一种测氧法分析铝电解槽电解质的方法及其取样装置制造方法及图纸

一种测氧法分析铝电解槽电解质的方法，包括如下步骤：S6、将压片后的样品放入波长色散型X射线荧光光谱仪，测定出钠、钙、铝、硅、氟以及氧元素的含量；S7、根据S6中硅元素的质量推导出二氧化硅的质量；S8、根据S7中二氧化硅中氧元素的质量推导出二氧化硅中氧元素的质量；S9、根据S6中氧元素的质量减去S7中二氧化硅中氧元素的质量得到剩下的氧元素的质量进而推导出氧化铝的质量；S10、根据S9中氧化铝的质量得到氧化铝中铝元素的质量；S11、根据S6中铝元素的质量减去S10中氧化铝中铝元素的质量得到剩下的铝元素的质量从而推导出氟化铝的质量；S12、根据S6中钠元素的质量推导出氟化钠的质量。

A method of measuring oxygen to analyze electrolyte in aluminum electrolytic cell and its sampling device

【技术实现步骤摘要】
一种测氧法分析铝电解槽电解质的方法及其取样装置
本专利技术涉及电解质分析领域，具体涉及一种测氧法分析铝电解槽电解质的方法及其取样装置。
技术介绍
铝电解槽内的电解质中一般含有氟化钠、氟化铝、氟化钙、氧化铝、三氧化二铁以及二氧化硅，对于铝电解过程中电解质的分析，业内通行做法是用波长色散型X射线荧光光谱仪，是用分光近体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X射线波长和强度，从而测定各种元素的质量，然后在最终计算出氟化钠与氟化铝物质的量之比(摩尔比)，该法是通过带入设定氧化铝质量，即根据测定出的铝元素的质量减去氧化铝中铝的质量来推导出氟化铝的质量，进一步的根据钠元素的质量来推导出氟化钠的质量，从而计算出氟化钠与氟化铝物质的量之比(摩尔比)，该方法无法排除电解质中氧化铝质量不同对分子比测定结果的影响，导致分析结果偏差。
技术实现思路
本专利技术要提供一种测氧法分析铝电解槽电解质的方法及其取样装置，解决现有技术中无法排除电解质中氧化铝质量不同导致氟化钠与氟化铝物质的量之比存在偏差的问题。为实现上述目的，本专利技术采用了如下的技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测氧法分析铝电解槽电解质的方法，其特征在于，包括如下步骤：/nS1、取样：通过取样装置在铝电解槽中取出适量的熔融状态的电解质，得到样品；/nS2、将样品放入常温室内冷却4小时，电解质样品冷却形成固体；/nS3、称取S2中的样品的质量A；/nS4、对S3中的样品置于研磨装置中研磨成粉末状；/nS5、将S4中研磨成粉末装的样品置于压片机中压片，使用硼酸作为粘结剂，使得样品压片后有足够的强度以满足测量要求；/nS6、将压片后的样品放入波长色散型X射线荧光光谱仪，测定出钠、钙、铝、硅、铁、氟以及氧元素的含量；/nS7、根据S6中硅元素的质量推导出二氧化硅的质量，进而推导出二氧化硅中氧元素的质量...

【技术特征摘要】
1.一种测氧法分析铝电解槽电解质的方法，其特征在于，包括如下步骤：
S1、取样：通过取样装置在铝电解槽中取出适量的熔融状态的电解质，得到样品；
S2、将样品放入常温室内冷却4小时，电解质样品冷却形成固体；
S3、称取S2中的样品的质量A；
S4、对S3中的样品置于研磨装置中研磨成粉末状；
S5、将S4中研磨成粉末装的样品置于压片机中压片，使用硼酸作为粘结剂，使得样品压片后有足够的强度以满足测量要求；
S6、将压片后的样品放入波长色散型X射线荧光光谱仪，测定出钠、钙、铝、硅、铁、氟以及氧元素的含量；
S7、根据S6中硅元素的质量推导出二氧化硅的质量，进而推导出二氧化硅中氧元素的质量；
S8、根据S6中铁元素的质量推导出三氧化二铁的质量，进而推导出三氧化二铁中氧元素的质量；
S9、根据S6中氧元素的质量减去S7中二氧化硅中氧元素的质量再减去S8中三氧化二铁中氧元素的质量，得到剩下的氧元素的质量，进而推导出氧化铝的质量；
S10、根据S9中氧化铝的质量得到氧化铝中铝元素的质量；
S11、根据S6中铝元素的质量减去S10中氧化铝中铝元素的质量得到剩下的铝元素的质量，从而推导出氟化铝的质量；
S12、根据S6中钠元素的质量推导出氟化钠的质量；
S13、根据S11中氟化铝的质量计算出氟化铝的摩尔数，根据S12中氟化钠的质量计算出氟化钠的摩尔数，从而得到氟化钠与氟化铝物质的量之比。


2.应用于如根据权利要求1所述测氧法分析铝电解槽电解质的方法的取样装置，其特征在于，包括：收集座(1)以及连接杆(2)，所述连接杆(2)的一端与收集座(1)固定连接，所述收集座(1)侧壁凹陷形成收集槽(...

【专利技术属性】
技术研发人员：涂槐，秦剑锋，
申请(专利权)人：重庆天泰铝业有限公司，
类型：发明
国别省市：重庆;50