一种可控硅调光器检测装置、电路及其检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种可控硅调光器检测装置、电路及其检测方法，所述可控硅调光器检测电路包括整流桥、泄放模块、检测模块和负载；整流桥输出线电压至泄放模块和负载；泄放模块根据线电压输出采样信号至检测模块，并在线网中设置有可控硅调光器时为其提供泄放电流；检测模块根据采样信号与预设信号确定线网未设置可控硅调光器时，控制泄放模块关断，当确定线网有设置可控硅调光器时，控制泄放模块持续导通，采样信号的电压在线电压大于泄放模块的启动电压时恒定，在线电压小于所述启动电压时随线电压减小，进而实现了检测可控硅调光器的有无，以达到节约能耗的目的；同时，可有效避免检测结果受线网波动的影响并降低了成本。

A testing device, circuit and testing method of thyristor dimmer

【技术实现步骤摘要】
一种可控硅调光器检测装置、电路及其检测方法
本专利技术涉及LED照明
，特别涉及一种可控硅调光器检测装置、电路及其检测方法。
技术介绍
随着LED照明的普及，LED灯逐渐替换白炽灯，白炽灯的使用环境中有些有可控硅调光器，用于调整白炽灯的亮度，有些无可控硅调光器。当有可控硅调光器时，LED灯需额外增加泄放电路，用于产生泄放电流来维持可控硅调光器正常工作。当无可控硅调光器时，如果泄放电路中的泄放电流依旧存在，将会降低灯具的效率，增加不必要的能源损耗。这就需要可控硅调光器检测电路，用于检测用电环境中是否接入可控硅调光器，根据检测结果来开启或关断泄放电流。传统可控硅调光器检测方法中均需要使用分压电阻来采样整流桥输出的线电压，通过计算采样结果来判断线网中是否有可控硅调光器，但是现有的检测方法中存在以下问题：首先，LED灯板使用的PCB为单层板，分压电阻造成高成本及PCB布线困难；其次，高压用电环境及功耗原因，分压电阻取值大，大阻值及高压都不易于芯片集成；再次，芯片需增加一个PAD与分压电阻连接，成本增加，PCB布线困难；最后，随着线网电压的变化，容易引起误判，导致不该开启泄放电流时开启，浪费能源，该开启时不开启，导致可控硅调光器工作不正常，引起LED灯闪烁。因而现有技术还有待改进和提高。
技术实现思路
鉴于上述现有技术的不足之处，本专利技术的目的在于提供一种可控硅调光器检测装置、电路及其检测方法，能够检测可控硅调光器的有无，相应开启或关断泄放电流，达到节约能耗的目的；同时还能够有效避免检测结果受线网波动的影响；可集成，更容易走线，降低了成本。为了达到上述目的，本专利技术采取了以下技术方案：一种可控硅调光器检测电路，包括整流桥、泄放模块、检测模块和负载；所述整流桥用于将输入的交流电整流后输出线电压至所述泄放模块和所述负载；所述泄放模块用于根据所述线电压输出采样信号至所述检测模块，并在线网中设置有可控硅调光器时为所述可控硅调光器提供泄放电流；所述检测模块用于根据所述采样信号与预设信号确定所述线网设置有可控硅调光器时，控制所述泄放模块持续导通，当所述线网未设置所述可控硅调光器时，控制所述泄放模块关断，所述采样信号的电压在所述线电压大于所述泄放模块的启动电压时恒定，在所述线电压小于所述启动电压时随所述线电压减小。所述的可控硅调光器检测电路中，所述检测模块包括比较器、计时器和判断单元；所述比较器用于将所述采样信号与参考信号进行比较后输出比较信号至所述计时器，所述计时器用于对所述比较信号进行计时后输出计时信号至所述判断单元；所述判断单元用于判断出所述计时信号大于所述预设信号时，则确定所述线网未设置可控硅调光器，控制所述泄放模块关断，当判断出所述计时信号小于所述预设信号时，则确定所述线网设置有可控硅调光器，控制所述泄放模块持续导通。所述的可控硅调光器检测电路中，所述检测模块包括比较器、计时器、判断单元和滤波单元；所述比较器用于将所述采样信号与参考信号进行比较后输出比较信号至所述判断单元；所述滤波单元用于对所述比较信号进行滤波处理；所述判断单元在所述计时器的预设计时时间内，当判断出所述比较信号大于所述预设信号时，则确定所述线网未设置可控硅调光器，控制所述泄放模块关断，当判断出所述比较信号小于所述预设信号时，则确定所述线网设置有可控硅调光器，控制所述泄放模块持续导通。