一种实验天平制造技术

本实用新型专利技术公开了一种实验天平，包括实验天平本体，所述实验天平本体的顶部固定连接有观察框，所述观察框的顶部固定连接有顶板，所述观察框的正面滑动安装有滑动密封板，所述观察框内壁底部的后侧滑动安装有清洁组件，所述滑动密封板的顶部固定连接有第一把手。本实用新型专利技术通过实验天平本体、观察框、顶板、滑动密封板、清洁组件、第一把手、放置槽和收集组件的设置，解决了现有的紧密实验天平不具有对称台进行清洁的功能，只是单纯的加设密封罩避免外界灰尘落入称台，并不能将称重时使样品配比后的残留物清除，从而会影响下一次的称重结果的问题，该实验天平，具备便于清洁称台的优点，提高了称重的精准度。

An experimental balance

【技术实现步骤摘要】
一种实验天平
本技术涉及实验设备
，具体为一种实验天平。
技术介绍
现有技术中，天平是学校物理实验必不可少的教学器材，样本称取、重量对比等都需要用天平来实现，有时也可用于药剂配比。但现有的紧密实验天平不具有对称台进行清洁的功能，只是单纯的加设密封罩避免外界灰尘落入称台，并不能将称重时使样品配比后的残留物清除，从而会影响下一次的称重结果，导致数据错乱影响实验。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种实验天平，具备便于清洁称台的优点，解决了现有的紧密实验天平不具有对称台进行清洁的功能，只是单纯的加设密封罩避免外界灰尘落入称台，并不能将称重时使样品配比后的残留物清除，从而会影响下一次的称重结果的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种实验天平，包括实验天平本体，所述实验天平本体的顶部固定连接有观察框，所述观察框的顶部固定连接有顶板，所述观察框的正面滑动安装有滑动密封板，所述观察框内壁底部的后侧滑动安装有清洁组件，所述滑动密封板的顶部固定连接有第一把手，所述实验天平本体正面的顶部开设有放置槽，所述放置槽的内部设置有收集组件。优选的，所述清洁组件包括滑动条，所述滑动条的顶部固定连接有第二把手，所述滑动条的底部固定连接有清洁刷，所述清洁刷的底部与实验天平本体的顶部接触。优选的，所述收集组件包括收集盒，所述收集盒的正面固定连接有密封板，所述密封板的正面固定连接有第三把手，所述收集盒的后侧镶嵌有第一磁块，所述放置槽内壁的后侧镶嵌有与第一磁块磁力连接的第二磁块。<br>优选的，所述滑动条的左侧和右侧均固定连接有滑动块，所述观察框的内壁开设有与滑动块滑动连接的滑动槽。优选的，所述滑动密封板的左侧和右侧均固定连接有滑条，所述观察框内壁的前侧开设有与滑条滑动连接的滑槽。优选的，所述滑动密封板的底部固定连接有橡胶垫，所述滑动密封板的正面设置有定位销，所述滑动密封板真面的底部开设有与定位销间隙配合的定位孔。与现有技术相比，本技术的有益效果如下：1、本技术通过实验天平本体、观察框、顶板、滑动密封板、清洁组件、第一把手、放置槽和收集组件的设置，解决了现有的紧密实验天平不具有对称台进行清洁的功能，只是单纯的加设密封罩避免外界灰尘落入称台，并不能将称重时使样品配比后的残留物清除，从而会影响下一次的称重结果的问题，该实验天平，具备便于清洁称台的优点，提高了称重的精准度。2、本技术因清洁组件包括滑动条，滑动条的顶部固定连接有第二把手，滑动条的底部固定连接有清洁刷，清洁刷的底部与实验天平本体的顶部接触，该设计通过滑动条、第二把手和清洁刷的设置，便于使用者通过握住第二把手进行前后拉拽带动滑动条前后滑动，滑动条带动清洁刷前后滑动将滞留在称台表面的残留物刷落至收集盒的内部。3、本技术因收集组件包括收集盒，收集盒的正面固定连接有密封板，密封板的正面固定连接有第三把手，收集盒的后侧镶嵌有第一磁块，放置槽内壁的后侧镶嵌有与第一磁块磁力连接的第二磁块，该设计通过收集盒、密封板、第三把手、第一磁块和第二磁块的设置，便于使用者通过第一磁块与第二磁块的磁力连接使收集盒向后移动带动密封板向后侧移动与滑动密封板的正面紧密接触进行密封，防止外界灰尘进入，同时使用者向前拉动第三把手可带动密封板向前移动，密封板带动收集盒向前移动脱离放置槽，便于使用者将收集盒内部的残渣进行处理。4、本技术因滑动条的左侧和右侧均固定连接有滑动块，观察框的内壁开设有与滑动块滑动连接的滑动槽，该设计通过滑动块和滑动槽的设置，便于使用者通过滑动块和滑动槽的滑动连接使滑动条前后滑动稳定，放置滑动条上下晃动。5、本技术因滑动密封板的左侧和右侧均固定连接有滑条，观察框内壁的前侧开设有与滑条滑动连接的滑槽，该设计通过滑条和滑槽的设置，便于使用者通过滑条与滑槽的滑动连接使滑动密封板上下滑动稳定，防止滑动密封板前后倾斜。