一种NOR flash配置模块验证方法、系统、装置和存储介质制造方法及图纸

技术编号:24352800 阅读:28 留言:0更新日期:2020-06-03 01:56
本发明专利技术涉及半导体测试领域,尤其涉及一种NOR flash配置模块验证方法,通过生成config序列和flash序列,基于指令从config序列中提取config激励数据包,从flash序列中提取flash激励数据包;利用所述config激励数据包和所述flash激励数据包先进行第一仿真操作以输出第一仿真结果;注入比对模型,再进行第二仿真操作以输出第二仿真结果;最终比对第一仿真结果和第二仿真结果,比对正确则仿真结束,比对有误,完成错误统计仿真结束。通过设计config序列,能够针对不同算法阶段、仿真模式,随机生成符合要求的配置值,扩大验证空间,提高验证的完备性;基于比对模型,能够精确输出作为比对基准的第二仿真结果,并自动比对第一仿真结果与第二仿真结果,提高验证准确度和验证效率。

A verification method, system, device and storage medium of NOR flash configuration module

【技术实现步骤摘要】
一种NORflash配置模块验证方法、系统、装置和存储介质
本专利技术涉及半导体测试领域,尤其涉及一种NORflash配置模块验证方法、系统、装置和存储介质。
技术介绍
NORflash配置模块在flash芯片中具有独立的存储空间,根据flash容量和功能的不同,其配置值各不相同。该模块负责芯片上电配置、读写擦算法模式选择、模式配置、模拟电路电压和电流选择等,其作为flash芯片基本功能模块,贯穿整个芯片验证周期,在芯片验证期间具有至关重要的作用。目前,NORflash配置模块验证主要采用单配置值人为设置、验证结果人为查验或半自动比对的方式。然而,应用场景、配置模块功能日益繁杂,该验证方法需要占用大量的项目时间,且难以保证验证的完备性,出现了验证速度慢、验证可靠性低的问题。
技术实现思路
鉴于上述现有技术的不足,本专利技术旨在于提供一种NORflash配置模块验证方法、系统、装置和可存储介质,旨在解决现有NORflash配置模块验证方案验证速度慢、验证可靠性低的问题。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种NOR flash配置模块验证方法,其特征在于,包括步骤:/n生成config序列和flash序列,基于指令从config序列中提取config激励数据包,从flash序列中提取flash激励数据包;/n利用所述config激励数据包和所述flash激励数据包进行第一仿真操作以输出第一仿真结果;/n注入比对模型,利用所述config激励数据包和所述flash激励数据包进行第二仿真操作以输出第二仿真结果;/n比对第一仿真结果和第二仿真结果,比对正确则仿真结束,比对有误,完成错误统计仿真结束。/n

【技术特征摘要】
1.一种NORflash配置模块验证方法,其特征在于,包括步骤:
生成config序列和flash序列,基于指令从config序列中提取config激励数据包,从flash序列中提取flash激励数据包;
利用所述config激励数据包和所述flash激励数据包进行第一仿真操作以输出第一仿真结果;
注入比对模型,利用所述config激励数据包和所述flash激励数据包进行第二仿真操作以输出第二仿真结果;
比对第一仿真结果和第二仿真结果,比对正确则仿真结束,比对有误,完成错误统计仿真结束。


2.根据权利要求1所述的NORflash配置模块验证方法,其特征在于,所述比对模型为SystemVerilog参考模型。


3.根据权利要求1所述的NORflash配置模块验证方法,其特征在于,采用Perl脚本完成错误统计。


4.根据权利要求1所述的NORflash配置模块验证方法,其特征在于,采用spi协议从flash序列中提取flash激励数据包。


5.根据权利要求1所述的NORflash配置模块验证方法,其特征在于,所述第二仿真操作实现Norflash内部算法功能。


6.根据权利要求1所述的NORflash配置模块验证方法,其特征在于,config...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈胜源
申请(专利权)人:深圳市芯天下技术有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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