一种相位噪声测量探头电路制造技术

本发明专利技术公开了一种相位噪声测量探头电路，被测信号S(t)和参考信号R(t)分别输入等幅等相功分模块，等幅等相功分处理后得到被测信号S(t)、S’(t)和参考信号R(t)、R’(t)，被测信号S(t)和参考信号R(t)、被测信号S’(t)和参考信号R’(t)各进入一个ADC‑Pre量化采集预处理模块得到相位参量φ

A probe circuit for measuring phase noise

【技术实现步骤摘要】
一种相位噪声测量探头电路
本专利技术属于信号测量
，涉及一种相位噪声测量探头电路。
技术介绍
相位噪声指标对于当前的射频微波系统、移动通信系统、雷达系统等电子系统影响非常明显，将直接影响系统指标的优劣。该项指标对于系统的研发、设计均具有指导性意义。相位噪声好坏对通信系统有很大影响，尤其现代通信系统中状态很多，频道又很密集，并且不断的变换，所以对相位噪声的要求也愈来愈高。如果本振信号的相位噪声较差，会增加通信中的误码率，影响载频跟踪精度。相位噪声不好，不仅增加误码率、影响载频跟踪精度，还影响通信接收机信道内、外性能测量，相位噪声对邻近频道选择性有影响。如何能够精准的测量信号相位噪声是射频微波领域的一项重要任务。
技术实现思路
(一)专利技术目的本专利技术的目的是：提供一种相位噪声测量探头电路，随着当前接收机相位噪声指标越来越高，能够精准的测量信号相位噪声。(二)技术方案为了解决上述技术问题，本专利技术提供一种相位噪声测量探头电路，其包括：两个等幅等相功分模块、两个ADC-Pre量化采集预处本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种相位噪声测量探头电路，其特征在于，包括：两个等幅等相功分模块、两个ADC-Pre量化采集预处理模块、两个差模相位参量DFT处理模块和互相关运算模块；被测信号S(t)和参考信号R(t)分别输入一个等幅等相功分模块，进行等幅等相功分处理后得到被测信号S(t)、S’(t)和参考信号R(t)、R’(t)，被测信号S(t)和参考信号R(t)进入一个ADC-Pre量化采集预处理模块得到相位参量φ

【技术特征摘要】
1.一种相位噪声测量探头电路，其特征在于，包括：两个等幅等相功分模块、两个ADC-Pre量化采集预处理模块、两个差模相位参量DFT处理模块和互相关运算模块；被测信号S(t)和参考信号R(t)分别输入一个等幅等相功分模块，进行等幅等相功分处理后得到被测信号S(t)、S’(t)和参考信号R(t)、R’(t)，被测信号S(t)和参考信号R(t)进入一个ADC-Pre量化采集预处理模块得到相位参量φS和φR，，被测信号S’(t)和参考信号R’(t)进入一个ADC-Pre量化采集预处理模块相位参量φ’S和φ’R，两组相位参量分别送入一个差模相位参量DFT处理模块得到φS-φR和φ’S-φ’R的DFT信号，进一步经互相关运算模块对其进行互相关运算后得噪声谱估计，由此得被测信号的相位噪声谱。


2.如权利要求1所述的相位噪声测量探头电路，其特征在于，所述被测信号S(t)、参考信号R(t)输入至ADC-Pre量化采集预处理模块，由ADC-Pre量化采样完成模拟信号数字量化，被测信号S(t)经正交数字下变频以及低通滤波器处理后输出信号QS(t)和IS(t)，参考信号R(t)经正交数字下变频以及低通滤波器处理后输出信号QR(t)和IR(t)，对信号QS(t)和IS(t)以及QR(t)和IR(t)分别取反正切arctan和最小二乘LSE计算处理后得到相位参量φS和φR。


3.如权利要求2所述的相位噪声测量探头电路，其特征在于，所述被测信号为：
S(t)＝sin(ωt+φS+φADCS)；
ω：信号S(t)的角频率；<...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨作军，张涛，
申请(专利权)人：天津津航计算技术研究所，
类型：发明
国别省市：天津;12