氧化锌晶界老化迁移离子鉴别方法技术

一种氧化锌晶界老化迁移离子鉴别方法,将Bi系准双晶样品进行老化实验，并采用C‑V法进行测量，获得样品于电气老化过程中的双肖特基势垒参数变化，将该参数变化作为仿真参数与预测的晶界老化特性进行对比，进行本证迁移离子缺陷鉴别。其有益效果是：在晶界老化过程仿真计算中沿用了无限薄晶间层的模型，并对刘俊等人的工作进行了相应的改进，尤其是对参数的选择进行了优化。

Identification of aging migration ions in zinc oxide grain boundaries

【技术实现步骤摘要】
氧化锌晶界老化迁移离子鉴别方法
本专利技术涉及氧化锌晶界结构研究领域，特别是一种氧化锌晶界老化迁移离子鉴别方法。
技术介绍
刘俊等曾提出了一种描述单晶界老化过程的仿真算法，该算法的核心在于对电场作用下双肖特基势垒区域离子的迁移、中和行为导致势垒高度降低过程的刻画。在刘俊等人的工作中，为了建模的简便，将晶界结构中具有一定厚度的晶间层抽象为无限薄。缺陷离子为了完成一次跃迁过程，即从一处半稳定位置运动至相邻半稳定位置，需要克服一个高度为U0的能量势垒。这种缺陷离子的跃迁过程的持续进行造成的离子的扩散即构成了离子“迁移”过程。此处必须指出，缺陷离子完成一次特定方向的跃迁的具体方式多种多样，如可与相邻的晶格原子发生交换或沿间隙路径运动等[76]，但无论如何，缺陷总是会选择所需能量最低的方式完成迁移，此外离子沿不同方向跃迁时的最低迁移势垒亦可不同。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了解决上述问题，设计了一种氧化锌晶界老化迁移离子鉴别方法。具体设计方案为：一种氧化锌晶界老化迁移离子鉴别方法,将Bi系准双晶样品进行老化实验本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种氧化锌晶界老化迁移离子鉴别方法,其特征在于，将Bi系准双晶样品进行老化实验，并采用C-V法进行测量，获得样品于电气老化过程中的双肖特基势垒参数变化，将该参数变化作为仿真参数与预测的晶界老化特性进行对比，进行本证迁移离子缺陷鉴别，具体的鉴别步骤为，对应于制备的[0001]Bi系准双晶样品，施加的直流电场垂直于晶界平面且平行于[0001]轴，晶界老化过程仿真中缺陷离子的振动频率取值为A1-纵向光学(A1-LO)对称频率，对单体缺陷Zn i与VO、复合型缺陷VO-Zn i进行鉴别。/n

【技术特征摘要】
1.一种氧化锌晶界老化迁移离子鉴别方法,其特征在于，将Bi系准双晶样品进行老化实验，并采用C-V法进行测量，获得样品于电气老化过程中的双肖特基势垒参数变化，将该参数变化作为仿真参数与预测的晶界老化特性进行对比，进行本证迁移离子缺陷鉴别，具体的鉴别步骤为，对应于制备的[0001]Bi系准双晶样品，施加的直流电场垂直于晶界平面且平行于[0001]轴，晶界老化过程仿真中缺陷离子的振动频率取值为A1-纵向光学(A1-LO)对称频率，对单体缺陷Zni与VO、复合型缺陷VO-Zni进行鉴别。


2.根据权利要求1中所述的氧化锌晶界老化迁移离子鉴别方法，其特征在于，所述老化实验中，将Bi系准双晶样品使用+3V直流偏置进行老化实验，环境温度保持为320K，老化时间每隔24小时。


3.根据权利要求1中所述的氧化锌晶界老化迁移离子鉴别方法，其特征在于，所述双肖特基势垒参数变化包括耗尽层施主浓度、界面态密度、双肖特基势垒高度的参数化。


4.根据权利要求1中所述的氧化锌晶界老...

【专利技术属性】
技术研发人员：何金良，孟鹏飞，胡军，程晨璐，谢清云，谷山强，曹伟，万帅，刘宇舜，
申请(专利权)人：清华大学，国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司，西安西电避雷器有限责任公司，国网安徽省电力有限公司，国家电网有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11