用于分析气体的方法和设备技术

本发明专利技术涉及一种用于分析气体的方法，其中，将含金属氧化物的敏感层(2)暴露在气体中，所述方法具有以下步骤：将所述敏感层(2)的温度从第一温度(T1)降低到第二温度(T2)，其中，使所述敏感层(2)的温度对于预给定的时间段(D2)基本上保持在所述第二温度；将所述敏感层(2)的温度升高到第三温度(T3)；在所述敏感层(2)基本上具有第三温度期间测量所述敏感层(2)的至少一个电阻值；根据所测量的至少一个电阻值来分析所述气体的成分。

Methods and equipment for gas analysis

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于分析气体的方法和设备
本专利技术涉及一种用于分析气体的方法和一种用于分析气体的设备。本专利技术尤其涉及用于探测含硫物质、挥发性有机物质或一氧化碳的方法和设备。这种探测可用于分析室内空气甚至呼吸空气——例如用于识别口臭、吸烟者的呼吸或呼吸中的乙醇。
技术介绍
具有金属氧化物的电半导体根据周围气体的组成而改变其电导率。因此，特定的化合物可以通过吸附而沉积在半导体上，由此改变半导体的电导率。通过测量电导率或电阻可以由此推断出周围气体中的物质。由文献DE102005009246A1已知一种示例性传感器，其中，将电荷使用和分析处理作为用于存在于传感器的周围环境气氛中的可氧化或可还原的气体或蒸气的浓度的量度。
技术实现思路
本专利技术提供一种具有权利要求1的特征的用于分析气体的方法以及一种具有权利要求10的特征的用于分析气体的设备。根据第一方面，本专利技术相应地涉及一种用于分析气体的方法，其中，将含金属氧化物的敏感层暴露在气体中。将敏感层的温度从第一温度降低到第二温度，其中，将敏感层的温度对于预给定的时间段基本上保持在第二温本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于分析气体的方法，其中，将含金属氧化物的敏感层(2)暴露在气体中，所述方法具有以下步骤：/n将所述敏感层(2)的温度从第一温度降低到第二温度，其中，将所述敏感层(2)的温度对于预给定的时间段基本上保持在所述第二温度；/n将所述敏感层(2)的温度升高到第三温度；/n在所述敏感层基本上具有所述第三温度期间，测量所述敏感层(2)的至少一个电阻值；/n根据所测量的至少一个电阻值来分析所述气体的成分。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170905 DE 102017215529.91.一种用于分析气体的方法，其中，将含金属氧化物的敏感层(2)暴露在气体中，所述方法具有以下步骤：
将所述敏感层(2)的温度从第一温度降低到第二温度，其中，将所述敏感层(2)的温度对于预给定的时间段基本上保持在所述第二温度；
将所述敏感层(2)的温度升高到第三温度；
在所述敏感层基本上具有所述第三温度期间，测量所述敏感层(2)的至少一个电阻值；
根据所测量的至少一个电阻值来分析所述气体的成分。


2.根据权利要求1所述的方法，其中，在测量所述敏感层(2)的至少一个电阻值期间，将所述敏感层(2)的温度对于预给定的时间段基本上保持在所述第三温度。


3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，求取所述电阻的时间变化过程，并且进一步根据所述电阻的时间变化过程执行对所述气体的成分的分析。


4.根据权利要求3所述的方法，其中，根据所述电阻的时间变化过程，求取硫化合物的存在和/或浓度，和/或求取有机化合物的存在和/或浓度，和/或求取一氧化碳的存在和/或浓度。


5.根据权利要求3或4中任一项所述的方法，其中，在所述敏感层(2)具有所述第一温度期间进一步求取所述敏感层(2)的至少一个电阻值，其中，在使用在所述第一温度下的至少一个电阻值与在所述第三温度下的至少一个电阻值的比较的情...

【专利技术属性】
技术研发人员：P·诺尔特，C·布吕泽，M·马蒂内普拉达，T·克劳斯，
申请(专利权)人：罗伯特·博世有限公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE