设备和方法技术

技术编号:24178882 阅读:62 留言:0更新日期:2020-05-16 05:43
一种设备包括:光谱滤波器(26),具有可变光谱滤波器透射(FT(λ));基于事件的成像传感器(27),被配置为产生测量事件(y

Equipment and methods

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】设备和方法
本公开总体上涉及光谱成像系统领域。
技术介绍
光谱成像是光谱学和摄影的领域,其中,在图像平面的各个位置收集完整的光谱或一些光谱信息。多光谱成像测量多个光谱带中的光。高光谱成像是光谱成像的一个特例,通常有数百个连续的光谱带可用。例如,多光谱/高光谱图像传感对材料分类非常感兴趣。获得高空间、时间和光谱精度的测量非常重要。在这种高精度系统中捕捉的数据量非常大,并且需要对数据进行压缩(例如,从400nm到800nm以1nm步长采样的16位全HD分辨率图像每次捕捉将产生约1.5G字节的数据)。现有的光谱成像系统应用各种方法来获取光谱图像信息。最已知的技术是在图像传感器上应用镶嵌(mosaicking,拼接)(类似于应用红-绿-蓝(即所谓的拜耳图案)的普通成像传感器),其中,每个图像像素被具有已知光谱灵敏度的不同类型的滤色器覆盖。这种方法降低了依赖于滤色器数量的空间图像精度,并提供了低光谱分辨率能力。为了恢复光谱图像信息,必须应用复信号重建方法。其他系统尝试利用全局变化的滤色器,但是这些系统受到传感器的时间采样限制、相机系统的大形状因数本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种设备,包括:/n光谱滤波器,具有可变的光谱滤波器透射;/n基于事件的成像传感器,被配置为产生对应于由观察到的光谱产生的滤波器响应变化的测量事件,以及/n处理器,被配置为/n控制所述光谱滤波器的滤波器透射,使得所述滤波器透射随时间扫过波长,并且/n基于对应于所述滤波器响应的所述测量事件和基于所述滤波器透射,生成所述观察到的光谱的估计。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20171221 EP 17209808.91.一种设备,包括:
光谱滤波器,具有可变的光谱滤波器透射;
基于事件的成像传感器,被配置为产生对应于由观察到的光谱产生的滤波器响应变化的测量事件,以及
处理器,被配置为
控制所述光谱滤波器的滤波器透射,使得所述滤波器透射随时间扫过波长,并且
基于对应于所述滤波器响应的所述测量事件和基于所述滤波器透射,生成所述观察到的光谱的估计。


2.根据权利要求1所述的设备,其中,所述处理器被配置为控制所述光谱滤波器的所述光谱滤波器透射,使得所述光谱滤波器透射随着时间线性或非线性扫过波长。


3.根据权利要求1所述的设备,其中,所述基于事件的成像传感器被配置为通过记录由所述光谱滤波器透射的变化导致的任何强度变化来产生所述滤波器响应。


4.根据权利要求1所述的设备,其中,所述基于事件的成像传感器被配置为以异步方式记录像素强度变化。


5.根据权利要求1所述的设备,其中,所述基于事件的成像传感器被配置为根据成像传感器上的入射来产生指示强度增加或减少的事件。


6.根据权利要求5所述的设备,其中,所述事件指示由所述处理器固定或适应性改变的预定义阈值的强度增加或减少。


7.根据权利要求5所述的设备,其中,所述处理器被配置...

【专利技术属性】
技术研发人员:亚尔钦·因杰苏亚历山大·加托
申请(专利权)人:索尼半导体解决方案公司
类型:发明
国别省市:日本;JP

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