一种电子式滤纸孔径测试仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种电子式滤纸孔径测试仪，主要涉及孔径实验仪器领域。包括测试仪本体，所述测试仪本体上设有测试台，所述试验台上设有下圆环，所述下圆环的上侧设有上圆环，所述测试台上设有用于压紧上圆环的压紧装置，所述上圆环的底部设有环状压头，所述下圆环的顶部设有与环形压头相适应的试样槽，所述环形压头的高度大于试样槽的深度，所述上圆环与下圆环之间设有密封垫，所述密封垫镶嵌在下圆环的顶部，所述密封垫的顶面与上圆环抵接。本实用新型专利技术的有益效果在于：对圆环制造精度要求低且能够保证上下两个圆环之间不漏气，它能够保证上下两个圆环轴心线共线，能够对上下两个圆环之间的间隙进行有效密封，能够保证实验结果的精确度。

An electronic filter paper aperture tester

【技术实现步骤摘要】
一种电子式滤纸孔径测试仪
本技术涉及孔径实验仪器领域，具体是一种电子式滤纸孔径测试仪。
技术介绍
电子式孔径测试仪又称做滤纸孔径测试仪或冒泡试验台，主要用来测试滤纸、滤材等过滤材料的最大孔径与平均孔径，其测试原理在QC/T794-2007中有详细描述，现有的测试仪多利用上下两个平滑的圆环作为试样夹紧装置，为了保证实验的精确度，要求两个圆环之间不漏气，这就对圆环的加工精度要求极高，造成制造成本的增加，且在将试样放置于上下两个圆环之间时，很难保证上下两个圆环的轴心线共线，两个圆环之间易偏移，而当两个圆环之间发生偏移时，一方面会导致两个圆环之间漏气，另一方面，会造成上部圆环遮挡部分实验区域的实验，会对实验的精确度造成一定的影响。
技术实现思路
本技术的目的在于解决现有技术中存在的问题，提供一种对圆环制造精度要求低且能够保证上下两个圆环之间不漏气的电子式滤纸孔径测试仪，它能够保证上下两个圆环轴心线共线，能够对上下两个圆环之间的间隙进行有效密封，能够保证实验结果的精确度。本技术为实现上述目的，通过以下技术方案实现：一种电子式滤纸孔径测试仪，包括测试仪本体，所述测试仪本体上设有测试台，所述测试台上设有下圆环，所述下圆环的上侧设有上圆环，所述测试台上设有用于压紧上圆环的压紧装置，所述上圆环的底部设有环状压头，所述环状压头的轴心线与上圆环的轴心线共线，所述环状压头的内径与上圆环的内径相同，所述环状压头的外径小于上圆环的外径，所述下圆环的顶部设有与环状压头相适应的试样槽，所述环状压头的高度大于试样槽的深度，所述上圆环与下圆环之间设有密封垫，所述密封垫镶嵌在下圆环的顶部，所述密封垫的顶面与上圆环抵接。所述测试台为圆柱状台体，所述压紧装置包括与测试台相适应的筒体、与上圆环相适应的压环，所述压环与筒体之间设有连接筒，所述筒体的下部设有内螺纹，所述测试台的上部设有与内螺纹相适应的外螺纹。所述筒体的外壁上设有转动臂。所述筒体与连接筒转动连接。所述上圆环与下圆环的外径相同，所述连接筒内设有用于密封上圆环与下圆环之间间隙的密封圈。对比现有技术，本技术的有益效果在于：本技术的试样槽用于放置裁剪好的圆形试样，通过上圆环底部的环状压头将试样压紧，通过压紧装置对上圆环的压力保证对试样的有效固定，通过环形压头与试样槽的配合，能够保证上圆环与下圆环共线，防止上圆环对实验区域的遮挡，密封垫能够对上圆环与下圆环之间的间隙进行密封，对圆环制造精度要求低且能够保证上下两个圆环之间不漏气，能够保证实验结果的精确度。附图说明附图1是本技术的结构示意图；附图2是压紧装置的连接结构示意图；附图3是附图2的A部放大图；附图4是上圆环的结构示意图；附图5是下圆环的结构示意图。附图中标号：1、测试仪本体；2、测试台；3、下圆环；4、上圆环；5、压紧装置；6、环状压头；7、试样槽；8、密封垫；51、筒体；52、压环；53、连接筒；54、转动臂；55、密封圈。具体实施方式下面结合具体实施例，进一步阐述本技术。应理解，这些实施例仅用于说明本技术而不用于限制本技术的范围。此外应理解，在阅读了本技术讲授的内容之后，本领域技术人员可以对本技术作各种改动或修改，这些等价形式同样落于本申请所限定的范围。本技术所述是一种电子式滤纸孔径测试仪，包括测试仪本体1，所述测试仪本体1上设有测试台2，所述测试台2上设有下圆环3，所述下圆环3的上侧设有上圆环4，所述测试台2上设有用于压紧上圆环4的压紧装置5，所述上圆环4的底部设有环状压头6，所述环状压头6的轴心线与上圆环4的轴心线共线，所述环状压头6的内径与上圆环4的内径相同，所述环状压头6的外径小于上圆环4的外径，环状压头6与上圆环4采用一体式结构，所述下圆环3的顶部设有与环状压头6相适应的试样槽7，所述环状压头6的高度大于试样槽7的深度，所述上圆环4与下圆环3之间设有密封垫8，所述密封垫8镶嵌在下圆环3的顶部，所述密封垫8的顶面与上圆环4抵接，环状压头6的高度与试样槽7的深度之差小于密封垫8的厚度，在环状压头6与试样槽7接触时，密封垫8被压缩，本技术的试样槽7用于放置裁剪好的圆形试样，通过上圆环4底部的环状压头6将试样压紧，通过压紧装置5对上圆环4的压力保证对试样的有效固定，通过环状压头6与试样槽7的配合，能够保证上圆环4与下圆环3共线，防止上圆环4对实验区域的遮挡，密封垫8能够对上圆环4与下圆环3之间的间隙进行密封，对圆环制造精度要求低且能够保证上下两个圆环之间不漏气，能够保证实验结果的精确度。