显示装置制造方法及图纸

技术编号:24133796 阅读:20 留言:0更新日期:2020-05-13 07:20
显示装置包括多个像素、第1至第n扫描线和第1半导体膜。多个像素配置在第1行至第n行和第1列至第m列。第1至第n扫描线分别与对应的第1行至第n行的像素电连接。第1半导体膜与从第1至第n扫描线选择的第1至第k扫描线中的至少一者重叠。由多个像素定义的显示区域具有与第1行至第k行交叉的缺口,并且第1半导体膜位于缺口内。多个像素的每一个包括发光元件和与发光元件电连接且具有第2半导体膜的晶体管。第1半导体膜和第2半导体膜存在于同一层内。n和m是比1大的自然数,k是比n小的自然数。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】显示装置
本专利技术的实施方式之一涉及显示装置,例如是作为显示元件具有有机发光元件的显示装置。
技术介绍
作为显示装置的一例,能够举例有机EL(Electroluminescence,电致发光)显示装置。有机EL显示装置具有形成在基片上的多个像素,在各像素中具有有机发光元件(以下,发光元件)。在提供高精细的、或者大型的显示装置的情况下,要在各像素形成包括多个晶体管或电容元件等的像素电路。像素电路通过设置在基片上的驱动电路或者外部电路来驱动,由此控制各像素的发光。伴随显示装置的大型化或高精细化,在向驱动电路供给电信号的配线(信号线或扫描线等)施加由配线的寄生电容或电阻引起的大的负载(驱动负载)。该负载的值,由于在屏幕的端部与中央部不同,因此在信号的延迟量或钝化量产生差,导致在所显示的影像中产生不均等,引起显示品质的降低。为了防止由这样的信号的延迟或信号形状的钝化引起的显示不均匀,例如在专利文献1或2中公开了,在扫描线或信号线的末端设置电阻或可变电容等的附加电容的技术。现有技术文献专利文献专利文献1:日本特开2004-125895号公报。专利文献2:日本特开平10-268348号公报。
技术实现思路
用于解决问题的技术手段本专利技术的实施方式之一是显示装置。该显示装置包括多个像素、第1至第n扫描线和第1半导体膜。多个像素配置在第1行至第n行和第1列至第m列。第1至第n扫描线分别与对应的第1行至第n行的像素电连接。第1半导体膜与从第1至第n扫描线选择的第1至第k扫描线中的至少一者重叠。由多个像素定义的显示区域具有与第1行至第k行交叉的缺口,并且第1半导体膜位于缺口内。多个像素的每一个具有发光元件和与发光元件电连接且具有第2半导体膜的晶体管。第1半导体膜和第2半导体膜存在于同一层内。n和m是比1大的自然数,k是比n小的自然数。本专利技术的实施方式之一是显示装置。该显示装置具有多个像素、第1至第n扫描线和金属膜。多个像素配置在第1行至第n行和第1列至第m列。第1至第n扫描线分别与对应的第1行至第n行的像素电连接。金属膜与从第1至第n扫描线选择的第1至第k扫描线的至少一者重叠。由多个像素定义的显示区域具有与第1行至第k行交叉的缺口,金属膜位于缺口内。多个像素的每一个具有:发光元件;和与发光元件电连接且具有半导体膜和与半导体膜电连接的源极/漏极电极的晶体管。金属膜和半导体膜存在于同一层内。n和m是比1大的自然数,k是比n小的自然数。本专利技术的实施方式之一是显示装置。该显示装置具有多个像素、第1至第n扫描线、第1至第k补偿晶体管。多个像素配置在第1行至第n行和第1列至第m列。第1至第n扫描线分别与对应的第1行至第n行的像素电连接。第1至第k补偿晶体管与从第1至第n扫描线选择的第1至第k扫描线分别电连接。由多个像素定义的显示区域具有与从第1行至第n行选择的第1行至第k行交叉的缺口,第1至第k补偿晶体管位于显示区域外。多个像素的每一个具有:第1半导体膜;与第1半导体膜重叠的第1栅极电极;和与第1半导体膜电连接的源极/漏极电极。第1至第k补偿晶体管的每一个具有:第2半导体膜;与第2半导体膜重叠的第2栅极电极;与第2半导体膜电连接的第1端子和第2端子。第1至第k补偿晶体管的第1端子分别为对应的第1至第k扫描线的一部分。n和m是比1大的自然数,k是比n小的自然数。附图说明图1是本专利技术的实施方式的显示装置的示意性俯视图。图2A是本专利技术的实施方式的显示装置的示意性俯视图。图2B是本专利技术的实施方式的显示装置的示意性俯视图。图2C是本专利技术的实施方式的显示装置的示意性俯视图。图3是本专利技术的实施方式的显示装置的像素电路的等效电路。图4是本专利技术的实施方式的显示装置的示意性剖视图。图5是本专利技术的实施方式的显示装置的示意性俯视图。