自动测试装置制造方法及图纸

一种自动测试装置，包括：承载机构、设置在所述承载机构上的基座、及连接所述承载机构的识别机构；所述识别机构包括连接所述承载机构的第一支撑组件、连接所述第一支撑组件的图像采集器及连接所述图像采集器的图像分析模块；所述图像采集器设置在所述承载机构上方，所述基座与所述图像采集器的感应范围对应；所述图像采集器向所述图像分析模块提供图像信息，所述图像分析模块对所述图像信息进行分析处理；通过图像采集器与基座对应设置，在将电子产品放置到基座上后，图像采集器对电子产品表面的灯光指示组合或屏幕显示进行拍摄后产生图像信息，通过图像分析模块对图像信息的分析处理，从而可自动化地判断电子产品是否能正常开机。

Automatic test device

【技术实现步骤摘要】
自动测试装置
本技术涉及测试技术，特别是涉及一种自动测试装置。
技术介绍
部分电子产品在开机过程中，会结合灯光或屏幕显示，以向用户确认电子产品处于开机过程，或在存在软硬件问题时向用户提供相关提示，因此电子产品在生产过程中需要对开机过程的灯光或屏幕显示进行检测，以确认电子产品能正常开机；然而，传统方案一般通过人工观察确认电子产品的开机过程，导致检测效率低及人力成本高，不利于带开机过程的电子产品的大规模生产。
技术实现思路
基于此，有必要提供一种自动检测电子产品开机过程的自动测试装置。一种自动测试装置，包括：承载机构、设置在所述承载机构上的基座、及连接所述承载机构的识别机构；所述识别机构包括连接所述承载机构的第一支撑组件、连接所述第一支撑组件的图像采集器及连接所述图像采集器的图像分析模块；所述图像采集器设置在所述承载机构上方，所述基座与所述图像采集器的感应范围对应；所述图像采集器向所述图像分析模块提供图像信息，所述图像分析模块对所述图像信息进行分析处理。上述自动测试装置，通过图像采集器与基座对应设置，在将电子产品放置到基座上后，图像采集器对电子产品表面的灯光指示组合或屏幕显示进行拍摄后产生图像信息，通过图像分析模块对图像信息的分析处理，从而可自动化地判断电子产品是否能正常开机。在其中一个实施例中，还包括连接所述基座的平移驱动机构；所述承载机构包括底板，所述基座滑动设置在所述底板上；所述平移驱动机构用于驱动所述基座相对所述底板移动；所述基座的移动路径经过所述图像采集器的感应范围。r>在其中一个实施例中，所述承载机构还包括安装在所述底板上的支撑块及连接所述支撑块的滑轨；所述滑轨包括连接所述支撑块的第一滑块及与所述第一滑块滑动连接的轨道条；所述轨道条与所述基座连接；所述平移驱动机构安装在所述底板上，且与所述基座连接。在其中一个实施例中，所述承载机构还包括安装在所述底板上的第一限位组件；所述第一限位组件包括安装在靠近所述底板内侧的第一固定块及安装在所述第一固定块上的内限位件；所述内限位件与所述第一固定块螺纹连接；所述基座上连接有与所述内限位件对应的挡块。在其中一个实施例中，还包括安装在所述承载机构上的启动机构，所述启动机构包括连接所述承载机构的第一驱动器、连接所述第一驱动器的摆杆及连接所述摆杆的按压块。在其中一个实施例中，所述第一驱动器为旋转下压气缸。在其中一个实施例中，还包括与所述基座对应的复位机构，所述复位机构包括触发组件；所述触发组件包括连接所述基座的第二驱动器及连接所述第二驱动器的活动端的顶针。在其中一个实施例中，还包括连接所述承载机构的防反弹组件，所述防反弹组件相对设置在所述基座的两侧；所述防反弹组件包括连接所述承载机构的侧支板、连接所述侧支板的第三驱动器及连接所述第三驱动器的侧压块；所述侧压块与所述基座对应。在其中一个实施例中，所述复位机构还包括连接所述基座的防护组件，所述防护组件包括连接所述基座的拖链及连接所述承载机构的固定台；所述拖链的一端连接所述基座，所述拖链的另一端连接所述固定台。在其中一个实施例中，所述第一支撑组件包括连接所述承载机构的定位块、连接所述定位块的立杆、套设在所述立杆上的第二转接块、穿设在所述第二转接块上的横杆及连接所述横杆的第一安装板；所述图像采集器与所述第一安装板连接。附图说明图1为本技术的一较佳实施例的自动测试装置的立体示意图；图2为图1所示的自动测试装置在另一角度的立体示意图；图3为图1中的承载机构及基座的分解示意图；图4为图1中的承载机构及基座在另一角度的分解示意图；图5为图1所示的自动测试装置在隐藏识别机构后的立体示意图；图6为图5所示的自动测试装置在另一角度的立体示意图；图7为图5中的触发组件的立体示意图。具体实施方式为了便于理解本技术，下面将对本技术进行更全面的描述。但是，本技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本技术的公开内容的理解更加透彻全面。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本技术。请参阅图1至图7，为本技术一较佳实施方式的自动测试装置100，用于对电子产品800的开机过程进行自动检测。该自动测试装置100包括承载机构20、设置在承载机构20上的基座30、及连接承载机构20的识别机构40；识别机构40包括连接承载机构20的第一支撑组件41、连接第一支撑组件41的图像采集器42及连接图像采集器42的图像分析模块；图像采集器42设置在承载机构20上方，基座30与图像采集器42的感应范围对应；图像采集器42向图像分析模块提供图像信息，图像分析模块对图像信息进行分析处理。通过图像采集器42与基座30对应设置，在将电子产品800放置到基座30上后，图像采集器42对电子产品800表面的灯光指示组合或屏幕显示进行拍摄后产生图像信息，通过图像分析模块对图像信息的分析处理，从而可自动化地判断电子产品800是否能正常开机。请参阅图3及图4，在其中一个实施方式中，为避免外部光源影响图像采集器42的拍摄效果，自动测试装置100安装在暗箱中，为避免每次更换进行开机测试的电子产品800后需要利用盖子封住暗箱的进光，暗箱一般上侧封闭并在水平一侧设有开口，为在自动测试装置100放入到暗箱中后，方便将电子产品800放入到基座30上，自动测试装置100还包括连接基座30的平移驱动机构50；承载机构20包括底板21，基座30滑动设置在底板21上；平移驱动机构50用于驱动基座30相对底板21移动；基座30的移动路径经过图像采集器42的感应范围；具体地，基座30的移动方向与暗箱的开口对应，在进行开机测试前，平移驱动机构50驱动基座30，令基座30向暗箱的开口侧移动，从而令基座30承载电子产品800的部位暴露在暗箱外侧，从而可方便地将电子产品800放置到基座30上，在基座30的带动下，电子产品800移动到与图像采集器42对应的位置；在暗箱横向深度足够的情况下，即使侧开口未进行封盖，也可避免外部光源影响图像采集器42的拍摄效果；在完成开机测试后，基座30将电子产品800移动到暗箱外，从而可方便地将完成测试的电子产品800取出。在其中一个实施方式中，为实现基座30与底板21的滑动连接，承载机构20还包括安装在底板21上的支撑块22及连接支撑块22的滑轨23；滑轨23包括连接支撑块22的第一滑块231及与第一滑块231滑动连接的轨道条232；轨道条232与基座30连接；平移驱动机构50安装在底板21上，且与基座30连接；具体地，支撑块22设置底板21上靠近暗箱侧开口的一侧，支撑块22起到了调整基座30高度的作用，令平移驱动机构50可设置在基座30的下方；在基座30相对底板21移本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种自动测试装置，其特征在于，包括：承载机构、设置在所述承载机构上的基座、及连接所述承载机构的识别机构；所述识别机构包括连接所述承载机构的第一支撑组件、连接所述第一支撑组件的图像采集器及连接所述图像采集器的图像分析模块；所述图像采集器设置在所述承载机构上方，所述基座与所述图像采集器的感应范围对应；所述图像采集器向所述图像分析模块提供图像信息，所述图像分析模块对所述图像信息进行分析处理。/n