进一步的，为了便于上圆环的压紧，所述测试台2为圆柱状台体，所述压紧装置5包括与测试台2相适应的筒体51、与上圆环4相适应的压环52，所述压环52与筒体51之间设有连接筒53，所述筒体51的下部设有内螺纹，所述测试台2的上部设有与内螺纹相适应的外螺纹，转动筒体51，筒体51上的内螺纹与测试台2上的外螺纹配合，能够使筒体51上下移动，筒体51下移时，向下拉动压环52，能够压紧上圆环。进一步的，为了便于转动筒体，所述筒体51的外壁上设有转动臂54。进一步的，为了避免对上圆环造成磨损，所述筒体51与连接筒53转动连接，转动筒体51对上圆环进行压紧时，仅有筒体51转动，连接筒53与压环52均不转动，能够避免对上圆环压紧时磨损上圆环。进一步的，为了进一步提高上圆环与下圆环之间的密封性，所述上圆环4与下圆环3的外径相同，所述连接筒53内设有用于密封上圆环4与下圆环3之间间隙的密封圈55，在将上圆环4压紧后，密封圈55的上部与上圆环4紧密接触，密封圈55的下部与下圆环3紧密接触，能够对上圆环4与下圆环3之间的间隙有效密封，进一步提高密封性。实施例：本技术所述是一种电子式滤纸孔径测试仪，本技术仅对测试仪本体的夹纸装置与压紧装置做了改进，未对测试仪本体的其它结构作改进。包括测试仪本体1，所述测试仪本体1上设有测试台2，所述测试台2上设有下圆环3，下圆环3镶嵌在测试台2的顶部，所述下圆环3的上侧设有上圆环4，所述测试台2上设有用于压紧上圆环4的压紧装置5，压紧装置5也可采用现有的压紧装置，为便于上圆环4的压紧，所述测试台2为圆柱状台体，所述压紧装置5包括与测试台2相适应的筒体51、与上圆环4相适应的压环52，所述压环52与筒体51之间设有连接筒53，连接筒52与压环52之间采用一体式结构，压环52的内径大于上圆环4的内径且小于上圆环4的外径，压环52的外径大于上圆环4的外径，所述筒体51的下部设有内螺纹，所述测试台2的上部设有与内螺纹相适应的外螺纹，转动筒体51，筒体51上的内螺纹与测试台2上的外螺纹配合，能够带动筒体51上下移动，筒体51下移时，向下拉动压环52，能够压紧上圆环4。进一步的，为了便于转动筒体，所述筒体51的外壁上焊接有转动臂54。为了避免对上圆环造成磨损，所述筒体51与连接筒53转动连接，筒体51的顶部设有挡环，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子式滤纸孔径测试仪，包括测试仪本体(1)，所述测试仪本体(1)上设有测试台(2)，所述测试台(2)上设有下圆环(3)，所述下圆环(3)的上侧设有上圆环(4)，所述测试台(2)上设有用于压紧上圆环(4)的压紧装置(5)，其特征在于：所述上圆环(4)的底部设有环状压头(6)，所述环状压头(6)的轴心线与上圆环(4)的轴心线共线，所述环状压头(6)的内径与上圆环(4)的内径相同，所述环状压头(6)的外径小于上圆环(4)的外径，所述下圆环(3)的顶部设有与环状压头(6)相适应的试样槽(7)，所述环状压头(6)的高度大于试样槽(7)的深度，所述上圆环(4)与下圆环(3)之间设有密封垫(8)，所述密封垫(8)镶嵌在下圆环(3)的顶部，所述密封垫(8)的顶面与上圆环(4)抵接。/n

【技术特征摘要】
1.一种电子式滤纸孔径测试仪，包括测试仪本体(1)，所述测试仪本体(1)上设有测试台(2)，所述测试台(2)上设有下圆环(3)，所述下圆环(3)的上侧设有上圆环(4)，所述测试台(2)上设有用于压紧上圆环(4)的压紧装置(5)，其特征在于：所述上圆环(4)的底部设有环状压头(6)，所述环状压头(6)的轴心线与上圆环(4)的轴心线共线，所述环状压头(6)的内径与上圆环(4)的内径相同，所述环状压头(6)的外径小于上圆环(4)的外径，所述下圆环(3)的顶部设有与环状压头(6)相适应的试样槽(7)，所述环状压头(6)的高度大于试样槽(7)的深度，所述上圆环(4)与下圆环(3)之间设有密封垫(8)，所述密封垫(8)镶嵌在下圆环(3)的顶部，所述密封垫(8)的顶面与上圆环(4)抵接。


2.根据权利要求1所述的一种电子式滤纸孔径测...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁曰东，赵桂安，仵建国，王疆，
申请(专利权)人：温州际高检测仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33