一种紫外成像的光子计数空间密度计算方法及其成像设备技术

一种紫外成像的光子计数空间密度计算方法，包括以下步骤：S100：获得目标的紫外放电图像，所述紫外放电图像至少包括：目标的紫外图像信息以及目标的可见光图像信息的合成信息；S200：对所述紫外放电图像提取紫外光斑轮廓，其中，提取的原则包括：删除小面积的连通域的干扰项；S300：对紫外光斑轮廓内的空间光子密度计算；S400：根据预先实验统计所得到的紫外光子的衰减曲线，对所述空间光子密度进行校准。

【技术实现步骤摘要】
一种紫外成像的光子计数空间密度计算方法及其成像设备
本公开属于电气工程领域，涉及该领域中紫外成像仪的检测结果的数据处理，尤其涉及一种紫外成像的光子计数空间密度计算方法。
技术介绍
在电气工程领域，紫外成像一般采用光子倍增成像的技术，其成像原理是利用电子光学系统将紫外光转换荧光屏图像，原理如图1所示。国内应用紫外成像手段开展电气设备状态检测的历史最早至少可以追溯至十年前，当时主要采用南非生产的CoroCAM以及以色列生产的OFIL紫外成像装置。国外的装置利用半透镜原理的日盲型紫外检测技术，巧妙的解决了日光对紫外成像的影响，使紫外光呈现在可见光的图像上，并实现放电计数，放电强度评估等功能。在日盲紫外电晕探测设备中，一般直接根据显示器上显示的日盲紫外图像来判断电晕放电的程度，但是屏幕上显示紫外强度是依据空间光子计数值重绘在影像上的，计数值会受到距离、湿度、水汽等因素的影响，因而不易定量。因此，需要通过具体的算法对日盲紫外电晕放电进行量化分析，以利于对比分析。然而，日盲紫外电晕信号仅在较窄的带宽范围内有效因而光强衰减较大，目前的通用仪器本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种紫外成像的光子计数空间密度计算方法，包括以下步骤：/nS100：获得目标的紫外放电图像，所述紫外放电图像至少包括：目标的紫外图像信息以及目标的可见光图像信息的合成信息；/nS200：对所述紫外放电图像提取紫外光斑轮廓，其中，提取的原则包括：删除小面积的连通域的干扰项；/nS300：对紫外光斑轮廓内的空间光子密度计算；/nS400：根据预先实验统计所得到的紫外光子的衰减曲线，对所述空间光子密度进行校准。/n

【技术特征摘要】
1.一种紫外成像的光子计数空间密度计算方法，包括以下步骤：
S100：获得目标的紫外放电图像，所述紫外放电图像至少包括：目标的紫外图像信息以及目标的可见光图像信息的合成信息；
S200：对所述紫外放电图像提取紫外光斑轮廓，其中，提取的原则包括：删除小面积的连通域的干扰项；
S300：对紫外光斑轮廓内的空间光子密度计算；
S400：根据预先实验统计所得到的紫外光子的衰减曲线，对所述空间光子密度进行校准。


2.根据权利要求1所述的方法，其中，优选的，所述步骤S400之后还包括如下步骤：
S500：根据校准后的空间光子密度，计算紫外光斑轮廓的密度中心；
S600：在所述紫外放电图像上标注所述密度中心。


3.一种紫外成像设备，包括：
面向目标的紫外镜头单元，像增强器，可见光镜头单元，第一CCD，第二CCD，双视频采集单元，以及图像处理单元，其中，
所述紫外镜头单元包括第一反射镜和紫外镜头，其中，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗时聪，郭丽萍，赵庆，赵文彬，
申请(专利权)人：上海电气输配电试验中心有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31