一种SEM-D模块高低温试验装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及高低温试验装置技术领域，且公开了一种SEM‑D模块高低温试验装置，包括保温箱，所述保温箱内部的左侧焊接有制冷箱，所述保温箱内部的右侧焊接有制热箱，所述制冷箱和制热箱的内部均设有放置结构，所述放置结构用于对SEM‑D模块进行放置，所述放置结构的上方设有动力结构，所述动力结构用于对放置结构进行移动；该一种SEM‑D模块高低温试验装置，通过保温箱、制冷箱、制热箱、放置结构、动力结构、制冷器和制热器的设置，使SEM‑D模块高低温试验装置，具备可以高温低温同时检测试验、且方便样品进行填入和拿取的优点，解决了现有的温度试验装置无法高温低温同时进行检测试验、且不方便样品填入和拿取的问题。

A high and low temperature test device of sem-d module

【技术实现步骤摘要】
一种SEM-D模块高低温试验装置
本技术涉及高低温试验装置
，具体为一种SEM-D模块高低温试验装置。
技术介绍
SEM-D模块为实时计算控制模块，含1片PPC(P2020)和一片FPGA(K7)等计算控制资源，DDR3、FLASH、和DPRAM等存储资源，以及RapidIO、网络、CAN总线等接口资源。SEM-D模块在生产完成后，需要对其进行多方面进行检测，例如对温度进行检测，在对SEM-D模块进行检测时，需要在高温和低温下对其进行检测，现有的温度试验装置虽然可以进行加热和制冷切换，但是其检测效率低下，当SEM-D模块需要检测的样品较多时，无法同时进行高温和低温进行检测，且SEM-D模块在放入装置或取出时，由于样品较多，需要人工长时间进行拿取，为此，我们提出了一种SEM-D模块高低温试验装置，以解决上述内容存在的问题。
技术实现思路
针对现有技术的不足，本技术提供了一种SEM-D模块高低温试验装置，具备可以高温低温同时检测试验、且方便样品进行填入和拿取的优点，解决了现有的温度试验装置无法高温低温同时进行检测试验、本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种SEM-D模块高低温试验装置，包括保温箱(1)，其特征在于：所述保温箱(1)内部的左侧焊接有制冷箱(2)，所述保温箱(1)内部的右侧焊接有制热箱(3)，所述制冷箱(2)和制热箱(3)的内部均设有放置结构(4)，所述放置结构(4)用于对SEM-D模块进行放置，所述放置结构(4)的上方设有动力结构(5)，所述动力结构(5)用于对放置结构(4)进行移动，所述保温箱(1)背面的左侧设有制冷器(6)，所述制冷器(6)用于对制冷箱(2)进行制冷作业，所述保温箱(1)背面的右侧栓接有制热器(7)，所述制热器(7)用于对制热箱(3)进行加热作业。/n

【技术特征摘要】
1.一种SEM-D模块高低温试验装置，包括保温箱(1)，其特征在于：所述保温箱(1)内部的左侧焊接有制冷箱(2)，所述保温箱(1)内部的右侧焊接有制热箱(3)，所述制冷箱(2)和制热箱(3)的内部均设有放置结构(4)，所述放置结构(4)用于对SEM-D模块进行放置，所述放置结构(4)的上方设有动力结构(5)，所述动力结构(5)用于对放置结构(4)进行移动，所述保温箱(1)背面的左侧设有制冷器(6)，所述制冷器(6)用于对制冷箱(2)进行制冷作业，所述保温箱(1)背面的右侧栓接有制热器(7)，所述制热器(7)用于对制热箱(3)进行加热作业。


2.根据权利要求1所述的一种SEM-D模块高低温试验装置，其特征在于：所述放置结构(4)包括滑槽(41)，所述滑槽(41)的数量为两个，所述滑槽(41)开设于制冷箱(2)和制热箱(3)的内部，所述滑槽(41)的内部滑动连接有支撑板(42)，所述支撑板(42)内部的两侧均焊接有放置框(43)，两个支撑板(42)之间焊接有支撑杆...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡叠，徐金平，莫建军，田世强，
申请(专利权)人：重庆秦嵩科技有限公司，
类型：新型
国别省市：重庆;50