6、本技术因滑动密封板的底部固定连接有橡胶垫，滑动密封板的正面设置有定位销，滑动密封板真面的底部开设有与定位销间隙配合的定位孔，该设计通过橡胶垫提高滑动密封板的密封性，同时橡胶垫能够使滑动密封板向下滑动掉落时不会有摔损，使用者向上提拉第一把手带动滑动密封板向上移动，使滑动密封板的定位孔位于顶板的顶部，再将定位销插入定位孔的内部对滑动密封板的高度进行定位，同时使用者拔出定位销使滑动密封板失去高度定位向下掉落，通过橡胶垫进行缓冲下落的冲击。附图说明图1为本技术结构示意图；图2为本技术图1的右视局部剖面结构示意图；图3为本技术图1中A处的放大图；图4为本技术图2中B处的放大图。图中：1、实验天平本体；2、观察框；3、顶板；4、滑动密封板；5、清洁组件；51、滑动条；52、第二把手；53、清洁刷；6、第一把手；7、放置槽；8、收集组件；81、收集盒；82、密封板；83、第三把手；84、第一磁块；85、第二磁块；9、滑动块；10、滑动槽；11、滑条；12、滑槽；13、橡胶垫；14、定位销；15、定位孔。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1-4，一种实验天平，包括实验天平本体1，实验天平本体1的顶部固定连接有观察框2，观察框2的顶部固定连接有顶板3，观察框2的正面滑动安装有滑动密封板4，因滑动密封板4的左侧和右侧均固定连接有滑条11，观察框2内壁的前侧开设有与滑条11滑动连接的滑槽12，该设计通过滑条11和滑槽12的设置，便于使用者通过滑条11与滑槽12的滑动连接使滑动密封板4上下滑动稳定，防止滑动密封板4前后倾斜，因滑动密封板4的底部固定连接有橡胶垫13，滑动密封板4的正面设置有定位销14，滑动密封板4真面的底部开设有与定位销14间隙配合的定位孔15，该设计通过橡胶垫13提高滑动密封板4的密封性，同时橡胶垫13能够使滑动密封板4向下滑动掉落时不会有摔损，使用者向上提拉第一把手6带动滑动密封板4向上移动，使滑动密封板4的定位孔15位于顶板3的顶部，再将定位销14插入定位孔15的内部对滑动密封板4的高度进行定位，同时使用者拔出定位销14使滑动密封板4失去高度定位向下掉落，通过橡胶垫13进行缓冲下落的冲击，观察框2内壁底部的后侧滑动安装有清洁组件5，因清洁组件5包括滑动条51，滑动条51的顶部固定连接有第二把手52，滑动条51的底部固定连接有清洁刷53，清洁刷53的底部与实验天平本体1的顶部接触，该设计通过滑动条51、第二把手52和清洁刷53的设置，便于使用者通过握住第二把手52进行前后拉拽带动滑动条51前后滑动，滑动条51带动清洁刷53前后滑动将滞留在称台表面的残留物刷落至收集盒81的内部，因滑动条51本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种实验天平，包括实验天平本体(1)，其特征在于：所述实验天平本体(1)的顶部固定连接有观察框(2)，所述观察框(2)的顶部固定连接有顶板(3)，所述观察框(2)的正面滑动安装有滑动密封板(4)，所述观察框(2)内壁底部的后侧滑动安装有清洁组件(5)，所述滑动密封板(4)的顶部固定连接有第一把手(6)，所述实验天平本体(1)正面的顶部开设有放置槽(7)，所述放置槽(7)的内部设置有收集组件(8)。/n

【技术特征摘要】
1.一种实验天平，包括实验天平本体(1)，其特征在于：所述实验天平本体(1)的顶部固定连接有观察框(2)，所述观察框(2)的顶部固定连接有顶板(3)，所述观察框(2)的正面滑动安装有滑动密封板(4)，所述观察框(2)内壁底部的后侧滑动安装有清洁组件(5)，所述滑动密封板(4)的顶部固定连接有第一把手(6)，所述实验天平本体(1)正面的顶部开设有放置槽(7)，所述放置槽(7)的内部设置有收集组件(8)。


2.根据权利要求1所述的一种实验天平，其特征在于：所述清洁组件(5)包括滑动条(51)，所述滑动条(51)的顶部固定连接有第二把手(52)，所述滑动条(51)的底部固定连接有清洁刷(53)，所述清洁刷(53)的底部与实验天平本体(1)的顶部接触。


3.根据权利要求1所述的一种实验天平，其特征在于：所述收集组件(8)包括收集盒(81)，所述收集盒(81)的正面固定连接有密封板(82...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑东宏，
申请(专利权)人：广州宏睿仪器设备有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44