用于对软磁材料进行大范围B-H回线测量的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于对软磁材料进行大范围B‑H回线测量的方法及装置。所述方法通过设置并联的两条电流通道来进行测量，当电源的输出电压值较小时，只有第二采样电阻所在的电流通道投入电路构成小电流量程，而当电源的输出电压值变大，当超过半导体压控器件的导通电压时，第二条电流通道投入电路，从而构成大电流量程，在整个测量过程中，大小电流量程始终处于工作状态，相比于现有的使用机械开关或电子开关来切换电流量程的方式，电流通路不会出现短暂开路而归零的状态，不再存在磁场的瞬变，样品励磁线圈的磁化过程是连续进行的，确保了超宽范围的电流连续稳定调节和电流量值的准确测量，得到的B‑H回线也是连续的。

【技术实现步骤摘要】
用于对软磁材料进行大范围B-H回线测量的方法及装置
本专利技术涉及软磁材料的B-H回线测量
，特别地，涉及一种用于对软磁材料进行大范围B-H回线测量的方法，另外，还涉及一种用于对软磁材料进行大范围B-H回线测量的装置。
技术介绍
软磁材料生产商为了进一步提高公司的竞争力，需对其产品进行全面分析，以及进行品质控制时需要定量地分析材料的磁性能参数，而B-H回线的测量、绘制通常是达成这一目的的有效而快捷的方式。在实际应用中，我们通常使用快速扫描法来获得被测样品的B-H回线。在测量的过程中，B通常是直接对二次侧的感应电压进行积分所得，而H则是直接通过一次侧的电流换算过来。由于B-H回线测量的特殊性，需要同时保证磁场在峰值、零以及接近矫顽力这三个点的高准确性，而H＝NI/L(1)，其中，H表示磁化场的大小，单位为A/m，N表示初级绕组的匝数，I表示磁化电源的大小，L表示被测样品的等效磁路长度。由式(1)可知，也就等效于要准确测量这三个磁场点对应的电流值。而在扫描法测量时，对应的电流的动态范围十分宽广，可以达到1μA～25A的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于对软磁材料进行大范围B-H回线测量的方法，其特征在于，/n包括以下步骤：/n步骤S1：将两条电流通道并联后与样品励磁线圈、电源串联，其中，一条电流通道包括依次连接的半导体压控器件和第一采样电阻，另一电流通道包括依次连接的开关和第二采样电阻，样品励磁线圈缠绕在待测软磁材料上；/n步骤S2：闭合开关并采用快速扫描法获得样品励磁线圈的B-H回线。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于对软磁材料进行大范围B-H回线测量的方法，其特征在于，
包括以下步骤：
步骤S1：将两条电流通道并联后与样品励磁线圈、电源串联，其中，一条电流通道包括依次连接的半导体压控器件和第一采样电阻，另一电流通道包括依次连接的开关和第二采样电阻，样品励磁线圈缠绕在待测软磁材料上；
步骤S2：闭合开关并采用快速扫描法获得样品励磁线圈的B-H回线。


2.如权利要求1所述的用于对软磁材料进行大范围B-H回线测量的方法，其特征在于，
所述第一采样电阻的电阻值为毫欧级别，所述第二采样电阻的电阻值为欧姆或千欧级别。


3.如权利要求2所述的用于对软磁材料进行大范围B-H回线测量的方法，其特征在于，
所述电源为双极性可调电压源，所述步骤S2具体包括以下步骤：
步骤S21：根据所需的磁场波形控制双极性可调电压源输出的电压波形，并实时监控第一采样电阻和第二采样电阻的扫描电流大小；
步骤S22：得到待测软磁材料的磁感应强度测量结果和电流扫描测量结果，并绘制出B-H回线。


4.如权利要求3所述的用于对软磁材料进行大范围B-H回线测量的方法，其特征在于，
在所述步骤S21中，当监测到第二采样电阻的电流值小于设定的电流值时，仅将第二采样电阻的电流值作为当前的电流扫描测量值；当监测到第二采样电阻的电流值大于设定的电流值时，加上第一采样电阻的电流值作为当前的电流扫描测量值。


5.如权利要求1所述的用于对软磁材料进行大范围B-H回线测量的方法，其特征在于，
所述半导体压控器件为二极管。


6.一种用于对软磁材料进行大范围B-H回线测量的装置，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：周新华，李关仁，
申请(专利权)人：长沙天恒测控技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖南;43