【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】非破坏检查方法
本专利技术涉及非破坏检查方法。
技术介绍
有想要使用种类不同的多个非破坏检查单元,来进行检查对象的检查,例如通过X射线拍摄装置(X射线塔尔博特拍摄装置等)和磁场分布测定装置来检查锂离子电池(以下为“LIB”)的情况。通过X射线拍摄,能够知道LIB内部的结构的故障、异物的有无、位置。另外,通过磁场分布测定,能够将LIB内部的电流分布可视化,并能够知道漏电电流的大小、漏电位置。在实际检查中,不单独地以各自的结果判断,需要将双方的检测结果组合多方面地进行判断。例如,存在即使通过X射线拍摄发现了异物,如果其未导致漏电,也认为没问题的情况。或者在有漏电的情况下,存在能够通过该部分的X射线拍摄掌握是什么原因等,能够对双方的检测结果进行组合来多方面地进行判断的情况。在基于种类不同的多个非破坏检查单元的检测结果多方面地进行判断的情况下,即使各个检测结果是单独的,也有样品的正反面、检测时的方向等检测时的检查对象的放置位置、每个装置的坐标的偏移(XY标度、正交度等)等,无法直接比较。在仅用记号笔标注标记等时,有在 ...
【技术保护点】
1.一种非破坏检查方法,其中,/n在使用种类不同的多个非破坏检查单元来检查检查对象时,/n在检查对象上固定地形成利用上述多个非破坏检查单元中的任何一个非破坏检查单元都能够检测的共用的标记之后,/n通过上述多个非破坏检查单元的每一个非破坏检查单元检测包含上述标记的检查对象,/n以上述标记为位置基准,彼此对照上述多个非破坏检查单元的检测结果。/n
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
【国外来华专利技术】20170919 JP 2017-1784971.一种非破坏检查方法,其中,
在使用种类不同的多个非破坏检查单元来检查检查对象时,
在检查对象上固定地形成利用上述多个非破坏检查单元中的任何一个非破坏检查单元都能够检测的共用的标记之后,
通过上述多个非破坏检查单元的每一个非破坏检查单元检测包含上述标记的检查对象,
以上述标记为位置基准,彼此对照上述多个非破坏检查单元的检测结果。
2.根据权利要求1所述的非破坏检查方法,其中,
在基于上述多个非破坏检查单元中的一个非破坏检查单元的检测结果确定出特殊位置之后,通过其它的非破坏检查单元集中地检测该特殊位置。
3.根据权利要求1或2所述的非破坏检查方法,其中,
在上述标记记录有位置基准以外的信息,从上述非破坏检查单元的检测结果读取该信息。
技术研发人员:今田昌宏,波多野卓史,关根孝二郎,土田匡章,八木司,
申请(专利权)人:柯尼卡美能达株式会社,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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