蔽壳体，及安装于屏蔽壳体内的移动平台、若干检测仪表、用于固定被测产品的夹具，屏蔽壳体一侧设有入口且相对另一侧设有出口，其特征在于:所述屏蔽壳体内的顶架上设有Y导向机构、带动Y导向机构向X方向移动的X移动机构、若干测试探头，所述测试探头安装于Y导向机构上，且所述顶架上还设有直导轨、与直导轨配合的导轨滑块以及支板驱动机构，该导轨滑块上设有支撑板，支撑板上设有拨块、驱动拨块伸缩的拨块驱动单元，所述支撑板通过支板驱动机构带动而移动，所述Y导向机构上设有与该拨块相卡的卡槽。/n

【技术特征摘要】
1.一种电波多探头自动测试装置，包括屏蔽壳体，及安装于屏蔽壳体内的移动平台、若干检测仪表、用于固定被测产品的夹具，屏蔽壳体一侧设有入口且相对另一侧设有出口，其特征在于:所述屏蔽壳体内的顶架上设有Y导向机构、带动Y导向机构向X方向移动的X移动机构、若干测试探头，所述测试探头安装于Y导向机构上，且所述顶架上还设有直导轨、与直导轨配合的导轨滑块以及支板驱动机构，该导轨滑块上设有支撑板，支撑板上设有拨块、驱动拨块伸缩的拨块驱动单元，所述支撑板通过支板驱动机构带动而移动，所述Y导向机构上设有与该拨块相卡的卡槽。


2.根据权利要求1所述的一种电波多探头自动测试装置，其特征在于：所述X移动机构包括相对设有的X导轨、与X导轨配合的X滑块、与X滑块连接的X滑板以及驱动X滑块滑动的X驱动机构。


3.根据权利要求2所述的一种电波多探头自动测试装置，其特征在于：所述X驱动机构包括X丝杆、X驱动电机及两X支座，所述X丝杆通过轴承设置于X支座上，X丝杆上设有与其配合的X螺母，所述X滑板与X螺母连接，所述X驱动电机带动X丝杆转动。


4.根据权利要求2所述的一种电波多探头自动测试装置，其特征在于：所述Y导向机构包括设置于X滑板上的Y导轨、与Y导轨配合的Y滑块、与Y滑块连接的Y滑板，所述测试探头与对应的Y滑板连接，且所述测试探头排布成两列，所述直导轨与Y导轨平行，所述卡槽位于Y滑板上。

【专利技术属性】
技术研发人员：胡呈祥，
申请(专利权)人：广东柏兹电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44