一种中性火山岩-安山岩的鉴定方法技术

本发明专利技术涉及一种中性火山岩‑安山岩的鉴定方法，包括：将岩石薄片在正交偏光显微镜下找到待测斜长石；分别测试所述待测斜长石的两组双晶单体的消光角；若两组双晶单体消光角之差<5°，则认为所述待测斜长石切面是⊥(010)双晶结合面的切面，那么，取两组双晶单体消光角的平均值，即是⊥(010)切面的最大消光角Φmax；若两次所得的消光角之差>5°，取两组双晶单体消光角平均值为视消光角φ`；此时，若中斜石的视消光角φ`<24，且切面斜切双晶面时双晶宽度c<0.029777mm，则即可确定该斜长石为中长石，该岩石样品为中性火山岩‑安山岩。能够快速、准确地将中性火山岩‑安山岩与基性火山岩‑玄武岩和过渡岩石‑玄武安山岩区分开，鉴定准确率高。

An identification method of neutral volcanic andesite

【技术实现步骤摘要】
一种中性火山岩-安山岩的鉴定方法
本专利技术属于岩石种类鉴定领域，涉及一种中性火山岩-安山岩的鉴定方法，特别涉及一种在正交偏光显微镜下鉴定中性火山岩-安山岩的方法。
技术介绍
公开该
技术介绍
部分的信息仅仅旨在增加对本专利技术的总体背景的理解，而不必然被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已经成为本领域一般技术人员所公知的现有技术。目前国内采用的中性火山岩-安山岩鉴定方法：GB/T17412.1-1998《岩石分类和命名方案火成岩岩石分类和命名方案》—国家质量技术监督局发布和SY/T5368-2000《岩石薄片鉴定》—中华人民共和国石油天然气行业标准为依据。前者方法是利用化学分析手段，根据分析的新鲜火山岩岩石全碱和二氧化硅的含量来确定该火山岩的种类，但该方法耗时、费用高且不适用于蚀变的岩石；后者的方法是从矿物组成、结构、构造上来鉴定，但是容易将玄武岩、安山岩以及其过渡岩玄武安山岩三者混淆，导致错误鉴定结果。因为在矿物组成方面，三种岩石中，均会含有斜长石、辉石、角闪石、橄榄石甚至黑云母和石英；在结构方面，三种岩石均为斑状结构，基质若为玻璃质中分布的斜长石或者霏细结构、隐晶质结构，三者则不宜区分；而构造方面，三者岩石均可为气孔构造，杏仁构造、块状构造。岩矿鉴定对区域地质调查和金属、非金属矿物成矿研究等具有重要的指导作用，岩矿鉴定准确性对地质研究工作的质量有直接影响。岩矿鉴定水平的高低、鉴定结果的质量，在一定程度上影响着地质工作的深入研究程度，甚至还会影响到地质成果的精密度和准确度。同时，岩矿鉴定工作，也能为工程建设的设计和施工，提供地质学方面的资料，地质工作人员，可以根据自然地质资源来改造不良的地质环境，最大程度的预防和避免自然灾害。目前测定斜长石牌号的方法有多种手段，例如油浸法、旋转台法、偏光显微镜薄片鉴定法等多种手段联用。这些方法首要条件是选择的待测斜长石晶体必须是定向切面，而且必须准确测定其折射率、双折射率、光轴角等一系列光学数据，利用有关鉴定图表进行鉴定，在这个过程中，还需要配合其它手段，如油浸法、旋转台测定光轴角(2V)等，使鉴定操作复杂繁琐。
技术实现思路
为了克服上述问题，本专利技术提供了一种中性火山岩-安山岩的鉴定方法，尤其是一种在正交偏光显微镜下快速、准确地鉴定中性火山岩-安山岩的方法。能够快速、准确地将中性火山岩-安山岩与基性火山岩-玄武岩和过渡岩石-玄武安山岩区分开，鉴定准确率高。为实现上述技术目的，本专利技术采用的技术方案如下：一种中性火山岩-安山岩的鉴定方法，包括：将岩石薄片在正交偏光显微镜下找到待测斜长石；分别测试所述待测斜长石的两组双晶单体的消光角；若两组双晶单体消光角之差<5°，则认为所述待测斜长石切面是⊥(010)双晶结合面的切面，那么，取两组双晶单体消光角的平均值，即是⊥(010)切面的最大消光角Φmax；若两次所得的消光角之差>5°，取两组双晶单体消光角平均值为视消光角此时，若斜长石的视消光角且切面斜切双晶面时双晶宽度c<0.029777mm，则即可确定该斜长石为中长石，该岩石样品为中性火山岩-安山岩。本申请研究发现：对于满足某些特定要求，且双晶单体的消光角之差>5°的斜长石而言，可以在切面斜切双晶面时双晶宽度c与最大消光角φmax之间建立特定的函数关系，从而可以直接通过c值的取值确定该斜长石的种类进行鉴别，快速、准确地将中性火山岩-安山岩与基性火山岩-玄武岩和过渡岩石-玄武安山岩区分开。在一些实施例中，所述岩石薄片的厚度达0.03mm，以提高检测准确性。在一些实施例中，所述岩石样品的岩石薄片是采用中华人民共和国石油天然气行业标准SY/T5913-2004《岩石制片方法》中的方法制取。在一些实施例中，所述待测斜长石为表面光洁或者具轻微蚀变的斜长石，以便于检测和鉴定。在一些实施例中，所述待测斜长石满足以下特征：1)双晶单体数>2，且双晶单体宽度近似相等，即找到单体对称的聚片双晶斜长石；2)升降显微镜物镜，双晶左右移动，即有一定位移；3)双晶平行十字丝纵丝时，显双晶。本专利技术只测定一颗斜长石牌号即可，并且无需使用旋转台先确定斜长石的光性方位属于哪个切面，无需对光率体主轴进行定位，也不用查有关鉴定图表，再确定斜长石的成分(斜长石牌号)。在一些实施例中，所述“测试所述待测斜长石的两组双晶单体的消光角”的具体步骤为：1)将选定的待测斜长石至于正交偏光显微镜十字丝中心，旋转载物台，使双晶干涉色亮度相等，记录物台读数；2)逆时针旋转载物台，使一组双晶单体消光，记录物台读数，两次读数之差即为该组双晶单体的消光角；3)回到双晶干涉色亮度相等的位置，顺时针旋转载物台，使另一组双晶单体消光，记录物台读数，两次读数之差即为另一组双晶单体的消光角。本专利技术的鉴定过程不需先选择符合要求的定向切面再测消光角，任意切面均可实现，而且无需对光率体主轴进行定位。本专利技术还提供了一种中性火山岩-安山岩的鉴定系统，包括：消光角测试装置、磨制工具、长度测量工具。以配合上述方法将中性火山岩-安山岩与基性火山岩-玄武岩和过渡岩石-玄武安山岩区快速、准确地分开，鉴定准确率高。本申请对测量工具并不作特殊的限定，在一些实施例中，所述长度测量工具为测微尺，以提高测量效率和准确性。本申请对消光角测试装置并不作特殊的限定，在一些实施例中，所述消光角测试装置为正交偏光显微镜，以提高消光角的测试效率和准确性。本专利技术还提供了任一上述的系统在岩矿鉴定中的应用。本专利技术的有益效果在于：(1)本专利技术的鉴定过程不需先选择符合要求的定向切面再测消光角，任意切面均可实现，而且无需对光率体主轴进行定位。(2)本专利技术只测定一颗斜长石牌号即可，并且无需使用旋转台先确定斜长石的光性方位属于哪个切面，无需对光率体主轴进行定位，也不用查有关鉴定图表，再确定斜长石的成分(斜长石牌号)；操作方法简单，可以准确、快速的鉴定出中性火山岩-安山岩，能够为区域地质调查提供依据。(3)本申请的操作方法简单、准确度高、实用性强。附图说明构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本申请的进一步理解，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。图1为实施例1中编号-1的岩石样品：图2为实施例1中编号-2的岩石样品：图3为实施例1中编号-3的岩石样品：图4为实施例1中编号-4的岩石样品；图5为实施例1中编号-5的岩石样品；图6为实施例1中编号-8的岩石样品；图7为实施例1中编号-11的岩石样品；图8为实施例1中编号-12的岩石样品；图9为实施例1中编号-16的岩石样品；图10为实施例1中编号-17的岩石样品；图11为实施例1中编号-20的岩石样品；图12为实施例1中编号-21的岩石样品；图13为实施例1中编号-24本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种中性火山岩-安山岩的鉴定方法，其特征在于，包括：/n将岩石薄片在正交偏光显微镜下找到待测斜长石；/n分别测试所述待测斜长石的两组双晶单体的消光角；/n若两组双晶单体消光角之差<5°，则认为所述待测斜长石切面是⊥(010)双晶结合面的切面，那么，取两组双晶单体消光角的平均值，即是⊥(010)切面的最大消光角Φmax；/n若两次所得的消光角之差>5°，取两组双晶单体消光角平均值为视消光角

