【技术实现步骤摘要】
一种非接触式测量圆柱度仪器及测量方法
本专利技术属于测量设备
，尤其涉及一种非接触式测量圆柱度仪器及测量方法。
技术介绍
目前，业内常用的现有技术是这样的：圆柱度是指任意垂直截面最大尺寸与最小尺寸差为圆柱度，圆柱度误差包含了轴剖面和横剖面两个方面的误差。圆柱度的公差带是两同轴圆柱面间的区域，该两同轴圆柱面间的径向距离即为公差值。现有测量圆柱度的方法有两点法、三点法、三坐标测量法等。两点法：测出各给定横截面内零件回转一周过程指示表的最大示值与最小示值的一半作为圆柱度误差值。三点法：测出各给定横截面内零件回转一周过程指示表的最大示值与最小示值的一半作为圆柱度误差值。三坐标测量法：在三坐标测量机上按要求测量被测零件各横截面轮廓各测点的坐标值，再利用相应的计算机软件计算圆柱度误差值。现有的圆柱都测量法，都是通过旋转被测工件，测量工具固定的方式来测量的。对于大尺寸的工件测量就显得尤为不方便，还有在旋转被测工件时的轴线跳动会影响测量的精度。综上所述，现有技术存在的问题是：现有的圆柱都测量法对于大尺寸的工件测...
【技术保护点】
1.一种非接触式测量圆柱度仪器的测量方法，其特征在于，所述非接触式测量圆柱度仪器的测量方法包括以下步骤：/n步骤一，激光位移传感器测量工件表面与测量框架的距离，通过1号步进电机旋转带动同步带进而带动激光位移传感器沿直线导轨移动；并同步记录激光位移传感器的激光位移数据，对记录的激光位移传感器的数据进行融合出第一测量点的截面轮廓点云；/n步骤二，2号步进电机旋转带动同步带进而带动测量架移动到第二测量点，重复步骤一上述测量动作得出第二测量点的截面轮廓点云；/n步骤三，移动测量架到第三测量点重复步骤二测量动作得出第三测量点的截面轮廓点云；/n步骤四，在测量完第一测量点、第二测量点、...
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
1.一种非接触式测量圆柱度仪器的测量方法，其特征在于，所述非接触式测量圆柱度仪器的测量方法包括以下步骤：
步骤一，激光位移传感器测量工件表面与测量框架的距离，通过1号步进电机旋转带动同步带进而带动激光位移传感器沿直线导轨移动；并同步记录激光位移传感器的激光位移数据，对记录的激光位移传感器的数据进行融合出第一测量点的截面轮廓点云；
步骤二，2号步进电机旋转带动同步带进而带动测量架移动到第二测量点，重复步骤一上述测量动作得出第二测量点的截面轮廓点云；
步骤三，移动测量架到第三测量点重复步骤二测量动作得出第三测量点的截面轮廓点云；
步骤四，在测量完第一测量点、第二测量点、第三测量点后，将三个截面的点云连线，判断三点是否在一条直线上，不在一条直线判断误差是否大于0.5mm，若大于则舍弃，小于则进行拟合。
2.如权利要求1所述的非接触式测量圆柱度仪器的测量方法，其特征在于，步骤一中，通过1号步进电机带动直线导轨的滑块，使四个激光位移传感器进行直线运动，并同步记录四个激光位移的数据，对记录的四个激光位移数据进行点云合成，得到第一测量点圆柱体的截面图形。
3.如权利要求1所述的非接触式测量圆柱度仪器的测量方法，其特征在于，步骤三中，第一测量点～第三测量点的间距最小2mm。
技术研发人员：郝卫东，王瑞卿，杨道国，颜京森，曹冬旺，谭朝全，靳晶森，
申请(专利权)人：桂林电子科技大学，
类型：发明
国别省市：广西;45
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