双向划痕检测结构制造技术

本实用新型专利技术涉及一种双向划痕检测结构，包括相机组件以及光源，所述的光源与产品表面的水平延长面之间具有夹角；所述的光源具有壳体，所述的壳体内设置有多个发光体，所述的发光体以壳体的中心轴线为对称轴均匀的对称分布在壳体底部，发光体从壳体的中心轴线的两侧向内向下照射，发光体的照射方向与壳体的中心轴线之间具有夹角。本实用新型专利技术通过多个方向的光源照射产品，可以呈现多个方向上的划痕，提高了使用品检机产品的适用性，满足单光源解决双方向上的划痕检测。

Two way scratch detection structure

【技术实现步骤摘要】
双向划痕检测结构
本技术涉及图像检测
，尤其是一种双向划痕检测结构。
技术介绍
现有的划痕成像方式和结构只能呈现一个方向上的划痕，对于工作方向的划痕和垂直于工作方向上的划痕不能兼顾呈现。这是由于划痕是条状的，光照从一个方向平行照射到划痕上呈现的是一个方向上的漫反射，而另一个方向上由于没有光照，将不会有划痕形成的漫反射光线进入到相机；并且划痕可分为纵向和横向两种，而单个方向照射的光源只能呈现单方向的划痕，因其改变了光路方向，导致原本应该向相机反射的光线反射到了其它的地方，在相机上的成像就不均匀。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是：提供一种双向划痕检测结构，解决了可见光图像中的多个方向的细浅划痕的检测。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种双向划痕检测结构，包括相机组件以及光源，所述的光源与产品表面的水平延长面之间具有夹角；所述的光源具有壳体，所述的壳体内设置有多个发光体，所述的发光体以壳体的中心轴线为对称轴均匀的对称分布在壳体底部，发光体从壳体的中心轴线的两侧向内向下照射，发光体的照射方向与壳体的中心轴线本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种双向划痕检测结构，包括相机组件以及光源，其特征在于：所述的光源与产品表面的水平延长面之间具有夹角；所述的光源具有壳体，所述的壳体内设置有多个发光体，所述的发光体以壳体的中心轴线为对称轴均匀的对称分布在壳体底部，发光体从壳体的中心轴线的两侧向内向下照射，发光体的照射方向与壳体的中心轴线之间具有夹角。/n

【技术特征摘要】
1.一种双向划痕检测结构，包括相机组件以及光源，其特征在于：所述的光源与产品表面的水平延长面之间具有夹角；所述的光源具有壳体，所述的壳体内设置有多个发光体，所述的发光体以壳体的中心轴线为对称轴均匀的对称分布在壳体底部，发光体从壳体的中心轴线的两侧向内向下照射，发光体的照射方向与壳体的中心轴线之间具有夹角。


2.如权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员：王岩松，韩飞，陈莉华，
申请(专利权)人：征图新视江苏科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32