一种基于磁显微法的超导带材动态温度测量方法技术

本申请公开了一种基于磁显微法的超导带材动态温度测量方法，包括以下步骤：搭建通流平台，使超导带材产生自发磁场；配置温度传感器，采集超导带材的热分布场；配置低温扫描霍尔探针，检测超导带材的磁场分布；实时获取与分析热分布场与磁场分布信号，得到超导带材的动态温度分布。本发明专利技术在超导带材上采用多布点温度传感器来实现对其温度的分布测量，利用低温扫描霍尔探针检测磁场分布的异常变化，捕捉超导带材失超点。通流的同时利用低温扫描霍尔探针测量自发磁场值，在超导带材失超时，通过温度异常变化与磁场异常变化的时间找到迟滞时间，从而实现时间尺度上的校准，最终得到实际的可定位的超导带材动态温度分布，误差小，效率高。

A dynamic temperature measurement method of superconducting strip based on magneto microscopy

【技术实现步骤摘要】
一种基于磁显微法的超导带材动态温度测量方法
本专利技术属于超导带材温度测量
，涉及一种基于磁显微法的超导带材动态温度测量方法。
技术介绍
超导设备在运行期间，一旦发生失超，通流能力会下降，如不采取措施会带来不可逆性损伤，因此在设备运行期间对其的监测和保护尤为重要。超导带材在失超时的物理特性变化会表现在多个方面，包括温度、电流和磁场等。根据超导带材的温度特性及周围磁场变化，当超导带材失超时会局部产生热点，导致局部温升，可通过在超导带材上布置多个温度传感器进行动态温度测量，以定位失超点。然而，实验证明，当被测温度突然发生变化时，温度传感器的输出会延迟一段时间，这段时间一般称为纯滞后或纯时延。在测量超导带材温度时，若不修正温度传感器的时间常数和滞后，将导致测量的结果出现偏差。
技术实现思路
为解决现有技术中的不足，本申请提供一种基于磁显微法的超导带材动态温度测量方法。为了实现上述目标，本申请采用如下技术方案：一种基于磁显微法的超导带材动态温度测量方法，所述方法包括以下步骤：步骤一：搭建通流平台本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于磁显微法的超导带材动态温度测量方法，其特征在于：/n所述方法包括以下步骤：/n步骤一：搭建通流平台，使超导带材(6)处于低温环境并产生自发磁场；/n步骤二：配置温度传感器(4)，采集超导带材(6)的热分布场；/n配置低温扫描霍尔探针(2)，检测超导带材(6)的磁场分布；/n步骤三：实时获取与分析热分布场与磁场分布信号，得到超导带材(6)的动态温度分布。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于磁显微法的超导带材动态温度测量方法，其特征在于：
所述方法包括以下步骤：
步骤一：搭建通流平台，使超导带材(6)处于低温环境并产生自发磁场；
步骤二：配置温度传感器(4)，采集超导带材(6)的热分布场；
配置低温扫描霍尔探针(2)，检测超导带材(6)的磁场分布；
步骤三：实时获取与分析热分布场与磁场分布信号，得到超导带材(6)的动态温度分布。


2.根据权利要求1所述的一种基于磁显微法的超导带材动态温度测量方法，其特征在于：
步骤一具体为：将绝缘板(7)置于上开口的箱体(3)的底部，将超导带材(6)固定在绝缘板(7)上，超导带材(6)两端通过铜导线(1)与大电流发生装置连接，得到通流平台，使超导带材(6)产生自发磁场；
所述箱体(3)内注入浸没超导带材(6)的液氮(5)，使超导带材(6)处于低于零下200℃的低温环境。


3.根据权利要求2所述的一种基于磁显微法的超导带材动态温度测量方法，其特征在于：
步骤二具体为：将多个温度传感器(4)贴附在超导带材(6)的表面，采集超导带材(6)的热分布场；
将低温扫描霍尔探针(2)置于超导带材(6)的上方，检测超导带材(6)的磁场分布。


4.根据权利要求3所述的一种基于磁显微法的超导带材动态温度测量方...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭亚雄，周湶，潘家骏，李剑，陈伟根，王有元，杜林，王飞鹏，黄正勇，万福，
申请(专利权)人：重庆大学，
类型：发明
国别省市：重庆;50