一种FLASH接口电路制造技术

本发明专利技术公开了一种FLASH接口电路。本发明专利技术中：数据采集处理模块将处理后的数据传输到验证1模块、命令状态机1模块和仿真模块；验证1模块输出验证结果到命令状态机1模块和仿真模块；命令状态机1模块和仿真模块向CPU和FLASH输出控制信号；命令状态机1模块还将控制信号传输至数据输出模块；命令状态机2模块和验证2模块接收总传输的数据；命令状态机2模块输出控制信号控制FLASH。本发明专利技术通过数据采集模块通过寄存器采集数据，可以使用不同频率的振荡器，从而实现适应不同频率的CPU，可以对振荡器的频率进行校准；将仿真、烧录、编程等功能组合在一起，一个模块实现多种功能；并且细化了命令，提高了上位机对单片机的控制。

A flash interface circuit

【技术实现步骤摘要】
一种FLASH接口电路
本专利技术属于接口电路
，特别是涉及一种FLASH接口电路。
技术介绍
作为单片机重要的组成部分，FLASH的作用十分重要，但是现在FLASH接口的功能十分有限，仅仅只能进行读写烧录，十分局限。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种FLASH接口电路，通过数据采集模块通过寄存器采集数据，可以使用不同频率的振荡器，从而实现适应不同频率的CPU，可以对振荡器的频率进行校准；将仿真、烧录、编程等功能组合在一起，一个模块实现多种功能；并且细化了命令，提高了上位机对单片机的控制。为解决上述技术问题，本专利技术是通过以下技术方案实现的：本专利技术为一种FLASH接口电路，包括FLASH接口；所述FLASH接口直接与FLASH连接，并通过总线与CPU连接，通过外部引脚与上位机连接；所述FLASH接口包括数据采集处理模块、验证1模块、验证2模块、命令状态机1模块、命令状态机2模块和数据输出模块，所述数据采集处理模块的采集输入引脚的输入数据；所述数据采集处理模块将处理后的数据传输到验证1模块、命令状态机1模块和仿真模块；所述验证1模块输出验证结果到命令状态机1模块和仿真模块；所述命令状态机1模块和仿真模块向CPU和FLASH输出控制信号；所述命令状态机1模块还将控制信号传输至数据输出模块；所述数据输出模块通过输出引脚将数据输出；所述命令状态机2模块和验证2模块接收总传输的数据；所述验证2模块输出验证结果至命令状态机2模块，所述命令状态机2模块输出控制信号控制FLASH。进一步地，所述验证1模块验证上位机的数据信息，所述验证2模块用于验证CPU的数据信息。进一步地，所述数据采集处理模块包括一寄存器；所述数据采集处理模块在振荡器时钟边沿获取引脚上的状态，在外部输入的时钟线边沿存储在寄存器中，其中，所述寄存器中存储的数据经过处理后转换为8位或16位的数据或者6位的命令，并传输至验证1模块、命令状态机1模块和仿真模块。进一步地，所述仿真模块用于输出控制程序运行的使能信号；所述仿真模块在仿真时根据数据采集处理模块传输的命令运行使能信号。进一步地，所述数据输出模块用于根据上位机的命令反馈数据信息。本专利技术具有以下有益效果：本专利技术中数据采集模块通过寄存器采集数据，可以使用不同频率的振荡器，从而实现适应不同频率的CPU，可以对振荡器的频率进行校准；将仿真、烧录、编程等功能组合在一起，一个模块实现多种功能；并且细化了命令，提高了上位机对单片机的控制。当然，实施本专利技术的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为一种FLASH接口电路的系统框图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1所示，本专利技术为一种FLASH接口电路，包括FLASH接口；FLASH接口直接与FLASH连接，并通过总线与CPU连接，通过外部引脚与上位机连接；其特征在于：FLASH接口包括数据采集处理模块、验证1模块、验证2模块、命令状态机1模块、命令状态机2模块和数据输出模块，数据采集处理模块的采集输入引脚的输入数据；数据采集处理模块将处理后的数据传输到验证1模块、命令状态机1模块和仿真模块；验证1模块输出验证结果到命令状态机1模块和仿真模块；命令状态机1模块和仿真模块向CPU和FLASH输出控制信号；命令状态机1模块还将控制信号传输至数据输出模块；数据输出模块通过输出引脚将数据输出；命令状态机2模块和验证2模块接收总传输的数据；验证2模块输出验证结果至命令状态机2模块，命令状态机2模块输出控制信号控制FLASH。进一步地，验证1模块验证上位机的数据信息，验证2模块用于验证CPU的数据信息。