【技术特征摘要】
1.一种自动测试装置，其特征在于，包括：承载机构、设置在所述承载机构上的基座、及连接所述承载机构的识别机构；所述识别机构包括连接所述承载机构的第一支撑组件、连接所述第一支撑组件的图像采集器及连接所述图像采集器的图像分析模块；所述图像采集器设置在所述承载机构上方，所述基座与所述图像采集器的感应范围对应；所述图像采集器向所述图像分析模块提供图像信息，所述图像分析模块对所述图像信息进行分析处理。


2.根据权利要求1所述的自动测试装置，其特征在于，还包括连接所述基座的平移驱动机构；所述承载机构包括底板，所述基座滑动设置在所述底板上；所述平移驱动机构用于驱动所述基座相对所述底板移动；所述基座的移动路径经过所述图像采集器的感应范围。


3.根据权利要求2所述的自动测试装置，其特征在于，所述承载机构还包括安装在所述底板上的支撑块及连接所述支撑块的滑轨；所述滑轨包括连接所述支撑块的第一滑块及与所述第一滑块滑动连接的轨道条；所述轨道条与所述基座连接；所述平移驱动机构安装在所述底板上，且与所述基座连接。


4.根据权利要求2所述的自动测试装置，其特征在于，所述承载机构还包括安装在所述底板上的第一限位组件；所述第一限位组件包括安装在靠近所述底板内侧的第一固定块及安装在所述第一固定块上的内限位件；所述内限位件与所述第一固定块螺纹连接；所述基座上连接有与所述内限位件对应的挡块。


5.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：向康，
申请(专利权)人：深圳市卓翼科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44