图6是本专利技术的实施方式的显示装置的示意性俯视图。图7是本专利技术的实施方式的显示装置的示意性俯视图。图8是本专利技术的实施方式的显示装置的示意性剖视图。图9是本专利技术的实施方式的显示装置的示意性俯视图。图10是本专利技术的实施方式的显示装置的示意性剖视图。图11是本专利技术的实施方式的显示装置的示意性俯视图。图12是本专利技术的实施方式的显示装置的示意性俯视图。图13是本专利技术的实施方式的显示装置的示意性俯视图。图14A是表示本专利技术的实施方式的显示装置的制作方法的示意性剖视图。图14B是表示本专利技术的实施方式的显示装置的制作方法的示意性剖视图。图14C是表示本专利技术的实施方式的显示装置的制作方法的示意性剖视图。图15A是表示本专利技术的实施方式的显示装置的制作方法的示意性剖视图。图15B是表示本专利技术的实施方式的显示装置的制作方法的示意性剖视图。图16A是表示本专利技术的实施方式的显示装置的制作方法的示意性剖视图。图16B是表示本专利技术的实施方式的显示装置的制作方法的示意性剖视图。图17A是表示本专利技术的实施方式的显示装置的制作方法的示意性剖视图。图17B是表示本专利技术的实施方式的显示装置的制作方法的示意性剖视图。图18A是表示本专利技术的实施方式的显示装置的制作方法的示意性剖视图。图18B是表示本专利技术的实施方式的显示装置的制作方法的示意性剖视图。图19是本专利技术的实施方式的显示装置的示意性俯视图。图20是本专利技术的实施方式的显示装置的示意性剖视图。图21是本专利技术的实施方式的显示装置的示意性俯视图。图22是本专利技术的实施方式的显示装置的示意性剖视图。图23是本专利技术的实施方式的显示装置的示意性俯视图。图24是本专利技术的实施方式的显示装置的示意性剖视图。图25A是本专利技术的实施方式的显示装置的示意性俯视图。图25B是本专利技术的实施方式的显示装置的示意性俯视图。图26是本专利技术的实施方式的显示装置的示意性俯视图。图27是本专利技术的实施方式的显示装置的示意性剖视图。图28是本专利技术的实施方式的显示装置的示意性俯视图。图29是本专利技术的实施方式的显示装置的示意性剖视图。图30是本专利技术的实施方式的显示装置的示意性俯视图。具体实施方式以下,关于本专利技术的各实施方式参照附图等进行说明。但是,本专利技术在不脱离其主旨的范围中能够以各种各样的方式实施,并不限定于以下所例示的实施方式的记载内容来解释。附图中为了使说明更明确,与实际的方式相比,存在关于各部的宽度、厚度、形状等示意性地表示的情况,均只是一个例子,并不限定对本专利技术的解释。在本说明书和各附图中,与关于已经出现过的图所说明的内容具有相同的功能的要素,标注相同的附图标记,省略重复的说明。在本专利技术中,在对某一个膜进行蚀刻或光照射形成多个膜的情况下,这多个膜有时具有不同的功能、作用。但是,这多个膜可以是由相同工序作为同一层形成的膜,具有相同的层结构、相同的材料。因此,这多本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示装置,其特征在于,具有:/n配置在第1行至第n行和第1列至第m列的多个像素;/n分别与对应的所述第1行至第n行的像素电连接的第1至第n扫描线;和/n与从所述第1至第n扫描线选择的第1至第k扫描线中的至少一者重叠的至少一个第1半导体膜,/n由所述多个像素定义的显示区域具有与所述第1行至第k行交叉的缺口,/n所述至少一个第1半导体膜位于所述缺口内,/n所述多个像素的每一个具有:/n发光元件;和/n与所述发光元件电连接且具有第2半导体膜的晶体管,/n所述至少一个第1半导体膜和所述第2半导体膜存在于同一层内,/n其中,n和m是比1大的自然数,k是比n小的自然数。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20171017 JP 2017-2012361.一种显示装置,其特征在于,具有:
配置在第1行至第n行和第1列至第m列的多个像素;
分别与对应的所述第1行至第n行的像素电连接的第1至第n扫描线;和
与从所述第1至第n扫描线选择的第1至第k扫描线中的至少一者重叠的至少一个第1半导体膜,
由所述多个像素定义的显示区域具有与所述第1行至第k行交叉的缺口,
所述至少一个第1半导体膜位于所述缺口内,
所述多个像素的每一个具有:
发光元件;和
与所述发光元件电连接且具有第2半导体膜的晶体管,
所述至少一个第1半导体膜和所述第2半导体膜存在于同一层内,
其中,n和m是比1大的自然数,k是比n小的自然数。


