基于企业GMQM的AOI可编辑线缺陷分类方法及系统技术方案

技术编号:24356867 阅读:78 留言:0更新日期:2020-06-03 02:45
本申请公开了一种基于企业GMQM的AOI可编辑线缺陷分类方法及系统,所述方法包括:对线缺陷Code字典进行离线编辑,更新线缺陷Code字典;通过AOI对液晶面板图像进行各类缺陷检测;判断液晶面板图像中是否存在线缺陷;若液晶面板图像中存在线缺陷,则获取线缺陷特征;根据线缺陷特征对线缺陷Code字典中相应的线缺陷Code进行赋值;将赋值后的线缺陷Code上传至质量管理系统GMQM。本申请中GMQM的线缺陷Code字典可进行自主编辑,实现了用户依据自身GMQM中的缺陷种类进行线缺陷分类及分析,方便了用户查询线缺陷中每类缺陷发生概率,进而改善了生产工艺,减少了系统性缺陷发生概率,提高了企业效益。

AOI editable line defect classification method and system based on gmqm

【技术实现步骤摘要】
基于企业GMQM的AOI可编辑线缺陷分类方法及系统
本申请涉及缺陷检测
,尤其涉及一种基于企业GMQM的AOI可编辑线缺陷分类方法及系统。
技术介绍
随着手机、车载以及TV等可显示电子产品的快速更新换代,市场对液晶面板的需求越来越大。屏幕生产过程中,大部分检测主要依赖人工,而现有的人工缺陷检测效率低、认为误差大,已不再适应急速增长的生产需求,基于工业相机的AOI(AutiomaticOpticInspection,自动光学检测)技术逐渐成为主流。液晶面板需求量增大,客户对面板质量要求不断提高,GMQM(GrandMasterofQualityManagement,质量管理大师)已逐步在各大液晶面板企业使用,企业运用GMQM的方法,不仅能加速生产流程,使流程更加优化简洁,而且还可以依据记录的缺陷类型以及Code减少系统性缺陷发生概率,协助分析系统性缺陷发生原因,改善生产工艺,降低经营质量成本和现场维成本,减少经营亏损,从而使企业的效益提升。但是,目前AOI检测技术主要基于传统机器视觉算法设计将缺陷检出,在AOI检测系统内部依本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于企业GMQM的AOI可编辑线缺陷分类方法,其特征在于,所述方法包括:/n对线缺陷Code字典进行离线编辑,更新线缺陷Code字典;/n通过AOI对液晶面板图像进行各类缺陷检测;/n判断所述液晶面板图像中是否存在线缺陷;/n若所述液晶面板图像中存在线缺陷,则获取所述线缺陷的特征;/n根据所述线缺陷的特征对所述线缺陷Code字典中相应的线缺陷Code进行赋值;/n将赋值后的线缺陷Code上传至质量管理系统GMQM。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于企业GMQM的AOI可编辑线缺陷分类方法,其特征在于,所述方法包括:
对线缺陷Code字典进行离线编辑,更新线缺陷Code字典;
通过AOI对液晶面板图像进行各类缺陷检测;
判断所述液晶面板图像中是否存在线缺陷;
若所述液晶面板图像中存在线缺陷,则获取所述线缺陷的特征;
根据所述线缺陷的特征对所述线缺陷Code字典中相应的线缺陷Code进行赋值;
将赋值后的线缺陷Code上传至质量管理系统GMQM。


2.根据权利要求1所述的基于企业GMQM的AOI可编辑线缺陷分类方法,其特征在于,对线缺陷Code字典进行离线编辑,更新线缺陷Code字典,包括:
在企业GMQM中添加类型线缺陷Code;
设定所述类型线缺陷优先级;
设定所述类型线缺陷的特征;
更新所述企业GMQM的线缺陷Code字典。


3.根据权利要求2所述的基于企业GMQM的AOI可编辑线缺陷分类方法,其特征在于,设定所述类型线缺陷的特征,包括:
设定所述类型线缺陷的个数;
判断所述类型线缺陷的个数是否达到第一预设值;
若所述类型线缺陷的个数未达到第一预设值,则设定所述类型线缺陷的面积占比;
判断所述面积占比是否达到第二预设值;
若所述面积占比达到第二预设值,则检测所述线缺陷上的点;
根据所述线缺陷上的点设定所述线缺陷的线宽。


4.根据权利要求1所述的基于企业GMQM的AOI可编辑线缺陷分类方法,其特征在于,通过AOI对液晶面板图像进行各类型缺陷检测,包括:
通过工业相机采集所述液晶面板的不同画面;
通过AOI对采集的液晶面板图像进行缺陷检测,获得所述液晶面板的各类缺陷。


5.根据权利要求1所述的基于企业GMQM的AOI可编辑线缺陷分类方法,...

【专利技术属性】
技术研发人员:卢迎彬姚毅
申请(专利权)人:凌云光技术集团有限责任公司
类型:发明
国别省市:北京;11

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