所述的可控硅调光器检测电路中，所述泄放模块包括第一运算放大器、第一MOS管、第一电阻和第一参考电压源；所述第一运算放大器的输出端连接所述第一MOS管的栅极，所述第一MOS管的源极连接所述第一电阻的一端、所述第一运算放大器的反相输入端和所述检测模块，所述第一运算放大器的正相输入端连接所述第一参考电压源的正极，所述第一电阻的另一端和所述第一参考电压源接地，所述第一MOS管的漏极连接所述整流桥。所述的可控硅调光器检测电路中，所述负载包括LED灯串、第二MOS管、第二电阻、第二运算放大器和第二参考电压源；所述LED灯串的输入端连接所述整流桥，所述LED灯串的输出端连接所述第二MOS管的漏极，所述第二MOS管的源极连接所述第二运算放大器的反相输入端和所述第二电阻的一端，所述第二电阻的另一端和所述第二参考电压源的负极均接地；所述第二运算放大器的正相输入端连接所述第二参考电压源的正极。所述的可控硅调光器检测电路中，所述负载包括LED灯串、第一二极管、第一电容、第二电容、第二二极管、第三电阻、电感和恒流驱动芯片；所述LED灯串的输入端、所述第二电容的一端、所述第二二极管的负极和所述第一电容的一端均连接所述第一二极管的负极，所述第一二极管的正极连接所述整流桥；所述第二二极管的正极和所述电感的一端连接所述恒流驱动芯片的第1脚，所述电感的另一端连接所述第二电容的另一端和所述LED灯串的负极；所述第一电容的另一端和所述第三电阻的一端均接地，所述第三电阻的另一端连接所述恒流驱动芯片的第2脚。所述的可控硅调光器检测电路中，所述滤波单元包括第三电容，所述第三电容的一端连接所述比较器和所述判断单元，所述第三电容的另一端接地。一种基于如上所述的可控硅调光器检测电路的检测方法，包括如下步骤：所述整流桥将输入的交流电整流后输出线电压至所述泄放模块和所述负载；所述泄放模块根据所述线电压输出采样信号至所述检测模块，并在线网中设置有可控硅调光器时为所述可控硅调光器提供泄放电流；所述检测模块将所述采样信号与预设信号进行比较，并根据比较结果确定所述线网未设置可控硅调光器时，控制所述泄放模块关断，当确定所述线网设置有所述可控硅调光器时，控制所述泄放模块持续导通。一种可控硅调光器检测装置，包括外壳，所述外壳内设置有PCB板，其特征在于，所述PCB板上设置有如上所述可控硅调光器检测电路。相较于现有技术，本专利技术提供的一种可控硅调光器检测装置、电路及其检测方法，所述可控硅调光器检测电路包括整流桥、泄放模块、检测模块和负载；所述整流桥用于将输入的交流电整流后输出线电压至所述泄放模块和负载；所述泄放模块用于根据所述线电压输出采样信号至所述检测模块，并在线网中设置有可控硅调光器时为所述可控硅调光器提供泄放电流；所述检测模块用于根据所述采样信号与预设信号确定所述线网未设置可控硅调光器时，控制所述泄放模块关断，当确定所述线网设置有所述可控硅调光器时，控制所述泄放模块持续导通，其中，所述采样信号的电压在所述线电压大于所述泄放模块的启动电压时恒定，在所述线电压小于所述泄放模块的启动电压时随所述线电压减小，由此实现了检测可控硅调光器的有无，以达到节约能耗的目的；同时，可有效避免检测结果受线网波动的影响并降低了成本。附图说明图1为本专利技术提供的可控硅调光器检测电路的结构框图；图2为本专利技术提供的可控硅调光器检测电路中第一实施例的电路原理图；图3为本专利技术提供的可控硅调光器检测电路中第一实施例的线电压和采样信号的波形图；图4为本专利技术提供的可控硅调光器检测电路中第二实施例的电路原理图；图5为本专利技术提供的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可控硅调光器检测电路，其特征在于，包括整流桥、泄放模块、检测模块和负载；所述整流桥用于将输入的交流电整流后输出线电压至所述泄放模块和所述负载；所述泄放模块用于根据所述线电压输出采样信号至所述检测模块，并在线网中设置有可控硅调光器时为所述可控硅调光器提供泄放电流；所述检测模块用于根据所述采样信号与预设信号确定所述线网设置有可控硅调光器时，控制所述泄放模块持续导通，当确定所述线网未设置所述可控硅调光器时，控制所述泄放模块关断；所述采样信号的电压在所述线电压大于所述泄放模块的启动电压时恒定，在所述线电压小于所述泄放模块的启动电压时随所述线电压减小。/n