进一步地，数据采集处理模块包括一寄存器；数据采集处理模块在振荡器时钟边沿获取引脚上的状态，在外部输入的时钟线边沿存储在寄存器中，其中，寄存器中存储的数据经过处理后转换为8位或16位的数据或者6位的命令，并传输至验证1模块、命令状态机1模块和仿真模块。进一步地，仿真模块用于输出控制程序运行的使能信号；仿真模块在仿真时根据数据采集处理模块传输的命令运行使能信号；其中跑命令就拉高使能信号；暂停命令就拉低使能信号；单步跑命令就拉高使能信号一个时钟；跳过子程序和跳出子程序命令，由于运行子程序的时候进行了跳转，会用到堆栈相关的PUSH和POP指令，根据他们的使用次数来控制使能信号。跳过子程序命令运行经过一次PUSH和一次POP后停止；跳出子程序命令经过一次POP后停止。进一步地，数据输出模块用于根据上位机的命令反馈数据信息，其中数据输出模块的功能是在上位机发送特定命令后，数据线的控制权转移给FLASH接口后，FLASH接口根据此时的地址输出相应数据给上位机。除了FLASH内的数据，还可以输出芯片的PID，运行状态，PC指针，堆栈指针等。其中，命令命令状态机1模块控制信号有两种方式，其中一个是通过特殊地址寄存器控制使能信号，另一个是通过状态的转变控制脉冲信号。实施例一：本实施例为命令状态机1模块的工作流程：命令状态机1模块在上位机通过验证后，它将处于空闲状态；除了空闲状态外，还有多个状态，该状态为并列的关系；命令状态机1模块接收命令后，从空闲状态转移到其它状态，这时有的状态会在接收或发生数据地址后回到空闲状态，有的需要发送相应命令才能回到空闲状态。不会出现从一种非空闲状态转移的另一非空闲状态的情况；通过命令状态机1模块可以进行振荡器校准，校准的方式是通过测试命令写入代码，把定时器0的时基设为高频振荡器，然后设置PWM0的输出，通过测试它的输出计算振荡器的频率，然后使用校准字进行校准，使振荡器的频率达到或接近设计的值。然后将校准字存储到FLASH中保存。通过命令状态机1模块可以使FLASH进入BIST模式，可以对FLASH进行全面详尽的测试；其中，控制命令状态机1的控制命令有18条，根据分类，命令+16bit数据型有CMD_LA装载地址命令、CMD_LM写特殊地址寄存器命令、CMD_FT程序测试命令；命令+n8bit数据型只有CMD_LD装载数据命令；命令型有仿真命令CMD_RS仿真复位、CMD_RUN仿真跑、CMD_SP仿真单步跑、CMD_SV仿真跳过子程序、CMD_SO仿真跳出子程序、、CMD_ST仿真暂停、CMD_BP开始命令、CMD_BIST进本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种FLASH接口电路，包括FLASH接口；所述FLASH接口直接与FLASH连接，并通过总线与CPU连接，通过外部引脚与上位机连接；其特征在于：所述FLASH接口包括数据采集处理模块、验证1模块、验证2模块、命令状态机1模块、命令状态机2模块和数据输出模块，所述数据采集处理模块的采集输入引脚的输入数据；/n所述数据采集处理模块将处理后的数据传输到验证1模块、命令状态机1模块和仿真模块；/n所述验证1模块输出验证结果到命令状态机1模块和仿真模块；所述命令状态机1模块和仿真模块向CPU和FLASH输出控制信号；/n所述命令状态机1模块还将控制信号传输至数据输出模块；所述数据输出模块通过输出引脚将数据输出；/n所述命令状态机2模块和验证2模块接收总传输的数据；所述验证2模块输出验证结果至命令状态机2模块，所述命令状态机2模块输出控制信号控制FLASH。/n

【技术特征摘要】
1.一种FLASH接口电路，包括FLASH接口；所述FLASH接口直接与FLASH连接，并通过总线与CPU连接，通过外部引脚与上位机连接；其特征在于：所述FLASH接口包括数据采集处理模块、验证1模块、验证2模块、命令状态机1模块、命令状态机2模块和数据输出模块，所述数据采集处理模块的采集输入引脚的输入数据；
所述数据采集处理模块将处理后的数据传输到验证1模块、命令状态机1模块和仿真模块；
所述验证1模块输出验证结果到命令状态机1模块和仿真模块；所述命令状态机1模块和仿真模块向CPU和FLASH输出控制信号；
所述命令状态机1模块还将控制信号传输至数据输出模块；所述数据输出模块通过输出引脚将数据输出；
所述命令状态机2模块和验证2模块接收总传输的数据；所述验证2模块输出验证结果至命令状态机2模块，所述命令状态机2模块输出控制信号控制FLASH。

【专利技术属性】
技术研发人员：岳卫杰，
申请(专利权)人：合肥磐芯电子有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34