2.如权利要求1所述的显示装置,其特征在于:
还具有与所述多个像素电连接的多个电流供给线,
所述至少一个第1半导体膜与所述多个电流供给线中的至少一者电连接。


3.如权利要求1所述的显示装置,其特征在于:
所述第1至第k扫描线以绕过所述缺口的方式弯曲。


4.如权利要求1所述的显示装置,其特征在于:
所述至少一个第1半导体膜具有与所述第1至第k扫描线中的至少一者重叠的多个第1半导体膜。


5.如权利要求4所述的显示装置,其特征在于:
所述多个第1半导体膜具有梯形形状。


6.如权利要求4所述的显示装置,其特征在于:
还具有分别与对应的所述第1列至第m列的像素电连接的多个信号线,
与所述缺口交叉的列的所述信号线被相邻的第1半导体膜夹着。


7.如权利要求6所述的显示装置,其特征在于:
与所述缺口交叉的所述列的所述信号线的宽度比不与所述缺口交叉的列的所述信号线的宽度大。


8.一种显示装置,其特征在于,具有:
配置在第1行至第n行和第1列至第m列的多个像素;
分别与对应的所述第1行至第n行的像素电连接的第1至第n扫描线;和
与从所述第1至第n扫描线选择的第1至第k扫描线中的至少一者重叠的至少一个金属膜,
由所述多个像素定义的显示区域具有与所述第1行至第k行交叉的缺口,
所述至少一个金属膜位于所述缺口内,
所述多个像素的每一个具有:
发光元件;和
与所述发光元件电连接,且具有半导体膜和与所述半导体膜电连接的源极/漏极电极的晶体管,
所述至少一个金属膜和所述半导体膜存在于同一层内,
其中,n和m是比1大的自然数,k是比n小的自然数。


9.如权利要求8所述的显示装置,其特征在于:
还包括与所述多个像素电连接的多个电流供给线,
所述至少一个金属膜与所述多个电流供给线中的至少一者电连接。


...

【专利技术属性】
技术研发人员:德田尚纪
申请(专利权)人:株式会社日本显示器
类型:发明
国别省市:日本;JP

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