【技术实现步骤摘要】
一种采用电场对称结构测量高损耗材料微波介电性能的方法
本专利技术属于微波介电性能测试
，包括但不限于高介电损耗材料及其在变温条件下微波介电性能的测试。
技术介绍
随着微波技术的发展，以吸波材料为代表的高介电损耗材料在航空航天、电磁污染等领域的应用日趋广泛，在很多实际应用场合中需要精确的介电性能进行仿真、设计，但高介电损耗材料在微波频段介电性能的精确测试一直是个难题。当前高介电损耗材料微波介电性能的测试方法主要以传输/反射法为主，代表性方法有自由空间法、波导法、同轴空气线法等，这些方法在测试过程中由于相位测试的敏感性导致测试精度较低，仅能大致的反映出材料介电性能随频率的变化趋势。而传统的、能精确测试微波介电性能的谐振法不适用于高介电损耗材料，这是因为高介电损耗材料会导致谐振峰衰减严重甚至消失，给谐振频率及品质因数的测量带来极大困难。另一方面，虽然现有方法中有利用圆柱金属谐振腔来测量高损耗材料的微波介电性能，但是这种方法直接采用实心圆柱陶瓷作为参考样品，将片状待测样品直接放置陶瓷之上，并用石英单晶作为支架。这种结构...
【技术保护点】
1.一种采用电场对称结构测量高损耗材料微波介电性能的方法，其特征在于，谐振腔工作模式选定为TE
【技术特征摘要】
1.一种采用电场对称结构测量高损耗材料微波介电性能的方法，其特征在于，谐振腔工作模式选定为TE011，具体步骤如下：
(1)设置起始频率、扫描点数，校准网络分析仪及同轴线缆；
(2)采用高Q值的TE011模式环形陶瓷谐振器，并放置于TE011模式金属谐振腔体中的低介电常数介质支撑体上方正中心，用网络分析仪测试并寻找TE011工作模式谐振峰，记录谐振频率f0及品质因数Q0；
(3)测量待测样品直径，并将待测样品放置于TE011模式环形谐振器的正中心,用网络分析仪测试并寻找TE011工作模式的谐振峰，记录谐振频率fL及品质因数QL；
(4)利用电磁仿真软件建立实物模型，确保空腔仿真的谐振频率与实测结果完全一致，并仿真未加载样品和加载该直径下不同介电常数的样品的谐振频率，绘制该直径下加载不同介电常数的样品的谐振频偏图，对所得曲线进行线性拟合；
(5)用具有稳定介电性能...
【专利技术属性】
技术研发人员：向锋，熊刚，李建壮，张波，郭永钊，董亦鹏，
申请(专利权)人：西安交通大学，
类型：发明
国别省市：陕西;61
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