【技术实现步骤摘要】
一种光源控制设备及方法
本专利技术涉及光谱分析技术，特别涉及一种光源控制设备及方法。
技术介绍
采用光谱法对待测物质进行光谱分析时，如果使用光强固定的光源照射所述待测物质时，往往容易使得透过所述待测物质的出射光要么很弱，要么很强。若出射光很弱，则会造成光谱仪无法采集到该出射光；若出射光很强，则会导致采集该出射光的光谱仪达到饱和。另外，如果使用光斑固定的光源照射所述待测物质时，若所述待测物质中存在吸收不均匀的物质，则会导致出射光的均匀性较差，进而降低光谱分析的精度。因此，亟需找到一种能够调整照射到待测物质上的光源的光参数的技术方案。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服现有技术中的不足，提供一种光源控制设备及方法，实现自动调整透射至所述目标物体上的光强和/或光斑大小。本专利技术所采用的技术方案是：一种光源控制设备，包括光源组件、遮光筒、第三透镜、第四透镜、分光组件、图像采集组件和处理器；其中，所述光源组件，用于将发射光源转换为点光源；所述光源组件设置在所述遮光筒内；所述第三透...
【技术保护点】
1.一种光源控制设备，其特征在于，包括光源组件(11)、遮光筒(12)、第三透镜(13)、第四透镜(14)、分光组件(15)、图像采集组件(16)和处理器(17)；其中，/n所述光源组件(11)，用于将发射光源转换为点光源；所述光源组件(11)设置在所述遮光筒(12)内；/n所述第三透镜(13)，用于将所述点光源发出的光转换为平行光；/n所述第四透镜(14)，用于将经过所述第三透镜(13)得到的所述平行光透射至所述分光组件(15)；/n所述分光组件(15)，用于将经过所述第四透镜(14)的所述平行光分成第一路光束和第二路光束，并将所述第一路光束透射至目标物体上，将所述第二路...
【技术特征摘要】
1.一种光源控制设备，其特征在于，包括光源组件(11)、遮光筒(12)、第三透镜(13)、第四透镜(14)、分光组件(15)、图像采集组件(16)和处理器(17)；其中，
所述光源组件(11)，用于将发射光源转换为点光源；所述光源组件(11)设置在所述遮光筒(12)内；
所述第三透镜(13)，用于将所述点光源发出的光转换为平行光；
所述第四透镜(14)，用于将经过所述第三透镜(13)得到的所述平行光透射至所述分光组件(15)；
所述分光组件(15)，用于将经过所述第四透镜(14)的所述平行光分成第一路光束和第二路光束，并将所述第一路光束透射至目标物体上，将所述第二路光束反射至所述图像采集组件(16)上；
所述图像采集组件(16)，用于对所述第二路光束进行采集，得到图像；
所述处理器(17)，用于提取所述图像中的特征数据；基于提取的特征数据，确定所述第二路光束的光参数；基于所述第二路光束的光参数，调整透射至所述目标物体上的所述第一路光束的光参数。
2.根据权利要求1所述的一种光源控制设备，其特征在于，所述光源组件(11)包括：
第一透镜(110)，用于将发射光源发出的光转换为平行光；
第二透镜(111)，用于对经过所述第一透镜(110)得到的所述平行光进行汇聚，得到汇聚后的光；以及，
光阑(112)，用于将汇聚后的光通过光阑孔径形成点光源；其中，
所述第一透镜(110)、所述第二透镜(111)和所述光阑(112)设置在所述遮光筒(12)内。
3.根据权利要求2所述的一种光源控制设备，其特征在于，所述光阑(112)接收孔径调整指令，响应所述孔径调整指令，将所述光阑孔径由第一孔径调整为第二孔径，并通过所述第二孔径将汇聚后的光形成点光源。
4.根据权利要求1所述的一种光源控制设备，其特征在于，所述光参数包括：光强和/或光斑。
5.根据权利要求4所述的一种光源控制设备，其特征在于，所述处理器(17)将所述第二路光束的光参数值与预设阈值进行比较，得到比较结果；基于所述比较结果，调整透射至所述目标物体上的所述第一路光束的光参数。
6.根据权利要求5所述的一种光源控制设备，其特征在于，所述处理器(17)基于提取的特征数据，确定所述第二路光束的光斑参...
【专利技术属性】
技术研发人员：林凌，侯星卫，张梦秋，李刚，
申请(专利权)人：天津大学，
类型：发明
国别省市：天津;12
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