【技术实现步骤摘要】
一种图像差异检测方法、装置、电子设备和存储介质
本专利技术涉及图像处理
,尤其涉及一种图像差异检测方法、装置、电子设备和存储介质。
技术介绍
图像差异检测是一种可用于电力设备的防外破预警,工业产品缺陷检测的图像分析技术。近年来,图像差异检测的应用越来越多。现有技术在进行图像差异检测时,一般是基于特定场景下两幅图像的局部像素特征及相似性度量来检测出差异位置。现有技术存在的问题是,基于局部像素特征及相似性度量来检测出差异位置对于差异检测的局限性较大,需要预先知道两个产品可能存在的差异种类,才能进行差异检测,例如,预先知道产品可能存在缺角这种工艺缺陷,然后在获取到产品图像后,基于局部像素特征及相似性度量来检测是否存在缺角差异。因此,现有的差异检测方法应用的场景局限性较大,如果预先不知道差异类型,便不能很好的检测差异区域。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种图像差异检测方法、装置、电子设备和存储介质,用以解决现有技术中的差异检测方案局限性较大的问题。本专利技术实施例提供了一种图像差异检测方法,所述方法包括:针对待检测的第一图像和第二图像,根据预设的窗口对所述第一图像进行随机偏移处理,得到预设数量的第三图像;根据每个第三图像,进行高斯背景建模,得到背景模型;采用所述预设的窗口截取所述第二图像,得到第四图像;将所述第四图像与所述背景模型进行差值计算,确定所述第四图像中的差异像素点。进一步地,所述根据每个第三图像,进行高斯背景建 ...
【技术保护点】
1.一种图像差异检测方法,其特征在于,所述方法包括:/n针对待检测的第一图像和第二图像,根据预设的窗口对所述第一图像进行随机偏移处理,得到预设数量的第三图像;/n根据每个第三图像,进行高斯背景建模,得到背景模型;/n采用所述预设的窗口截取所述第二图像,得到第四图像;将所述第四图像与所述背景模型进行差值计算,确定所述第四图像中的差异像素点。/n
【技术特征摘要】
1.一种图像差异检测方法,其特征在于,所述方法包括:
针对待检测的第一图像和第二图像,根据预设的窗口对所述第一图像进行随机偏移处理,得到预设数量的第三图像;
根据每个第三图像,进行高斯背景建模,得到背景模型;
采用所述预设的窗口截取所述第二图像,得到第四图像;将所述第四图像与所述背景模型进行差值计算,确定所述第四图像中的差异像素点。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据每个第三图像,进行高斯背景建模,得到背景模型包括:
根据每个第三图像,针对每个位置的每个第一像素点,计算该位置的每个第一像素点的像素值的均值和方差。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述将所述第四图像与所述背景模型进行差值计算,确定所述第四图像中的差异像素点包括:
针对所述第四图像中的每个第二像素点,根据该第二像素点的位置确定该第二像素点对应的目标均值和目标方差;计算该第二像素点的像素值与目标均值的差值的绝对值,判断所述绝对值是否小于所述目标方差与预设系数的乘积;如果是,确定该第二像素点为背景像素点,如果否,确定该第二像素点为差异像素点。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述针对待检测的第一图像和第二图像,根据预设的窗口对所述第一图像进行随机偏移处理,得到预设数量的第三图像之前,所述方法还包括:
分别确定所述第一图像中的第一SIFT特征点和第二图像中的第二SIFT特征点;
针对所述第二图像中的每个第二SIFT特征点,确定所述第一图像中与该第二SIFT特征点匹配的第一SIFT特征点;
根据相匹配的第一SIFT特征点和第二SIFT特征点,确定投射变换矩阵;
通过所述投射变换矩阵,对所述第二图像进行变换处理,采用变换处理后的图像对所述第二图像进行更新。
5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述确定所述第一图像中与该第二SIFT特征点匹配的第一SIFT特征点之后,根据相匹配的第一SIFT特征点和第二SIFT特征点,确定投射变换矩阵之前,所述方法还包括:
通过随机一致性算法RANSAC,对相匹配的第一SIFT特征点和第二SIFT特征点进行过滤;
所述根据相匹配的第一SIFT特征点和第二SIFT特征点,确定投射变换矩阵包括:
根据保留的相匹配的第一SIFT特征点和第二SIFT特征点,确定投射变换矩阵。
6.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述通过所述投射变换矩阵,对所述第二图像进行变换处理之后,针对待检测的第一图像和第二图像,对所述第一图像进行随机偏移处理,得到预设数量的第三图像之前,所述方法还包括:
判断所述第一图像与所述变换处理后得到的第二图像的视场是否相同,如果否,截取所述第一图像中,与所述第二图像视场相同的区域,将所述相同的区域更新为...
【专利技术属性】
技术研发人员:李保坤,王枫,
申请(专利权)人:浙江大华技术股份有限公司,
类型:发明
国别省市:浙江;33
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