一种电阻原材料检测装置制造方法及图纸

技术编号:24270185 阅读:50 留言:0更新日期:2020-05-23 13:48
本实用新型专利技术公开了一种电阻原材料检测装置,包括测试箱、第一隔热层、上盖、第二隔热层、把手、隔板、加热丝、温度传感器、支架、固定环、螺钉、电阻丝、放置口、温度调节器、冷却箱、半导体制冷片、风口和气泵。本实用新型专利技术通过温度调节器可以调节测试箱内的温度,从而可以测量电阻原材料在不同温度下的阻值,使用者可以根据不同温度下电阻原材料的阻值进行绘图,以便于获知该电阻原材料阻值随温度变化的曲线,从而方便后期制作相应的电阻;通过半导体制冷片和气泵的共同作用,可以将冷风吹入测试箱内,从而实现快速冷却测试箱内部的温度,在一定程度上可以加快检测速度,该装置结构简单,使用方便,适合推广使用。

A resistance raw material testing device

【技术实现步骤摘要】
一种电阻原材料检测装置
本技术涉及一种电阻检测装置,具体是一种电阻原材料检测装置,属于电阻检测设备

技术介绍
电阻元件的电阻值大小一般与温度有关,还与导体长度、横截面积和材料有关,多数的金属电阻随温度的升高而升高,一些半导体却相反,制作电阻的原材料一般为金属材质,在制作电阻之前,通常需要对电阻原材料进行检测。由于电阻与温度有关,不同温度下,相同的电阻原材料阻值不同,由于电阻在使用过程中会发热,导致阻值变化,所以在使用原材料制作电阻之前,需要检测电阻原材料阻值与温度的关系,方便后期加工电阻;并且,由于检测电阻原材料阻值与温度之间的关系时,通常是通过检测多个原材料,以便于获取平均值,但是在检测环境加热后,无法快速的恢复常温,导致降低检测效率。因此,针对上述问题提出一种电阻原材料检测装置。
技术实现思路
本技术的目的就在于为了解决上述问题而提供一种电阻原材料检测装置。本技术通过以下技术方案来实现上述目的,一种电阻原材料检测装置,包括测试机构和降温机构;所述测试机构包括测试箱、上盖、隔板、加热丝和温度传感器,所述测试箱的顶部卡接有上盖,所述测试箱的内壁套接有隔板,所述测试箱的底部内壁等距固接有若干相同的加热丝,所述测试箱的侧壁固接有温度传感器,所述测试箱的外壁对称固接有两个相同的支架,两个所述支架的顶端均固接有固定环,所述固定环的内部活动套接电阻丝的一端,所述电阻丝的另外一端从左至右依次贯穿两个放置口和另外一个固定环,两个所述放置口分别开设在测试箱的两个相对的侧壁,所述固定环的顶部螺纹连接有螺钉;所述降温机构包括冷却箱、半导体制冷片、风口和气泵,所述测试箱的侧壁固接有冷却箱,所述冷却箱的顶部均匀内嵌安装有若干相同的半导体制冷片,所述冷却箱在远离测试箱的侧壁等距开设有若干相同的风口,所述冷却箱的底部内壁固接有气泵,所述气泵的出风端依次贯穿冷却箱的侧壁和测试箱的侧壁并置于测试箱的内部。优选的,所述测试箱的内壁贴合有第一隔热层,所述测试箱与所述第一隔热层的厚度相同。优选的,所述上盖的底部贴合有第二隔热层,所述第二隔热层的厚度与第一隔热层的厚度相同。优选的,所述上盖的顶部固接有把手,所述把手与上盖在竖直方向上的中轴线位于同一条直线上。优选的,所述测试箱的外壁固接有温度调节器,所述温度调节器电性连接温度传感器与若干加热丝。优选的,所述半导体制冷片的制冷端置于冷却箱的内部,所述冷却箱的放热端置于冷却箱的外部。本技术的有益效果是:1、本技术通过温度调节器可以调节测试箱内的温度,从而可以测量电阻原材料在不同温度下的阻值,使用者可以根据不同温度下电阻原材料的阻值进行绘图,以便于获知该电阻原材料阻值随温度变化的曲线,从而方便后期制作相应的电阻;2、通过半导体制冷片和气泵的共同作用,可以将冷风吹入测试箱内,从而实现快速冷却测试箱内部的温度,在一定程度上可以加快检测速度,该装置结构简单,使用方便,适合推广使用。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图。图1为本技术正视剖面结构示意图;图2为本技术左视剖面结构示意图;图3为本技术图2中A处放大结构示意图。图中:1、测试箱,2、第一隔热层,3、上盖,4、第二隔热层,5、把手,6、隔板,7、加热丝,8、温度传感器,9、支架,10、固定环,11、螺钉,12、电阻丝,13、放置口,14、温度调节器,15、冷却箱,16、半导体制冷片,17、风口,18、气泵。具体实施方式为使得本技术的技术目的、特征、优点能够更加的明显和易懂,下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,下面所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而非全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本技术保护的范围。下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本技术的技术方案。在本技术的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。请参阅图1-3所示,一种电阻原材料检测装置,包括测试机构和降温机构;所述测试机构包括测试箱1、上盖3、隔板6、加热丝7和温度传感器8,所述测试箱1的顶部卡接有上盖3,便于密封,所述测试箱1的内壁套接有隔板6,所述测试箱1的底部内壁等距固接有若干相同的加热丝7,便于加热,所述测试箱1的侧壁固接有温度传感器8,便于感温,所述测试箱1的外壁对称固接有两个相同的支架9,两个所述支架9的顶端均固接有固定环10,便于固定电阻原材料,所述固定环10的内部活动套接电阻丝12的一端,所述电阻丝12的另外一端从左至右依次贯穿两个放置口13和另外一个固定环10,便于检测,两个所述放置口13分别开设在测试箱1的两个相对的侧壁,所述固定环10的顶部螺纹连接有螺钉11,便于连接电阻丝;所述降温机构包括冷却箱15、半导体制冷片16、风口17和气泵18,所述测试箱1的侧壁固接有冷却箱15,所述冷却箱15的顶部均匀内嵌安装有若干相同的半导体制冷片16,便于制冷,所述冷却箱15在远离测试箱1的侧壁等距开设有若干相同的风口17,便于通风,所述冷却箱15的底部内壁固接有气泵18,便于引导空气流动,所述气泵18的出风端依次贯穿冷却箱15的侧壁和测试箱1的侧壁并置于测试箱1的内部,便于降温。所述测试箱1的内壁贴合有第一隔热层2,所述测试箱1与所述第一隔热层2的厚度相同,便于隔热;所述上盖3的底部贴合有第二隔热层4,所述第二隔热层4的厚度与第一隔热层2的厚度相同,便于隔热;所述上盖3的顶部固接有把手5,所述把手5与上盖3在竖直方向上的中轴线位于同一条直线上,便于拆卸和安装上盖3;所述测试箱1的外壁固接有温度调节器14,所述温度调节器14电性连接温度传感器8与若干加热丝7,便于控温;所述半导体制冷片16的制冷端置于冷却箱15的内部,所述冷却箱15的放热端置于冷却箱15的外部,便于降温。本技术在使用时,本申请中出现的电器元件在使用时均外接连通电源和控制开关,隔板6采用导热性能好的金属薄片制作,防止若干加热丝7的顶部表面落入异物,从而在加热过程中引起火灾等情况,取下上盖3,将待检测的电阻原材料制作成为丝状的电阻丝12,将电阻丝12的两端放置在两个放置口13的内部,并且电阻丝12的两端均贯穿相对应的固定环10的内部,随后通本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电阻原材料检测装置,其特征在于:包括测试机构和降温机构;/n所述测试机构包括测试箱(1)、上盖(3)、隔板(6)、加热丝(7)和温度传感器(8),所述测试箱(1)的顶部卡接有上盖(3),所述测试箱(1)的内壁套接有隔板(6),所述测试箱(1)的底部内壁等距固接有若干相同的加热丝(7),所述测试箱(1)的侧壁固接有温度传感器(8),所述测试箱(1)的外壁对称固接有两个相同的支架(9),两个所述支架(9)的顶端均固接有固定环(10),所述固定环(10)的内部活动套接电阻丝(12)的一端,所述电阻丝(12)的另外一端从左至右依次贯穿两个放置口(13)和另外一个固定环(10),两个所述放置口(13)分别开设在测试箱(1)的两个相对的侧壁,所述固定环(10)的顶部螺纹连接有螺钉(11);/n所述降温机构包括冷却箱(15)、半导体制冷片(16)、风口(17)和气泵(18),所述测试箱(1)的侧壁固接有冷却箱(15),所述冷却箱(15)的顶部均匀内嵌安装有若干相同的半导体制冷片(16),所述冷却箱(15)在远离测试箱(1)的侧壁等距开设有若干相同的风口(17),所述冷却箱(15)的底部内壁固接有气泵(18),所述气泵(18)的出风端依次贯穿冷却箱(15)的侧壁和测试箱(1)的侧壁并置于测试箱(1)的内部。/n...