【技术特征摘要】
1.一种可控硅调光器检测电路，其特征在于，包括整流桥、泄放模块、检测模块和负载；所述整流桥用于将输入的交流电整流后输出线电压至所述泄放模块和所述负载；所述泄放模块用于根据所述线电压输出采样信号至所述检测模块，并在线网中设置有可控硅调光器时为所述可控硅调光器提供泄放电流；所述检测模块用于根据所述采样信号与预设信号确定所述线网设置有可控硅调光器时，控制所述泄放模块持续导通，当确定所述线网未设置所述可控硅调光器时，控制所述泄放模块关断；所述采样信号的电压在所述线电压大于所述泄放模块的启动电压时恒定，在所述线电压小于所述泄放模块的启动电压时随所述线电压减小。


2.根据权利要求1所述的可控硅调光器检测电路，其特征在于，所述检测模块包括比较器、计时器和判断单元；所述比较器用于将所述采样信号与参考信号进行比较后输出比较信号至所述计时器，所述计时器用于对所述比较信号进行计时后输出计时信号至所述判断单元；所述判断单元用于判断出所述计时信号大于所述预设信号时，则确定所述线网未设置可控硅调光器，控制所述泄放模块关断，当判断出所述计时信号小于所述预设信号时，则确定所述线网设置有可控硅调光器，控制所述泄放模块持续导通。


3.根据权利要求1所述的可控硅调光器检测电路，其特征在于，所述检测模块包括比较器、计时器、判断单元和滤波单元；所述比较器用于将所述采样信号与参考信号进行比较后输出比较信号至所述判断单元；所述滤波单元用于对所述比较信号进行滤波处理；所述判断单元在所述计时器的预设计时时间内，当判断出所述比较信号大于所述预设信号时，则确定所述线网未设置可控硅调光器，控制所述泄放模块关断，当判断出所述比较信号小于所述预设信号时，则确定所述线网设置有可控硅调光器，控制所述泄放模块持续导通。


4.根据权利要求1所述的可控硅调光器检测电路，其特征在于，所述检测模块包括计时器和判断单元；所述计时器用于对所述采样信号进行计时后输出计时信号至所述判断单元；所述判断单元用于判断出所述计时信号大于所述预设信号时，则确定所述线网未设置可控硅调光器，控制所述泄放模块关断；当判断出所述计时信号小于所述预设信号时，则确定所述线网设置有可控硅调光器，控制所述泄放模块持续导通。


5.根据权利要求1所述的可控硅调光器检测电路，其特征在于，所述泄放模块包括第一运算放大器、第一MOS管、第一电阻和第一参考电压源；所述第一运算放大器的输出端连接所...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶羽安，王文攀，麦炎全，
申请(专利权)人：深圳市晟碟半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44