【技术特征摘要】
1.一种中性火山岩-安山岩的鉴定方法，其特征在于，包括：
将岩石薄片在正交偏光显微镜下找到待测斜长石；
分别测试所述待测斜长石的两组双晶单体的消光角；
若两组双晶单体消光角之差<5°，则认为所述待测斜长石切面是⊥(010)双晶结合面的切面，那么，取两组双晶单体消光角的平均值，即是⊥(010)切面的最大消光角Φmax；
若两次所得的消光角之差>5°，取两组双晶单体消光角平均值为视消光角此时，若斜长石的视消光角且切面斜切双晶面时双晶宽度c<0.029777mm，则即可确定该斜长石为中长石，该岩石样品为中性火山岩-安山岩。


2.如权利要求1所述的中性火山岩-安山岩的鉴定方法，其特征在于，所述岩石薄片的厚度达0.03mm。


3.如权利要求1所述的中性火山岩-安山岩的鉴定方法，其特征在于，所述岩石样品的岩石薄片是采用中华人民共和国石油天然气行业标准SY/T5913-2004《岩石制片方法》中的方法制取。


4.如权利要求1所述的中性火山岩-安山岩的鉴定方法，其特征在于，所述待测斜长石为表面光洁或者具轻微蚀变的斜长石。


5.如权利要求1所述的中性火山岩-安山岩的鉴定方法，其特征在于，所述待测斜长石满足...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭嘉，赵辉，
申请(专利权)人：山东省地质矿产勘查开发局第一地质大队，
类型：发明
国别省市：山东;37