【技术特征摘要】
1.一种电阻原材料检测装置,其特征在于:包括测试机构和降温机构;
所述测试机构包括测试箱(1)、上盖(3)、隔板(6)、加热丝(7)和温度传感器(8),所述测试箱(1)的顶部卡接有上盖(3),所述测试箱(1)的内壁套接有隔板(6),所述测试箱(1)的底部内壁等距固接有若干相同的加热丝(7),所述测试箱(1)的侧壁固接有温度传感器(8),所述测试箱(1)的外壁对称固接有两个相同的支架(9),两个所述支架(9)的顶端均固接有固定环(10),所述固定环(10)的内部活动套接电阻丝(12)的一端,所述电阻丝(12)的另外一端从左至右依次贯穿两个放置口(13)和另外一个固定环(10),两个所述放置口(13)分别开设在测试箱(1)的两个相对的侧壁,所述固定环(10)的顶部螺纹连接有螺钉(11);
所述降温机构包括冷却箱(15)、半导体制冷片(16)、风口(17)和气泵(18),所述测试箱(1)的侧壁固接有冷却箱(15),所述冷却箱(15)的顶部均匀内嵌安装有若干相同的半导体制冷片(16),所述冷却箱(15)在远离测试箱(1)的侧壁等距开设有若干相同的风口(17),所述冷却箱(15)的底部内壁固接有气泵(18),所述气...

【专利技术属性】
技术研发人员:李世明刘华举庞晓峰
申请(专利权)人:合镁电子科技苏州有限公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

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