一种测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种测量装置，属于结晶器技术领域。所述测量装置包括：支撑板、测量尺及定位板；所述支撑板的尺寸与所述结晶器窄面的尺寸相匹配，所述支撑板活动设置在所述结晶器窄面上；所述定位板固定设置在所述支撑板上；所述支撑板上开设有两个刻缝，所述两个刻缝相对；所述测量尺的一端勾住所述两个刻缝中的一个刻缝；其中，所述两个刻缝与所述定位板靠近所述结晶器窄面的端面保持平齐。本实用新型专利技术测量装置可以测量倒角结晶器的上口尺寸，保证测量精度。

A measuring device

【技术实现步骤摘要】
一种测量装置
本技术涉及结晶器
，特别涉及一种测量装置。
技术介绍
结晶器上口尺寸测量对于铸坯宽度及实际窄面锥度控制均有很大的影响，因此，必须保证结晶器上口尺寸测量的准确性。正常直角结晶器上口尺寸使用钢板尺或卷尺测量，难度较小。而倒角结晶器由于其特殊的倒角边设计，测量的原始位置不好确定，因此上口尺寸的测量精度不高
技术实现思路
本技术提供一种测量装置，解决了或部分解决了现有技术中倒角结晶器上口尺寸测量的原始位置不好确定，测量精度不高的技术问题。为解决上述技术问题，本技术提供了一种测量装置，设置在结晶器窄面上，所述测量装置包括：支撑板、测量尺及定位板；所述支撑板的尺寸与所述结晶器窄面的尺寸相匹配，所述支撑板活动设置在所述结晶器窄面上；所述定位板固定设置在所述支撑板上；所述支撑板上开设有两个刻缝，所述两个刻缝相对；所述测量尺的一端勾住所述两个刻缝中的一个刻缝；其中，所述两个刻缝与所述定位板靠近所述结晶器窄面的端面保持平齐。进一步地，所述支撑板及定位板均为绝缘板。进一步地，所述测量装置还包括：角铁本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量装置，设置在结晶器窄面上，其特征在于，所述测量装置包括：支撑板、测量尺及定位板；/n所述支撑板的尺寸与所述结晶器窄面的尺寸相匹配，所述支撑板活动设置在所述结晶器窄面上；/n所述定位板固定设置在所述支撑板上；/n所述支撑板上开设有两个刻缝，所述两个刻缝相对；/n所述测量尺的一端勾住所述两个刻缝中的一个刻缝；/n其中，所述两个刻缝与所述定位板靠近所述结晶器窄面的端面保持平齐。/n

【技术特征摘要】
1.一种测量装置，设置在结晶器窄面上，其特征在于，所述测量装置包括：支撑板、测量尺及定位板；
所述支撑板的尺寸与所述结晶器窄面的尺寸相匹配，所述支撑板活动设置在所述结晶器窄面上；
所述定位板固定设置在所述支撑板上；
所述支撑板上开设有两个刻缝，所述两个刻缝相对；
所述测量尺的一端勾住所述两个刻缝中的一个刻缝；
其中，所述两个刻缝与所述定位板靠近所述结晶器窄面的端面保持平齐。


2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于：
所述支撑板及定位板均为绝缘板。


3.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述测量装置还包括：角铁；
所述角铁的底部可拆卸式地设置在所述支撑板背离所述定位板的端面上；
所述角铁的侧部可拆卸式地与所述结晶器窄面的背板连接。


4.根据权利要求3所述的测量装置，其特征在于：
所述角铁的边沿突出于所述支撑板的边缘。


5.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：俞学成，陈文志，李宁，马威，毕泽阳，
申请(专利权)人：北京首钢股份有限公司，
类型：新型
国别省市：北京;11