圆柱状电子组件径向冲击加载测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种圆柱状电子组件径向冲击加载测试装置，包括冲击衬套和压装件，冲击衬套内具有沿其长度方向设置的冲击腔，该冲击腔一端敞口，并且截面为圆形，冲击腔的侧壁上具有沿其长度方向设置的引线窗口；压装件的外径小于等于冲击腔的直径，其内具有用于固定待测电子组件的安装腔，该安装腔的轴线与压装件的轴线相互垂直，所述压装件的侧壁上具有与该安装腔贯通的引线穿出孔。可充分模拟冲击载荷转化过程，并通过测试数据线进行实时测量电子组件的电学信号，掌握其在转化径向载荷作用下响应特性，在有效缩减测试成本同时提升测试效率和精度，是理论研究的基础，能够为后续设计研究提供重要参数，具有极大的科学实验研究价值。

Radial impact loading test device for cylindrical electronic components

【技术实现步骤摘要】
圆柱状电子组件径向冲击加载测试装置
本技术涉及柱状物体载荷方向转化及测量装置领域，具体涉及一种圆柱状电子组件径向冲击加载测试装置。
技术介绍
常规冲击实验如泰勒杆撞击、SHPB动态压缩等，其冲击加载方向通常为圆柱形样品的轴向，然而在实际冲击过程如弹体侵彻靶标时产生的作用力并非只沿轴向作用于弹体上的电子组件，在弹体姿态改变或作用力沿弹体结构弥散时也会沿径向作用于电子组件，对电子组件的结构及功能产生影响。传统针对圆柱结构电子组的径向冲击加载通常采用弹载方式，即将组件安装于弹体上，同时配置相应的弹载测试记录装置，通过发射弹体于使其与典型目标发生碰撞形成冲击载荷，最后再对记录装置中的实验数据进行回读及处理，其冲击加载方法准备周期长，且弹载记录装置的数据采样率及存储量都较为有限。故如何模拟该类型的冲击过程，充分掌握圆柱形电子组件在转化径向载荷作用下的响应特性，并实现冲击过程电学信号的实时测量，为产品性能设计提供科学依据，成为当前亟待解决的问题。
技术实现思路
为解决上述问题，本技术提供了一种圆柱状电子组件径向冲击加载测试装置，以充本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种圆柱状电子组件径向冲击加载测试装置，其特征在于：包括冲击衬套(1)和压装件(2)，所述冲击衬套(1)内具有沿其长度方向设置的冲击腔(10)，该冲击腔(10)一端敞口，并且截面为圆形，冲击腔(10)的侧壁上具有沿其长度方向设置的引线窗口(11)；/n所述压装件(2)的外径小于等于冲击腔(10)的直径，其内具有用于固定待测电子组件的安装腔(20)，该安装腔(20)的轴线与压装件(2)的轴线相互垂直，所述压装件(2)的侧壁上具有与该安装腔(20)贯通的引线穿出孔(21)。/n

【技术特征摘要】
1.一种圆柱状电子组件径向冲击加载测试装置，其特征在于：包括冲击衬套(1)和压装件(2)，所述冲击衬套(1)内具有沿其长度方向设置的冲击腔(10)，该冲击腔(10)一端敞口，并且截面为圆形，冲击腔(10)的侧壁上具有沿其长度方向设置的引线窗口(11)；
所述压装件(2)的外径小于等于冲击腔(10)的直径，其内具有用于固定待测电子组件的安装腔(20)，该安装腔(20)的轴线与压装件(2)的轴线相互垂直，所述压装件(2)的侧壁上具有与该安装腔(20)贯通的引线穿出孔(21)。


2.根据权利要求1所述的圆柱状电子组件径向冲击加载测试装置，其特征在于：所述压装件(2)包括以可拆卸方式相连的前压座(2a)和后压座(2b)，所述前压座(2a)和后压座(2b)均呈柱状结构，其中前压座(2a)上具有前弧形槽(2a0)，后压座(2b)上具有正对前弧形槽(2a0)设置的后弧形槽(2b0)，所述前弧形槽(2a0)和后弧形槽(2b0)合围形成所述安装腔(20)。


3.根据权利要求1所述的圆柱状电子组件径向冲击加载测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨荷，赵慧，刘波，吴学星，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院电子工程研究所，
类型：新型
国别省市：四川;51