一种地砖平面度及缺陷的测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种地砖平面度及缺陷的测量装置，涉及地砖检测技术领域，包括机架、支撑脚、电机、测量台、与地砖，所述机架的上端外表面固定安装有置物架，且置物架的下端外表面设置有横向移动装置，所述置物架的前端外表面固定安装有支架，且支架的上端外表面活动安装有操作屏，所述置物架的一侧外表面固定安装有第一转盘，所述置物架的一侧外表面靠近后端的位置设置有调整板，且调整板的内部贯穿有调位螺栓，所述调整板的一侧外表面固定安装有从动杆，通过三组扇形扫描面对地砖进行检查，可以全面覆盖地砖的测量表面，使得装置能够根据地砖的大小改变自身所处的位置，确保扫描面能够全面覆盖地砖。

A measuring device for flatness and defects of floor tiles

【技术实现步骤摘要】
一种地砖平面度及缺陷的测量装置
本技术涉及地砖检测
，具体为一种地砖平面度及缺陷的测量装置。
技术介绍
地砖是我们常见的一种地面装修材料，为了防止地砖出现平面倾斜的问题，需要对制造的地砖进行平面度检测，地砖平面度检测通常采用离线抽检机械式测量和点激光测量，前者耗时、检测精度差，而且仅仅是抽检，不能够快速且高效的得到较为精确的测量数值，后者检测平面度有盲区，不能够对整块地砖进行全面的检测，无法实现整个地砖平面的检测，更无法实现缺陷检测。现有的地砖平面度及缺陷的测量装置在结构与功能方面不够完善，尚有待改进之处，首先，现有地砖平面度及缺陷的测量装置在对地砖进行检测时，一般会出现地砖不能够全面检测的问题，地砖的部分位置不能够被检测到，其次，现有的检测装置在对地砖进行检测时，扫描装置的位置是固定，不能在纵向与横向进行移动，不能够根据地砖的尺寸来更改检测扫描装置的扫描面积。
技术实现思路
针对现有技术的不足，本技术提供了一种地砖平面度及缺陷的测量装置，解决了现有技术中测量装置在对地砖平面度进行测量时会出现测量盲区的问题，还解决本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种地砖平面度及缺陷的测量装置，包括机架(1)、支撑脚(2)、电机(3)、测量台(4)、与地砖(5)，其特征在于：所述机架(1)的上端外表面固定安装有置物架(12)，且置物架(12)的下端外表面设置有横向移动装置(8)，所述置物架(12)的前端外表面固定安装有支架(7)，且支架(7)的上端外表面活动安装有操作屏(6)，所述置物架(12)的一侧外表面固定安装有第一转盘(10)，所述置物架(12)的一侧外表面靠近后端的位置设置有调整板(11)，且调整板(11)的内部贯穿有调位螺栓(14)，所述调整板(11)的一侧外表面固定安装有从动杆(13)，所述横向移动装置(8)的下端外表面靠近另一侧的位置...

【技术特征摘要】
1.一种地砖平面度及缺陷的测量装置，包括机架(1)、支撑脚(2)、电机(3)、测量台(4)、与地砖(5)，其特征在于：所述机架(1)的上端外表面固定安装有置物架(12)，且置物架(12)的下端外表面设置有横向移动装置(8)，所述置物架(12)的前端外表面固定安装有支架(7)，且支架(7)的上端外表面活动安装有操作屏(6)，所述置物架(12)的一侧外表面固定安装有第一转盘(10)，所述置物架(12)的一侧外表面靠近后端的位置设置有调整板(11)，且调整板(11)的内部贯穿有调位螺栓(14)，所述调整板(11)的一侧外表面固定安装有从动杆(13)，所述横向移动装置(8)的下端外表面靠近另一侧的位置固定安装有纵向移动装置(9)；
所述横向移动装置(8)包括有置物板(801)、固定安装于置物板(801)上端外表面靠近一侧位置的第一固定板(805)、设置于置物板(801)内部的移位槽(807)、活动安装于移位槽(807)内部的移位板(802)、贯穿移位板(802)与第一固定板(805)的移位杆(803)、固定安装于移位板(802)下端外表面3D扫描传感器(806)、固定安装于移位杆(803)一端外表面的第二转盘(804)。


2.根据权利要求1所述的一种地砖平面度及缺陷的测量装置，其特征在于，所述纵向移动装置(9)包括有齿轮箱体(901)、纵向贯穿齿轮箱体(901)的滚珠丝杆(904)、横向贯穿齿轮箱体(901)的涡轮(902)、固定安装于涡轮(902)一端外表面的第三转盘(903)、固定安装于齿轮箱体(901)下端外表面的安装台(905)、固定安装于滚珠丝杆(904)上端外表面的顶杆...

【专利技术属性】
技术研发人员：晏恒友，何谢文，晏刘武，
申请(专利权)人：常州市镭烁光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32