【技术实现步骤摘要】
一种碳化硅衬底氮化镓基功率器件
本技术属于半导体功率器件及其制备
,涉及氮化镓基功率器件,具体为一种碳化硅衬底氮化镓基功率器件。
技术介绍
近些年来,Ⅲ族氮化物半导体材料已经得到深入研究和广泛应用。从技术应用上来讲,Ⅲ族氮化物宽禁带直接带隙半导体材料具有高硬度、高导热率、宽禁带、高电子迁移率、稳定的化学性质、较小介电常数和耐等优点,得到了广泛的开发和应用,拥有巨大的发展前景。而氮化镓是半导体Ⅲ族氮化物的基本材料,其质地坚硬,且化学性质稳定,室温下不与酸、碱反应,不溶于水,而且具有较高的熔点;因此,氮化镓材料是作为半导体功率器件良好的选择;目前,对于制作氮化镓基功率器件来说,一般采用的是蓝宝石作为衬底,但是,蓝宝石衬底导热性能差,因此在制作功率器件时会传导出大量的热量,而导热性能又是大功率器件的一个非常重要的考虑因素;其次,利用蓝宝石作为衬底,通常只能在外延层上表面制作N型和P型电极,造成了有效发光面积减小,材料利用率降低;最后,蓝宝石衬底与GaN晶格失配严重,会导致外延层中产生大量缺陷,给后续器件加工工艺造成困难。r>
技术实现思路
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【技术保护点】
1.一种碳化硅衬底氮化镓基功率器件,包括由下向上依次设置的衬底层(1)、缓冲层以及外延层,其特征在于:所述的衬底层(1)为碳化硅衬底层,外延层包括由下向上依次设置的AlGaN应力调控层(4)、n-AlGaN导电缓冲层(5)、n-GaN薄膜层(6)、n-AlGaN/n-GaN超晶格应力缓解层(7)、InGaN/GaN多量子阱结构层(8)、p-AlGaN电子阻挡层(9)、p-GaN薄膜层(10)以及p-GaN重掺层(11)。/n
【技术特征摘要】
1.一种碳化硅衬底氮化镓基功率器件,包括由下向上依次设置的衬底层(1)、缓冲层以及外延层,其特征在于:所述的衬底层(1)为碳化硅衬底层,外延层包括由下向上依次设置的AlGaN应力调控层(4)、n-AlGaN导电缓冲层(5)、n-GaN薄膜层(6)、n-AlGaN/n-GaN超晶格应力缓解层(7)、InGaN/GaN多量子阱结构层(8)、p-AlGaN电子阻挡层(9)、p-GaN薄膜层(10)以及p-GaN重掺层(11)。
2.根据权利要求1所述的一种碳化硅衬底氮化镓基功率器件,其特性在于:所述的缓冲层包括第一AlN缓冲层(2)以及位于其上方的第二AlN缓冲层(3),第一AlN缓冲层(2)和第二AlN缓冲层(3)的生长厚度都是100nm。
3.根据权利要求1所述的一种碳化硅衬底氮化镓基功率器件,其特征在于:AlGaN应力调控层(4)为Al组分渐变的渐变式AlGaN层,AlGaN应力调控层(4)的厚度为80nm。
4.根据权利要求1所述的一种碳化硅衬底氮化镓基功率器件,其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员:孟立智,袁凤坡,王静辉,唐兰香,白欣娇,宋士增,甘琨,高建海,
申请(专利权)人:同辉电子科技股份有限公司,
类型:新型
国别省市:河北;13
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