【技术实现步骤摘要】
一种矿物分析用电子探针样本持装置
本技术涉及夹持
，尤其涉及一种矿物分析用电子探针样本持装置。
技术介绍
电子探针是一种利用电子束作用样品后产生的特征X射线进行微区成分分析的仪器，可以用来分析薄片中矿物微区的化学组成，除H、He、Li、Be等几个较轻元素外，还有U元素以后的元素以外都可进行定性和定量分析，使用时需要用夹持装置将样品固定，但现有的矿物分析用电子探针样本持装置在使用时容易发生偏移，导致样品边缘受到损坏，造成浪费，影响样品的检测，使后续分析造成偏差，并且调整样品时容易发生遮挡，导致样品目标丢失，增加了工作难度，浪费时间，降低了实用性，不符合现代人的使用需求。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决现有技术中存在现有的矿物分析用电子探针样本持装置在使用时容易发生偏移，导致样品边缘受到损坏，造成浪费，影响样品的检测，使后续分析造成偏差，并且调整样品时容易发生遮挡，导致样品目标丢失，增加了工作难度，浪费时间，降低了实用性的缺点，而提出的一种矿物分析用电子探针样本持装置。为了实现上述目的，本技术...
【技术保护点】
1.一种矿物分析用电子探针样本持装置，包括凹板(1)，其特征在于，所述凹板(1)的顶部左右两侧均加工有滑槽(6)，两个所述滑槽(6)的内部均安装有夹持机构(2)，两个所述夹持机构(2)的正面均安装有固定机构(3)，所述凹板(1)的顶部加工有凹槽(7)，所述凹槽(7)的内部安装有转动机构(4)，所述凹板(1)的底部固接有宽板(8)，所述宽板(8)的外壁底部滑动卡接有底板(9)，所述底板(9)的内部安装有调整机构(5)。/n
【技术特征摘要】
1.一种矿物分析用电子探针样本持装置，包括凹板(1)，其特征在于，所述凹板(1)的顶部左右两侧均加工有滑槽(6)，两个所述滑槽(6)的内部均安装有夹持机构(2)，两个所述夹持机构(2)的正面均安装有固定机构(3)，所述凹板(1)的顶部加工有凹槽(7)，所述凹槽(7)的内部安装有转动机构(4)，所述凹板(1)的底部固接有宽板(8)，所述宽板(8)的外壁底部滑动卡接有底板(9)，所述底板(9)的内部安装有调整机构(5)。
2.根据权利要求1所述的一种矿物分析用电子探针样本持装置，其特征在于，所述夹持机构(2)包括弹簧(201)、方块(202)、竖板(203)、横杆(204)和把手(205)，所述弹簧(201)的右侧与滑槽(6)的内壁右侧相固接，所述弹簧(201)的左侧与方块(202)的右侧相固接，所述方块(202)的顶部与竖板(203)的底部相固接，所述竖板(203)的右侧与横杆(204)的左侧相固接，所述横杆(204)的外壁与凹板(1)的右侧间隙配合，所述横杆(204)的右侧与把手(205)的左侧相固接。
3.根据权利要求2所述的一种矿物分析用电子探针样本持装置，其特征在于，所述方块(202)和滑槽(6)组成滑动机构。
4.根据权利要求1所述的一种矿物分析用电子探针样本持装置，其特征在于，所述固定机构(3)包括短板(301)、第一螺纹杆(302)、第一握把...
【专利技术属性】
技术研发人员：冷成彪，李凯旋，陈喜连，陈加杰，
申请(专利权)人：东华理工大学，
类型：新型
国别省市：江西;36
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